TOP
|
特許
|
意匠
|
商標
特許ウォッチ
Twitter
他の特許を見る
公開番号
2025074948
公報種別
公開特許公報(A)
公開日
2025-05-14
出願番号
2024171052
出願日
2024-09-30
発明の名称
シールド構造を有する誘導型エンコーダ
出願人
株式会社ミツトヨ
代理人
弁理士法人創光国際特許事務所
主分類
G01D
5/20 20060101AFI20250507BHJP(測定;試験)
要約
【課題】測定の一貫性、高精度、高分解能、汚染に対する堅牢性、コンパクトなサイズ、使いやすさ、低コストなどの改善された組合せを提供する。
【解決手段】誘導型エンコーダシステムは周期的スケールパターンを含むスケールと、周期的スケールパターンに対し測定軸方向に沿って移動するように構成された検出器部を含む。検出器部は変化する磁束を生成するように構成された磁界発生部と検知要素の1つ以上のセットを備え、周期的スケールパターンで提供され変化する磁束に対し局所的影響に応答する検出器信号を提供するように構成された検知部を含み、検知要素の各セットはセンサビアのセットに結合される。検出器部は複数のシールド構造SSTを更に含み、各シールド構造SSTはセンサビアのセットに近接し配置され複数のシールドビアを含み、各シールド構造において1つ以上のシールドループは導体部により互いに結合された複数のシールドビアで形成される。
【選択図】図6
特許請求の範囲
【請求項1】
測定軸方向に沿った2つの要素間の相対位置を測定するように構成された誘導型エンコーダシステムであって、前記システムは、
前記測定軸方向に沿って延在するスケールであって、信号変調要素を含む周期的スケールパターンを含むスケールと、
前記周期的スケールパターンに近接して配置され、前記周期的スケールパターンに対して前記測定軸方向に沿って移動するように構成された検出器部であって、前記検出器部は、
駆動信号に応答して変化する磁束を発生させるように構成された磁界発生部PRTFGEと、
前記測定軸方向に沿って配置された検知要素の1つ以上のセットを備える検知部PRTSENであって、検知要素の各セットはセンサビアのセットに結合され、前記検知部PRTSENは、前記周期的スケールパターンの隣接する信号変調要素によって提供される前記変化する磁束に対する局所的影響に応答する検出器信号を提供するように構成される、検知部PRTSENと、を備える、検出器部と、
複数のシールド構造SSTであって、各シールド構造SSTは、センサビアのセットに近接して配置され、複数のシールドビアを含み、各シールド構造SSTにおいて、1つ以上のシールドループは、導体部によって互いに結合された前記複数のシールドビアによって形成される、複数のシールド構造SSTと、
を備える、誘導型エンコーダシステム。
続きを表示(約 1,100 文字)
【請求項2】
各シールド構造SSTについて、前記複数のシールドビアは、少なくとも第1のシールドビア及び第2のシールドビアを含み、前記第1のシールドビア及び前記第2のシールドビアは、第1の導体部によって互いに結合され、第2の導体部によって互いに結合され、前記第1のシールドビア、前記第1の導体部、前記第2のシールドビア、及び前記第2の導体部は、前記1つ以上のシールドループのうちの第1のそれぞれのシールドループを形成する、請求項1に記載のシステム。
【請求項3】
前記複数のシールド構造SSTのうちの1つ以上のシールド構造SSTについて、前記複数のシールドビアは、少なくとも第3のそれぞれのシールドビアを備え、前記第3のそれぞれのシールドビアは、第3の導体部によって前記第2のシールドビアに結合され、第4の導体部によって前記第2のシールドビアに結合され、前記第2のシールドビア、前記第3の導体部、前記第3のシールドビア、及び前記第4の導体部は、前記1つ以上のシールドループのうちの第2のそれぞれのシールドループを形成する、請求項2に記載のシステム。
【請求項4】
各シールド構造SSTについて、前記複数のシールドビアは線形配置である、請求項3に記載のシステム。
【請求項5】
前記第1の導体部はプリント回路基板の第1の層内にあり、前記第2の導体部は前記プリント回路基板の第2の層内にある、請求項2に記載のシステム。
【請求項6】
前記複数のシールド構造SSTは、少なくとも第1のシールド構造及び第2のシールド構造を含む、請求項1に記載のシステム。
【請求項7】
前記第1のシールド構造SST及び前記第2のシールド構造SSTは、少なくとも2つのセンサビアを含むセンサビアのセットの両側に配置される、請求項6に記載のシステム。
【請求項8】
前記第1のシールド構造SST及び前記第2のシールド構造SSTは、少なくとも4つのセンサビアを含むセンサビアのセットの両側に配置される、請求項6に記載のシステム。
【請求項9】
前記複数のシールドビアは、1つ以上の磁界発生ビア内を流れる電流から生じる1つ以上の磁界から前記センサビアを少なくとも部分的にシールドするように構成される、請求項1に記載のシステム。
【請求項10】
各シールド構造SSTは、前記測定軸方向に垂直な方向に延在する線形配置の前記複数のそれぞれのシールドビアを含む、請求項1に記載のシステム。
(【請求項11】以降は省略されています)
発明の詳細な説明
【技術分野】
【0001】
本開示は、計測学に関し、より詳細には、誘導型エンコーダに関する。
続きを表示(約 3,800 文字)
【背景技術】
【0002】
種々の位置エンコーダ構成は、種々のタイプの誘導、光学、容量、磁気、移動、及び/又は位置トランスデューサを含んでもよい。これらの位置エンコーダは、検出器部とスケールとの間の移動を測定するために、検出器部(例えば、読取りヘッドに含まれるような)において様々な幾何学的構成(例えば、トランスミッタ及びレシーバ)を使用する。
【0003】
誘導型エンコーダのいくつかの例として、米国特許第6,011,389号(’389特許)及び第6,124,708号(’708特許)は、高精度用途で使用可能な誘導電流位置トランスデューサを説明している。米国特許第5,973,494号(’494特許)及び第6,002,250号(’250特許)は、信号発生及び処理回路を含むインクリメンタル型位置誘導ノギス及びリニアスケールを記載しており、米国特許第5,886,519号(’519特許)、第5,841,274号(’274特許)、及び第5,894,678号(’678特許)は、誘導電流トランスデューサを使用する絶対位置誘導ノギス及び電子テープメジャーを記載している。米国特許第10,520,335号(’335特許)、第10,612,943号(’943特許)、及び第10,775,199号(’199特許)は、誘導型エンコーダの精度、堅牢性、及び整列の容易性を向上させるのに有用な巻線構成の改良を開示している。前述の全ては、参照によりその全体が本明細書に組み込まれる。
【0004】
これらの特許に記載されているように、誘導型エンコーダは、プリント回路基板(PCB)技術を使用して製造することができ、汚染の影響をほとんど受けない。しかしながら、そのようなシステムは、測定の一貫性、高精度、高分解能、汚染に対する堅牢性、コンパクトなサイズ、使いやすさ、低コストなどの組み合わせなど、ユーザによって所望される特徴の特定の組み合わせを提供する能力が制限される場合がある。そのような特徴の改善された組み合わせを提供する誘導型エンコーダの構成が望ましい。
【発明の概要】
【0005】
この概要は、以下の詳細な説明で更に説明される選択された概念を簡略化された形式で紹介するために提供される。この概要は、特許請求される主題の主要な特徴を特定することを意図しておらず、特許請求される主題の範囲を決定する際の補助として使用されることも意図されていない。
【0006】
一態様によれば、測定軸方向に沿って2つの要素間の相対位置を測定するように構成された誘導型エンコーダシステムが提供される。このシステムは、測定軸方向に沿って延在するスケールであって、信号変調要素を備える周期的スケールパターンを含む、スケールと、検出器部であって、周期的スケールパターンに近接して配置され、周期的スケールパターンに対して測定軸方向に沿って移動するように構成される、検出器部と、を含む。検出器部は、駆動信号に応答して変化する磁束を発生させるように構成された磁界発生部PRTFGEと、測定軸方向に沿って配置された検知要素の1つ以上のセットを備える検知部PRTSENと、を含む。検知要素の各セットはセンサビアのセットに結合され、検知部PRTSENは、周期的スケールパターンの隣接する信号変調要素によって提供される変化する磁束に対する局所的影響に応答する検出器信号を提供するように構成される。検出器部はまた、複数のシールド構造SSTを含み、各シールド構造SSTは、センサビアのセットに近接して配置される。各シールド構造SSTは、複数のシールドビアを含み、各シールド構造SSTにおいて、1つ以上のシールドループは、導体部によって互いに結合された複数のシールドビアによって形成される。
【0007】
例示的な実装形態では、複数のシールド構造SSTは、磁界発生部PRTFGEの動作から生じる漂遊磁界からセンサビアのセットを少なくとも部分的にシールドするように構成される。そのような例示的な実装形態によれば、センサビアのセットのシールドは、そうでなければセンサビアのセットの少なくともいくつかによって形成され得る寄生ループに結合する漂遊磁界から生じることになる検出器信号中のオフセット信号部を低減するのに技術的に有利である。
【0008】
更なる態様によれば、測定軸方向に沿って2つの要素間の相対位置を測定するように構成された誘導型エンコーダシステムを動作させる方法が提供される。この方法は、一般に3つのステップを含む。第1のステップは、磁界発生部PRTFGEに変化する磁束を発生させる駆動信号を提供することであって、磁界発生部PRTFGEの動作が1つ以上の漂遊磁界を生成する、ことを含む。第2のステップは、検知部PRTSENから検出器信号を受信することであって、センサビアの少なくとも1つのセットは、複数のシールド構造によって、1つ以上の漂遊磁界から少なくとも部分的にシールドされる、ことを含む。第3のステップは、検出器信号に少なくとも部分的に基づいて、検出器部とスケールとの間の相対位置を決定することを含む。
【0009】
更なる態様によれば、測定軸方向に沿って2つの要素間の相対位置を測定するように構成された誘導型エンコーダで使用するための検出器部が提供される。エンコーダは、測定軸方向に沿って延在するスケールであって、信号変調要素を含む周期的スケールパターンを含むスケールを含む。検出器部は、周期的スケールパターンに近接して配置され、周期的スケールパターンに対して測定軸方向に沿って移動するように構成される。検出器部は、駆動信号に応答して変化する磁束を発生させるように構成された磁界発生部PRTFGEと、測定軸方向に沿って配置された検知要素の1つ以上のセットを備える検知部PRTSENと、を含む。検知要素の各セットは複数のセンサビアに結合され、検知部PRTSENは、周期的スケールパターンの隣接する信号変調要素によって提供される変化する磁束に対する局所的影響に応答する検出器信号を提供するように構成される。検出器部は、複数のシールド構造SSTを更に含み、各シールド構造SSTは、センサビアのセットに近接して配置される。各シールド構造SSTは、複数のシールドビアを含み、各シールド構造SSTにおいて、1つ以上のシールドループは、導体部によって互いに結合された複数のシールドビアによって形成される。
【図面の簡単な説明】
【0010】
誘導型エンコーダシステムのブロック図である。
図1の誘導型エンコーダシステムにおいて利用され得るような検出器部及びスケールを含むトランスデューサの実装形態の図である。
検出器部の検知要素のセットからセンサビアのセット及び処理部への接続を示す図であり、接続は寄生センサループを形成する。
図3及び図6に示すようなセンサビアのセットに近接して配置されたシールド構造SSTを示す図である。
図4の構成の上面図であり、磁界発生ビアを通る電流によって生成される漂遊磁界を更に示す。
図1の誘導型エンコーダシステムで利用され得るような検出器部及びスケールを含むトランスデューサの実装形態の等角図であり、図4及び図5の構成と同様の構成でセンサビアのセットに近接して配置されたシールド構造SSTとともに磁界発生ビアを示す。
プリント回路基板(PCB)の6つの層を通って延在する2つのシールドビアを含む検出器部のPCBの断面部分を示す図である。
図6のシールド構造SSTとともにセンサビアの等角上面図を示す図であり、シールド構造SSTのシールドビアは、PCBの接地層(例えば、層L3)の一部として導体部(例えば、上側導体部)によって互いに結合されるように示されている。
図8の構成の等角底面図(例えば、図8の同じ層L3を下から見た図)を示す図であり、シールド構造SSTのシールドビアは、接地層L3とは異なるPCBの層(例えば、図示されていない層L4)内の導体部(例えば、下側導体部)によっても互いに結合され、したがってシールド構造SST内にシールドループを形成するように示されている。
2つのシールド構造SSTを示す図であり、各シールド構造SSTは、線形配置の4つのシールドビアを含み、線形配置の4つのセンサビアを含むセンサビアのセットの両側に近接して配置される。
2つのシールド構造SSTを示す図であり、各シールド構造SSTは、線形配置の6つのシールドビアを含み、線形配置の6つのセンサビアを含むセンサビアのセットの両側に近接して配置される。
図4~図6の構成と同様の構成のセンサビアのセットを取り囲むような、2つのボックス配置のシールド構造SSTを示す図である。
誘導型エンコーダシステムを動作させるためのルーチンの一例を示すフロー図である。
【発明を実施するための形態】
(【0011】以降は省略されています)
この特許をJ-PlatPatで参照する
関連特許
株式会社ミツトヨ
測定装置
1か月前
株式会社ミツトヨ
シールド構造を有する誘導型エンコーダ
18日前
株式会社ミツトヨ
温度補正装置、測定システム、温度補正方法、及びプログラム
10日前
株式会社ミツトヨ
オートフォーカス及び検査プロセスを利用するマシン視覚システム
13日前
株式会社イシダ
計量装置
1か月前
日本精機株式会社
表示装置
18日前
株式会社エビス
水準器
17日前
日本精機株式会社
アセンブリ
24日前
個人
準結晶の解析方法
24日前
株式会社豊田自動織機
自動走行体
23日前
日本碍子株式会社
ガスセンサ
17日前
株式会社不二越
塵埃噴射装置
12日前
個人
浸透探傷試験方法
13日前
トヨタ自動車株式会社
制御装置
13日前
トヨタ自動車株式会社
検査装置
1か月前
株式会社東芝
センサ
12日前
日本特殊陶業株式会社
ガスセンサ
24日前
日本特殊陶業株式会社
ガスセンサ
11日前
日本特殊陶業株式会社
ガスセンサ
12日前
GEE株式会社
光学特性測定装置
23日前
株式会社TISM
センサ部材
23日前
学校法人 中央大学
管内径推定装置
3日前
株式会社不二越
X線測定装置
18日前
個人
多段電磁加速による高力積衝撃試験機
5日前
東ソー株式会社
簡易型液体クロマトグラフ
1か月前
TDK株式会社
アレイセンサ
13日前
株式会社不二越
X線測定装置
18日前
リバークル株式会社
荷重移動試験装置
1か月前
東洋紡株式会社
ヘムタンパク質の安定化方法
6日前
TDK株式会社
計測装置
18日前
大和製衡株式会社
表示システム
1か月前
株式会社小糸製作所
物体検知システム
24日前
個人
簡易・迅速タンパク質検出装置および方法
13日前
エスペック株式会社
温度槽及び試験方法
19日前
大和ハウス工業株式会社
引張装置
1か月前
TDK株式会社
温度センサ
16日前
続きを見る
他の特許を見る