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公開番号2025021201
公報種別公開特許公報(A)
公開日2025-02-13
出願番号2023124972
出願日2023-07-31
発明の名称光測定方法
出願人日機装株式会社
代理人弁理士法人平田国際特許事務所
主分類G01J 1/16 20060101AFI20250205BHJP(測定;試験)
要約【課題】対象発光装置の光出力の測定精度が経時的に低下することを抑制できる光測定方法を提供する。
【解決手段】光測定方法は、光測定装置2を用いて参照用発光装置の光出力の初期測定値A₀を取得し、光測定装置2を用いて対象発光装置の光出力の測定値Mを取得し、測定値Mの測定の時点における、光測定装置2を用いた参照用発光装置の光出力の測定値の目安値A_nを取得し、初期測定値A₀を目安値A_nで除算した値A₀/A_nを時間差補正係数A₀/A_nとしたとき、測定値Mに少なくとも時間差補正係数A₀/A_nを乗算することで、対象発光装置の光出力の補正値M_cを得る。
【選択図】図2
特許請求の範囲【請求項１】
光測定装置を用いて参照用発光装置の光出力の初期測定値Ａ
０
を取得し、
前記光測定装置を用いて対象発光装置の光出力の測定値Ｍを取得し、
前記測定値Ｍの測定の時点における、前記光測定装置を用いた前記参照用発光装置の光出力の測定値の目安値Ａ
ｎ
を取得し、
前記初期測定値Ａ
０
を前記目安値Ａ
ｎ
で除算した値Ａ
０
／Ａ
ｎ
を時間差補正係数Ａ
０
／Ａ
ｎ
としたとき、前記測定値Ｍに少なくとも前記時間差補正係数Ａ
０
／Ａ
ｎ
を乗算することで、前記対象発光装置の光出力の補正値Ｍ
ｃ
を得る、
光測定方法。
続きを表示（約 1,100 文字）【請求項２】
前記目安値Ａ
ｎ
は、前記測定値Ｍの測定から前後８時間以内に測定された前記参照用発光装置の光出力の測定値に基づいて決定される、
請求項１に記載の光測定方法。
【請求項３】
前記光測定装置を用いて、参照用集合基板に搭載された状態の前記参照用発光装置の前記初期測定値Ａ
０
を取得するとともに第２参照用集合基板に搭載された状態の第２参照用発光装置の光出力の初期測定値Ｂ
０
を取得し、
前記初期測定値Ｂ
０
の取得後、前記第２参照用集合基板から前記第２参照用発光装置を個片化し、標準機を用いて、個片化された前記第２参照用発光装置の光出力の基準測定値Ｂ
ｔｒｕｅ
を取得し、
前記光測定装置を用いて、対象集合基板に搭載された状態の前記対象発光装置の前記測定値Ｍを取得し、
前記基準測定値Ｂ
ｔｒｕｅ
を前記初期測定値Ｂ
０
で除算した値Ｂ
ｔｒｕｅ
／Ｂ
０
を装置差補正係数Ｂ
ｔｒｕｅ
／Ｂ
０
としたとき、前記測定値Ｍに少なくとも前記時間差補正係数Ａ
０
／Ａ
ｎ
と、前記装置差補正係数Ｂ
ｔｒｕｅ
／Ｂ
０
とを乗算することで、前記補正値Ｍ
ｃ
を得る、
請求項１又は２に記載の光測定方法。
【請求項４】
前記初期測定値Ａ
０
及び前記初期測定値Ｂ
０
は、互いに８時間以内に測定される、
請求項３に記載の光測定方法。
【請求項５】
前記時間差補正係数Ａ
０
／Ａ
ｎ
は、前記参照用集合基板に搭載された複数の前記参照用発光装置の光出力を複数回ずつ測定して得られた結果に基づいて決定され、
前記装置差補正係数Ｂ
ｔｒｕｅ
／Ｂ
０
は、前記第２参照用集合基板に搭載された複数の前記第２参照用発光装置の光出力を複数回ずつ測定して得られた結果と、前記第２参照用集合基板から個片化された複数の前記第２参照用発光装置の光出力を複数回ずつ測定して得られた結果と、に基づいて決定される、
請求項３に記載の光測定方法。
【請求項６】
前記参照用発光装置及び前記対象発光装置のそれぞれは、紫外光を発光する、
請求項１又は２に記載の光測定方法。

発明の詳細な説明【技術分野】
【０００１】
本発明は、光測定方法に関する。
続きを表示（約 1,300 文字）【背景技術】
【０００２】
特許文献１には、積分球又は積分半球を有する光測定装置を用いて、発光装置としてのＬＥＤ（ＬｉｇｈｔＥｍｉｔｔｉｎｇＤｉｏｄｅ）の光出力を測定する方法が開示されている。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００３】
特開２０１２－２２７２０１号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００４】
光測定装置は、時間経過によって状態が変わり、測定精度が経時的に低下するおそれがある。
【０００５】
本発明は、前述の事情に鑑みてなされたものであり、対象発光装置の光出力の測定精度が経時的に低下することを抑制できる光測定方法を提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【０００６】
本発明は、前記の目的を達成するため、光測定装置を用いて参照用発光装置の光出力の初期測定値Ａ
０
を取得し、前記光測定装置を用いて対象発光装置の光出力の測定値Ｍを取得し、前記測定値Ｍの測定の時点における、前記光測定装置を用いた前記参照用発光装置の光出力の測定値の目安値Ａ
ｎ
を取得し、前記初期測定値Ａ
０
を前記目安値Ａ
ｎ
で除算した値Ａ
０
／Ａ
ｎ
を時間差補正係数Ａ
０
／Ａ
ｎ
としたとき、前記測定値Ｍに少なくとも前記時間差補正係数Ａ
０
／Ａ
ｎ
を乗算することで、前記対象発光装置の光出力の補正値Ｍ
ｃ
を得る、光測定方法を提供する。
【発明の効果】
【０００７】
本発明によれば、対象発光装置の光出力の測定精度が経時的に低下することを抑制できる光測定方法を提供することが可能となる。
【図面の簡単な説明】
【０００８】
第１及び第２の実施の形態における、発光装置の平面図である。
第１及び第２の実施の形態における、光測定装置の構成を示す断面図である。
第１及び第２の実施の形態における、挿通穴周辺を見た光測定装置の側面図である。
第１及び第２の実施の形態における、標準機の構成を示す断面図である。
【発明を実施するための形態】
【０００９】
［第１の実施の形態］
本発明の第１の実施の形態について、図１乃至図４を参照して説明する。なお、以下に説明する実施の形態は、本発明を実施する上での好適な具体例として示すものであり、技術的に好ましい種々の技術的事項を具体的に例示している部分もあるが、本発明の技術的範囲は、この具体的態様に限定されるものではない。
【００１０】
（発光装置）
まず、本形態の光測定方法にて用いる発光装置について説明する。図１は、本形態の光測定方法にて用いる発光装置１の平面図である。
（【００１１】以降は省略されています）

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