TOP特許意匠商標
特許ウォッチ Twitter
公開番号2025085527
公報種別公開特許公報(A)
公開日2025-06-05
出願番号2023199461
出願日2023-11-24
発明の名称電子機器、電子機器の制御方法、及びプログラム
出願人京セラ株式会社
代理人個人,個人,個人
主分類G01S 7/40 20060101AFI20250529BHJP(測定;試験)
要約【課題】波動の送受信によって振動体の振動を良好な精度で検出し得る電子機器、電子機器の制御方法、及びプログラムを提供する。
【解決手段】校正係数メモリに記憶された校正情報を用いて、対象物から反射した電磁波に基づいて対象物の振動を測定する電子機器の制御方法は、基準振動体の振動を測定した結果に基づいて、電子機器の測定結果を校正する校正ステップを備える。
【選択図】図2
特許請求の範囲【請求項1】
記憶部に記憶された校正情報を用いて、対象物から反射した電磁波に基づいて前記対象物の振動を測定する電子機器の制御方法であって、
基準振動体の振動を測定した結果に基づいて、前記電子機器の測定結果を校正する校正ステップを備える、電子機器の制御方法。
続きを表示(約 710 文字)【請求項2】
前記校正ステップは、前記基準振動体の振動を前記電子機器とは異なる他の振動計によって測定した結果に基づいて、前記電子機器の測定結果を校正する、請求項1に記載の制御方法。
【請求項3】
前記校正ステップは、
前記基準振動体の特定点の変位周波数応答と、当該変位周波数応答の位置で平均した位置平均周波数応答との比を数値解析によって算出する第1算出ステップと、
前記基準振動体の特定測定点の振動である特定点振動の計測を、基準検査装置を用いて行う計測ステップと、
前記比及び前記特定点振動に基づいて、前記基準振動体の平均振動変位のリファレンスを算出する第2算出ステップと、
を含む、請求項1に記載の制御方法。
【請求項4】
前記校正ステップは、
前記平均振動変位のリファレンスと、前記電子機器で測定した前記基準振動体の特変位周波数応答とに基づいて、前記電子機器の測定結果を校正する、請求項2に記載の制御方法。
【請求項5】
記憶部に記憶された校正情報を用いて、対象物から反射した電磁波に基づいて前記対象物の振動を測定する電子機器に、
基準振動体の振動を測定した結果に基づいて、前記電子機器の測定結果を校正する校正ステップを実行させる、プログラム。
【請求項6】
記憶部に記憶された校正情報を用いて、対象物から反射した電磁波に基づいて前記対象物の振動を測定する信号処理部と、
基準振動体の振動を測定した結果に基づいて、前記電子機器の測定結果を校正する補正処理部と、
を備える、電子機器。

発明の詳細な説明【技術分野】
【0001】
本開示は、電子機器、電子機器の制御方法、及びプログラムに関する。
続きを表示(約 1,300 文字)【背景技術】
【0002】
例えば自動車に関連する産業などの分野において、自車両と所定の物体との間の距離などを測定する技術が重要視されている。特に、近年、ミリ波のような電波を送信し、障害物などの物体に反射した反射波を受信することで、物体との間の距離などを測定するレーダ(RADAR(Radio Detecting and Ranging))の技術が、種々研究されている。このような距離などを測定する技術の重要性は、運転者の運転をアシストする技術、及び、運転の一部又は全部を自動化する自動運転に関連する技術の発展に伴い、今後ますます高まると予想される。ミリ波のような電波の送受信によって、物体を検出する各種の技術が提案されている。例えば特許文献1は、電波反射が存在する空間における検出対象の検出精度を向上し得る技術を提案している。
【0003】
また、上述のようなレーダの技術を用いることにより、特定の振動源の位置の振動に関する情報を取得する技術も提案されている(例えば特許文献2)。
【先行技術文献】
【特許文献】
【0004】
特開2021-196195号公報
特開2023-108329号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【0005】
例えばミリ波のような波動の送受信によって、振動体の振動を良好な精度で検出できれば、多種多様な分野において役立つことが期待できる。
【0006】
本開示の目的は、波動の送受信によって振動体の振動を良好な精度で検出し得る電子機器、電子機器の制御方法、及びプログラムを提供することにある。
【課題を解決するための手段】
【0007】
一実施形態に係る制御方法は、
記憶部に記憶された校正情報を用いて、対象物から反射した電磁波に基づいて前記対象物の振動を測定する電子機器の制御方法であって、
基準振動体の振動を測定した結果に基づいて、前記電子機器の測定結果を校正する校正ステップを備える。
【0008】
一実施形態に係るプログラムは、
記憶部に記憶された校正情報を用いて、対象物から反射した電磁波に基づいて前記対象物の振動を測定する電子機器に、
基準振動体の振動を測定した結果に基づいて、前記電子機器の測定結果を校正する校正ステップを実行させる。
【0009】
一実施形態に係る電子機器は、
記憶部に記憶された校正情報を用いて、対象物から反射した電磁波に基づいて前記対象物の振動を測定する信号処理部と、
基準振動体の振動を測定した結果に基づいて、前記電子機器の測定結果を校正する補正処理部と、
を備える。
【発明の効果】
【0010】
一実施形態によれば、波動の送受信によって振動体の振動を良好な精度で検出し得る電子機器、電子機器の制御方法、及びプログラムを提供することができる。
【図面の簡単な説明】
(【0011】以降は省略されています)

この特許をJ-PlatPatで参照する

関連特許

京セラ株式会社
構造体
24日前
京セラ株式会社
照明装置
23日前
京セラ株式会社
電磁波抑制材料
3日前
京セラ株式会社
制御装置及び制御方法
1か月前
京セラ株式会社
積層セラミックコンデンサ
29日前
京セラ株式会社
配線基板および半導体デバイス
1か月前
京セラ株式会社
配線基板および半導体デバイス
1か月前
京セラ株式会社
電源制御装置及び電源制御方法
3日前
京セラ株式会社
電源制御装置及び電源制御方法
3日前
京セラ株式会社
ボールトライアル、および手術器具システム
1か月前
京セラ株式会社
電子機器、電子機器の制御方法、及びプログラム
1か月前
京セラ株式会社
電子機器、電子機器の制御方法、及びプログラム
1日前
京セラ株式会社
観察装置
1か月前
京セラ株式会社
照明装置
17日前
京セラ株式会社
印刷装置
28日前
京セラ株式会社
複素誘電率の測定装置、複素誘電率の測定方法および共振器
4日前
京セラ株式会社
積層型電子部品
10日前
京セラ株式会社
情報処理システム、情報処理装置、情報処理方法、及びプログラム
22日前
京セラ株式会社
情報処理システム、情報処理装置、情報処理方法、及びプログラム
22日前
京セラ株式会社
発光素子の製造方法
1か月前
京セラ株式会社
コネクタ及び電子機器
24日前
京セラ株式会社
配線板および電子装置
3日前
京セラ株式会社
電気化学セル、電気化学セル装置、モジュールおよびモジュール収容装置
今日
京セラ株式会社
電気化学セル、電気化学セル装置、モジュールおよびモジュール収容装置
23日前
京セラ株式会社
インクジェット記録装置
3日前
京セラ株式会社
半導体デバイスの製造方法
10日前
京セラ株式会社
電子機器およびプログラム
1か月前
京セラ株式会社
光モジュール及び光通信デバイス
1か月前
京セラ株式会社
燃料電池システム及び設備管理方法
10日前
京セラ株式会社
ユーザ装置、ノード、及び通信方法
3日前
京セラ株式会社
人工関節用シェルおよびその製造方法
1か月前
京セラ株式会社
半導体基板、半導体デバイスの製造方法
10日前
京セラ株式会社
画像処理装置、制御方法、及びプログラム
1か月前
京セラ株式会社
電子機器、電子機器の制御方法、及びプログラム
17日前
京セラ株式会社
電子機器、電子機器の制御方法、及びプログラム
17日前
京セラ株式会社
学習済みモデル管理装置及び学習済みモデル管理方法
1か月前
続きを見る