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公開番号
2025021202
公報種別
公開特許公報(A)
公開日
2025-02-13
出願番号
2023124973
出願日
2023-07-31
発明の名称
光測定装置の点検方法
出願人
日機装株式会社
代理人
弁理士法人平田国際特許事務所
主分類
G01J
1/00 20060101AFI20250205BHJP(測定;試験)
要約
【課題】光測定装置の異常を検知しやすい光測定装置の点検方法を提供する。
【解決手段】光測定装置の点検方法においては、光測定装置を用いて発光装置の光出力を定期的に測定し、光測定装置を用いた発光装置の光出力の測定値が所定の合格範囲内にあれば光測定装置を正常と判定し、合格範囲外にあれば光測定装置を異常と判定し、合格範囲が、経時的に更新される。
【選択図】図4
特許請求の範囲
【請求項1】
光測定装置を用いて発光装置の光出力を定期的に測定し、
前記光測定装置を用いた前記発光装置の光出力の測定値が所定の合格範囲内にあれば前記光測定装置を正常と判定し、前記合格範囲外にあれば前記光測定装置を異常と判定し、
前記合格範囲は、経時的に更新される、
光測定装置の点検方法。
続きを表示(約 550 文字)
【請求項2】
前記合格範囲は、前記合格範囲の設定時点における前記測定値の目安値から上下所定の範囲である、
請求項1に記載の光測定装置の点検方法。
【請求項3】
前記目安値は、前記合格範囲の設定時点から過去所定期間の前記測定値のデータを用いて算出された平均値である、
請求項2に記載の光測定装置の点検方法。
【請求項4】
前記上下所定の範囲は、前記合格範囲の設定時点から過去所定期間の前記測定値のデータを用いて算出された標準偏差に基づいて決定される、
請求項2又は3に記載の光測定装置の点検方法。
【請求項5】
前記測定値が、前記合格範囲より範囲が狭い所定の安全範囲外かつ前記合格範囲内である場合、前記安全範囲及び前記合格範囲を更新する、
請求項1又は2に記載の光測定装置の点検方法。
【請求項6】
前記安全範囲外かつ前記合格範囲内の前記測定値が所定の期間内に複数回取得されることに応じて、前記安全範囲及び前記合格範囲を更新する、
請求項5に記載の光測定装置の点検方法。
【請求項7】
前記発光装置は、紫外光を発する、
請求項1又は2に記載の光測定装置の点検方法。
発明の詳細な説明
【技術分野】
【0001】
本発明は、光測定装置の点検方法に関する。
続きを表示(約 1,100 文字)
【背景技術】
【0002】
特許文献1には、積分球又は積分半球を有する光測定装置を用いて発光装置としてのLED(Light Emitting Diode)の光出力を測定する方法が開示されている。
【先行技術文献】
【特許文献】
【0003】
特開2012-227201号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【0004】
光測定装置は、光出力の測定精度を高めるべく使用開始前に較正されることがあるが、時間経過によって光測定装置の状態が変わり、光測定装置に異常が生じることもあり得る。
【0005】
本発明は、前述の事情に鑑みてなされたものであり、光測定装置の異常を検知しやすい光測定装置の点検方法を提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【0006】
本発明は、前記の目的を達成するため、光測定装置を用いて発光装置の光出力を定期的に測定し、前記光測定装置を用いた前記発光装置の光出力の測定値が所定の合格範囲内にあれば前記光測定装置を正常と判定し、前記合格範囲外にあれば前記光測定装置を異常と判定し、前記合格範囲は、経時的に更新される、光測定装置の点検方法を提供する。
【発明の効果】
【0007】
本発明によれば、光測定装置の異常を検知しやすい光測定装置の点検方法を提供することが可能となる。
【図面の簡単な説明】
【0008】
実施の形態における、発光装置及び光測定装置の構成を示す模式図である。
発光装置の光出力の仮想的な測定データを、第1比較例の合格範囲とともに示すグラフである。
発光装置の光出力の仮想的な測定データを、第2比較例の合格範囲とともに示すグラフである。
実施の形態における、発光装置の光出力の仮想的な測定データを、安全範囲及び合格範囲とともに示すグラフである。
図4の一部を拡大した図である。
【発明を実施するための形態】
【0009】
[実施の形態]
本発明の実施の形態について、図1乃至図5を参照して説明する。なお、以下に説明する実施の形態は、本発明を実施する上での好適な具体例として示すものであり、技術的に好ましい種々の技術的事項を具体的に例示している部分もあるが、本発明の技術的範囲は、この具体的態様に限定されるものではない。
【0010】
本形態は、発光装置の光出力を測定する光測定装置の異常を検知するための、光測定装置の点検方法である。まず、発光装置及び光測定装置につき説明する。
(【0011】以降は省略されています)
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