TOP
|
特許
|
意匠
|
商標
特許ウォッチ
Twitter
他の特許を見る
10個以上の画像は省略されています。
公開番号
2025079453
公報種別
公開特許公報(A)
公開日
2025-05-22
出願番号
2023192122
出願日
2023-11-10
発明の名称
温度補正装置、測定システム、温度補正方法、及びプログラム
出願人
株式会社ミツトヨ
代理人
弁理士法人創光国際特許事務所
主分類
G01B
21/20 20060101AFI20250515BHJP(測定;試験)
要約
【課題】三次元測定装置の環境温度変化に対する測定結果の温度に起因する測定誤差を容易に精度よく補正できるようにする。
【解決手段】三次元測定装置の測定中の温度を取得する測定温度取得部と、三次元測定装置が被測定物を測定した測定結果を取得する測定結果取得部と、複数の温度それぞれに複数の温度センサそれぞれに対応する係数を掛けた値で構成された多項式を含む温度補正のモデル式を用いて、測定結果の補正値を算出する補正値算出部と、測定結果に補正値を加算又は乗算することで測定結果を補正した補正測定値を算出する補正部とを備える、温度補正装置。
【選択図】図2
特許請求の範囲
【請求項1】
変温環境に設置された三次元測定装置が被測定物を測定した測定結果を温度補正する温度補正装置であって、
前記三次元測定装置の異なる複数の位置に設けられている温度センサと前記三次元測定装置の環境温度を測定する温度センサと被測定物の温度を測定する温度センサから、前記三次元測定装置の測定中の温度を取得する測定温度取得部と、
前記三次元測定装置が前記被測定物を測定した前記測定結果を取得する測定結果取得部と、
複数の前記温度センサから取得された複数の温度それぞれに複数の前記温度センサそれぞれに対応する係数を掛けた値で構成された多項式を含む温度補正のモデル式を用いて、前記測定結果の補正値を算出する補正値算出部と、
前記測定結果に前記補正値を加算又は乗算することで前記測定結果を補正した補正測定値を算出する補正部と
を備え、
複数の前記温度センサそれぞれに対応する前記係数は、所定の温度の恒温環境に設置した前記被測定物を測定して得られた理想測定値と前記補正値との差に基づく評価関数を最小化するように特定された値である、
温度補正装置。
続きを表示(約 1,700 文字)
【請求項2】
前記測定温度取得部が合計P個の複数の前記温度センサから取得した温度をx
p
(pは1からPまでの整数)とし、前記補正値算出部が算出する前記補正値をy’とし、複数の前記温度センサそれぞれに対応する前記係数をb
p
とし、定数項をb
0
とした場合に、前記補正値算出部が用いる温度補正の前記モデル式を次式とする、
TIFF
2025079453000007.tif
21
66
請求項1に記載の温度補正装置。
【請求項3】
前記理想測定値をYとし、前記測定結果取得部が取得した前記測定結果をy
n
(nは1からNまでの整数)とし、前記補正値算出部が前記測定結果y
n
に対応して算出した前記補正値をy
n
’とした場合に、前記評価関数Lを次式とする、
TIFF
2025079453000008.tif
21
66
請求項2に記載の温度補正装置。
【請求項4】
前記補正値算出部は、前記三次元測定装置の前記環境温度に応じて、複数の前記温度センサそれぞれに対応する前記係数を前記三次元測定装置の前記環境温度に応じて特定された前記係数に切り換えて、前記補正値を算出する、
請求項1に記載の温度補正装置。
【請求項5】
前記補正値算出部は、前記三次元測定装置が測定を開始してから経過した時間に応じて、複数の前記温度センサそれぞれに対応する前記係数を経過時間に応じて特定された前記係数に切り換えて、前記補正値を算出する、
請求項1に記載の温度補正装置。
【請求項6】
前記補正値算出部は、前記三次元測定装置が測定する測定項目に応じて、複数の前記温度センサそれぞれに対応する前記係数を前記三次元測定装置の前記測定項目に応じて特定された前記係数に切り換えて、前記補正値を算出する、
請求項1に記載の温度補正装置。
【請求項7】
前記補正値算出部は、前記被測定物の位置に応じて、複数の前記温度センサそれぞれに対応する前記係数を前記被測定物の位置に応じて特定された前記係数に切り換えて、前記補正値を算出する、
請求項1に記載の温度補正装置。
【請求項8】
前記被測定物の三次元形状を測定する前記三次元測定装置と、
前記三次元測定装置の異なる複数の位置に設けられている複数の前記温度センサと、
複数の前記温度センサから取得された複数の温度に基づき、前記三次元測定装置の前記測定結果を温度補正する、請求項1から7のいずれか一項に記載の前記温度補正装置と
を備える、測定システム。
【請求項9】
変温環境に設置された三次元測定装置が被測定物を測定した測定結果をコンピュータが温度補正する温度補正方法であって、
前記三次元測定装置の異なる複数の位置に設けられている温度センサと前記三次元測定装置の環境温度を測定する温度センサから、前記三次元測定装置の測定中の温度を取得するステップと、
前記測定結果を取得するステップと、
複数の前記温度センサから取得された複数の温度それぞれに複数の前記温度センサそれぞれに対応する係数を掛けた値で構成された多項式を含む温度補正のモデル式を用いて、前記測定結果の補正値を算出するステップと、
前記測定結果に前記補正値を加算又は乗算することで前記測定結果を補正した補正測定値を算出するステップと
を有し、
複数の前記温度センサそれぞれに対応する前記係数は、所定の温度の恒温環境に設置した前記被測定物を測定して得られた理想測定値と前記補正値との差に基づく評価関数を最小化するように特定された値である、
温度補正方法。
【請求項10】
コンピュータにより実行されると、前記コンピュータを請求項1から7のいずれか一項に記載の前記温度補正装置として機能させる、プログラム。
発明の詳細な説明
【技術分野】
【0001】
本発明は、温度補正装置、測定システム、温度補正方法、及びプログラムに関する。
続きを表示(約 1,700 文字)
【背景技術】
【0002】
測定対象の三次元形状を接触、又は非接触で測定する測定装置が知られている(例えば、特許文献1及び2を参照)。このような測定装置は、環境温度が安定な場合、測定対象の三次元形状を精度よく測定できる。言い換えると、測定装置は、高精度な測定をするために、環境温度が安定している必要があった。
【先行技術文献】
【特許文献】
【0003】
特開2004-341608号公報
特表2019-507885号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【0004】
このような測定装置を工場等の温度が変動する環境に設置した場合、被測定物及び測定装置の各部に熱膨張等が発生してしまい、測定結果に誤差が生じることがあった。従来、被測定物の温度に基づいて被測定物の熱膨張量を算出し、測定装置の測定結果を補正する方法、スケール等の単純な伸縮の補正等が知られていたが、被測定物の温度ムラ等が発生してしまい、精度のよい測定結果が得られないことがあった。
【0005】
そこで、本発明はこれらの点に鑑みてなされたものであり、三次元測定装置の環境温度変化に対する測定結果の誤差を容易に精度よく補正できるようにすることを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【0006】
本発明の第1の態様においては、変温環境に設置された三次元測定装置が被測定物を測定した測定結果を温度補正する温度補正装置であって、前記三次元測定装置の異なる複数の位置に設けられている温度センサと前記三次元測定装置の環境温度を測定する温度センサと被測定物の温度を測定する温度センサから、前記三次元測定装置の測定中の温度を取得する測定温度取得部と、前記三次元測定装置が前記被測定物を測定した前記測定結果を取得する測定結果取得部と、複数の前記温度センサから取得された複数の温度それぞれに複数の前記温度センサそれぞれに対応する係数を掛けた値で構成された多項式を含む温度補正のモデル式を用いて、前記測定結果の補正値を算出する補正値算出部と、前記測定結果に前記補正値を加算又は乗算することで前記測定結果を補正した補正測定値を算出する補正部とを備え、複数の前記温度センサそれぞれに対応する前記係数は、所定の温度の恒温環境に設置した前記被測定物を測定して得られた理想測定値と前記補正値との差に基づく評価関数を最小化するように特定された値である、温度補正装置を提供する。
【0007】
前記測定温度取得部が合計P個の複数の前記温度センサから取得した温度をx
p
(pは1からPまでの整数)とし、前記補正値算出部が算出する前記補正値をy’とし、複数の前記温度センサそれぞれに対応する前記係数をb
p
とし、定数項をb
0
とした場合に、前記補正値算出部が用いる温度補正の前記モデル式を次式としてもよい。
TIFF
2025079453000002.tif
21
66
【0008】
前記理想測定値をYとし、前記測定結果取得部が取得した前記測定結果をy
n
(nは1からNまでの整数)とし、前記補正値算出部が前記測定結果y
n
に対応して算出した前記補正値をy
n
’とした場合に、前記評価関数Lを次式としてもよい。
TIFF
2025079453000003.tif
21
66
【0009】
前記補正値算出部は、前記三次元測定装置の前記環境温度に応じて、複数の前記温度センサそれぞれに対応する前記係数を前記三次元測定装置の前記環境温度に応じて特定された前記係数に切り換えて、前記補正値を算出してもよい。
【0010】
前記補正値算出部は、前記三次元測定装置が測定を開始してから経過した時間に応じて、複数の前記温度センサそれぞれに対応する前記係数を経過時間に応じて特定された前記係数に切り換えて、前記補正値を算出してもよい。
(【0011】以降は省略されています)
この特許をJ-PlatPatで参照する
関連特許
株式会社ミツトヨ
測定器
1か月前
株式会社ミツトヨ
円弧運動及び補正処理を有する測定器
1か月前
株式会社ミツトヨ
最適化マルチチャネル照明制御システム
1か月前
株式会社ミツトヨ
円弧エンコーダトラックを有する測定器
1か月前
株式会社ミツトヨ
直線エンコーダトラック及び円弧運動を有する測定器
1か月前
株式会社ミツトヨ
円弧運動及び分離型エンコーダトラックを有する測定器
1か月前
株式会社ミツトヨ
表面マップを決定するための方法およびそのための撮像システム
9日前
株式会社ミツトヨ
白色光干渉計及び白色光干渉計を用いて高さマップを求める方法
24日前
株式会社ミツトヨ
光ビームのパターンを用いる位置及び向き追跡を有する計測システム
1か月前
TOPPANホールディングス株式会社
エッチング用金属体、エッチング用金属体の外観検査方法
1か月前
ユニパルス株式会社
力変換器
9日前
株式会社ミツトヨ
測定器
1か月前
株式会社豊田自動織機
産業車両
16日前
横浜ゴム株式会社
音響窓
11日前
三菱電機株式会社
計測器
3日前
株式会社国際電気
試験装置
23日前
個人
センサーを備えた装置
13日前
日置電機株式会社
測定装置
10日前
日本精機株式会社
施工管理システム
13日前
IPU株式会社
距離検出装置
9日前
大同特殊鋼株式会社
疵検出方法
1か月前
株式会社東芝
センサ
12日前
富士レビオ株式会社
嵌合システム
2日前
株式会社CAST
センサ固定治具
16日前
株式会社田中設備
報知装置
17日前
タカノ株式会社
試料分析装置
1か月前
WOTA株式会社
液位検出システム
23日前
富士電機株式会社
半導体パッケージ
5日前
本多電子株式会社
超音波ソナー装置
4日前
日本装置開発株式会社
X線検査装置
26日前
アズビル株式会社
火炎状態判定装置
10日前
オムロン株式会社
スイッチング装置
23日前
株式会社熊平製作所
刃物類判別装置
16日前
タカノ株式会社
試料分析装置
1か月前
JNC株式会社
トランジスタ型センサ
1か月前
JNC株式会社
トランジスタ型センサ
1か月前
続きを見る
他の特許を見る