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公開番号
2025131276
公報種別
公開特許公報(A)
公開日
2025-09-09
出願番号
2024028919
出願日
2024-02-28
発明の名称
ディスプレイ光計測装置及び光計測方法並びにプログラム
出願人
コニカミノルタ株式会社
代理人
個人
主分類
G01J
1/44 20060101AFI20250902BHJP(測定;試験)
要約
【課題】積分回路の積分コンデンサの残留電荷による誤差を抑制できるディスプレイ光計測装置と計測方法、並びにプログラムを提供する。
【解決手段】光センサ41~43と、積分コンデンサを有し、前記光センサから出力された電荷を蓄積する積分回路51~53と、光センサへの入射光量を制限する光量制限手段90と、光量を制限するように光量制限手段90を作動させる契機となるトリガ信号を検出するトリガ検出手段93と、計測動作を行うことの指令を受け付ける受付手段7と、トリガ信号の検出に基づいて光量を制限するように光量制限手段90を作動させるとともに、受け付けられた計測動作の指令に基づいて光量制限手段90による光量制限を解除する制御手段7を備えている。
【選択図】図3
特許請求の範囲
【請求項1】
光センサと、
積分コンデンサを有し、前記光センサから出力された電荷を蓄積する積分回路と、
前記光センサへの光量を制限可能な光量制限手段と、
光量を制限するように前記光量制限手段を作動させる契機となるトリガ信号を検出するトリガ検出手段と、
計測動作を行うことの指令を受け付ける受付手段と、
前記トリガ検出手段によるトリガ信号の検出に基づいて光量を制限するように前記光量制限手段を作動させるとともに、前記受付手段により受け付けられた計測動作の指令に基づいて前記光量制限手段による光量制限を解除する制御手段と、
を備えたことを特徴とするディスプレイ光計測装置。
続きを表示(約 1,600 文字)
【請求項2】
前記トリガ信号は、ユーザーがディスプレイ光計測装置を作動させるためにディスプレイ光計測装置に対して行った操作をトリガとして生じる信号である請求項1に記載のディスプレイ光計測装置。
【請求項3】
光センサと、
積分コンデンサを有し、前記光センサから出力された電荷を蓄積する積分回路と、
前記光センサへの光量を制限可能な光量制限手段と、
計測動作を行うことの指令を受け付ける受付手段と、
前記受付手段により受け付けられた計測動作の指令に基づいて前記光量制限手段による制限を解除するとともに、計測動作の終了時に光量を制限するように前記光量制限手段を作動させる制御手段と、
を備えたことを特徴とするディスプレイ光計測装置。
【請求項4】
光センサと、
積分コンデンサを有し、前記光センサから出力された電荷を蓄積する積分回路と、
前記光センサへの光量を制限可能な光量制限手段と、
ディスプレイ光計測装置の作動停止の契機となるトリガ信号を検出するトリガ検出手段と、
計測動作を行うことの指令を受け付ける受付手段と、
前記受付手段により受け付けられた計測動作の指令に基づいて前記光量制限手段による制限を解除するとともに、前記トリガ検出手段によるトリガ信号の検出に基づいて光量を制限するように前記光量制限手段を作動させる制御手段と、
を備えたことを特徴とするディスプレイ光計測装置。
【請求項5】
前記トリガ信号は、ユーザーがディスプレイ光計測装置の作動を停止させるためにディスプレイ光計測装置に対して行った操作をトリガとして生じる信号である請求項4に記載のディスプレイ光計測装置。
【請求項6】
光センサと、
積分コンデンサを有し、前記光センサから出力された電荷を蓄積する積分回路と、
前記光センサへの光量を制限可能な光量制限手段と、
ゼロ校正を行う校正手段と、
計測動作を行うことの指令を受け付ける受付手段と、
前記受付手段により受け付けられた計測動作の指令に基づいて行われる計測動作の終了時、及びゼロ校正の終了時に、光量を制限するように前記光量制限手段を作動させる制御手段と、
を備えたことを特徴とするディスプレイ光計測装置。
【請求項7】
光センサと、
積分コンデンサを有し、前記光センサから出力された電荷を蓄積する積分回路と、
前記光センサへの光量を制限可能な光量制限手段と、
ゼロ校正を行う校正手段と、
計測動作を行うことの指令を受け付ける受付手段と、
前記受付手段により受け付けられた計測動作の指令に基づいてゼロ校正値を取得するとともに、ゼロ校正値の取得終了時に前記光量制限手段による制限を解除し、かつ計測動作を開始させる制御手段と、
を備えたことを特徴とするディスプレイ光計測装置。
【請求項8】
前記制御手段は、前記受付手段による前記指令の受付に基づいて前記光量制限手段による光量制限を解除するとともに、計測動作の終了時に光量を制限するように前記光量制限手段を作動させる請求項1または4に記載のディスプレイ光計測装置。
【請求項9】
前記光量制限手段は複数個であり、前記制御部は、光量制限動作及び制限解除動作を、特定の光量制限手段に限定しない請求項1~7の何れかに記載のディスプレイ光計測装置。
【請求項10】
前記光量制限手段による光量制限の有無をユーザーが選択可能である請求項1~7の何れかに記載のディスプレイ光計測装置。
(【請求項11】以降は省略されています)
発明の詳細な説明
【技術分野】
【0001】
この発明は、ディスプレイの輝度や色等を計測するディスプレイ光計測装置と光計測方法、並びにプログラムに関する。
続きを表示(約 1,100 文字)
【背景技術】
【0002】
上記のような光計測装置として、例えば、ディスプレイカラーアナライザー(一例としてコニカミノルタ株式会社製のCA-410)が知られている。このようなディスプレイカラーアナライザーは、内部に分光応答度と等価な光センサを備え、刺激値を取得する。
【0003】
刺激値の取得には、大きく2種類の方式、つまり瞬時値を取得する逐次取得方式と、決められた時間の積分値を取得する積分取得方式がある。逐次取得方式は高速性に優れるが、高S/Nを実現しながら、低輝度から高輝度までをワイドに計測する手段として、積分回路が好適であり、広く使われている。特に近年では、暗電流や回路ノイズに対する低減化技術が進歩してきていることから、積分回路は長時間の積分が可能となりつつある。より微弱な光電流を扱える様になるので、低輝度域性能の更なる向上が期待されている。
【0004】
特許文献1には、上記のような積分回路を備え、ダイナミックレンジが大きくS/N比が改善された光検出装置が開示されている。
【0005】
また、特許文献2には、コストアップすることなく広域かつ高S/N比での輝度計測が可能な光検出装置が開示されている。
【0006】
ところで、光センサの暗電流および回路の持つオフセットによって生じる計測誤差を抑制する手法として、ゼロ校正がある。
【0007】
ゼロ校正は、指標値をゼロ値にすべき状態での出力値(ゼロ校正値)を用意しておき、光計測時の出力値(光路が開いた状態で取得)からゼロ校正値を減算する処理である。
【0008】
ゼロ校正値は、光センサに対して光路を閉じた遮光状態において取得した出力値である暗時出力値から生成する。暗時出力値は、光計測時に使用する測光条件(例えば積分時間や積分回路の容量(回路ゲイン))に対応したゼロ校正値を生成できるような条件で取得する。
【0009】
例えば回路ゲインを複数持つシステムの場合であれば、それぞれの回路ゲインに対応したゼロ校正値が必要となるので、取得するべき暗時出力値もおのずと複数条件となる。基本的には回路ゲイン毎に暗時出力を取得するが、複数の回路ゲインで共通化できるのであれば取得条件数を削減できる。
【0010】
積分時間についても回路ゲインと同様であり、光計測時の測光条件に対応したゼロ校正値を生成できる様な条件で取得する必要がある。必ずしも同一測光条件にする必要は無く、誤差を無視できるようなほぼ等しい値が取得されればよい。
(【0011】以降は省略されています)
この特許をJ-PlatPat(特許庁公式サイト)で参照する
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