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公開番号2025002280
公報種別公開特許公報(A)
公開日2025-01-09
出願番号2023102343
出願日2023-06-22
発明の名称超音波欠陥検出方法
出願人大同特殊鋼株式会社
代理人個人
主分類G01N 29/07 20060101AFI20241226BHJP(測定;試験)
要約【課題】製造現場に簡易に設置して被検査体中の溶け残り等の欠陥検出を確実に行うことができる超音波欠陥検出方法を提供する
【解決手段】一定厚の被検査体Mの表面に平行に超音波探触子1を走査して、各走査位置において超音波の発振から底面反射波を受信するまでの受信時間を計測し、受信時間の最頻値を頂点とするヒストグラムにおいて、当該ヒストグラムの左右対称形が崩れた領域Xにおける上記受信時間を示す走査位置に欠陥があるものとし、上記領域Xにおける受信時間を示す各走査位置の座標より上記被検査体の平面的広がりを検出する。
【選択図】図1
特許請求の範囲【請求項１】
一定厚の被検査体の表面に平行に超音波探触子を走査して、各走査位置において超音波の発振から底面反射波を受信するまでの受信時間を計測し、受信時間の最頻値を頂点とするヒストグラムにおいて、当該ヒストグラムの左右対称形が崩れた領域における前記受信時間を示す走査位置に欠陥があるものとする超音波欠陥検出方法。
続きを表示（約 180 文字）【請求項２】
前記左右対称形が崩れた領域における前記受信時間を示す各走査位置の座標より前記被検査体の平面的広がりを検出する請求項１に記載の超音波欠陥検出方法。
【請求項３】
前記左右対称形が崩れた領域における各走査位置での前記受信時間と、前記最頻値を示す受信時間の差から前記平面内欠陥部の厚みを検出する請求項２に記載の超音波欠陥検出方法。

発明の詳細な説明【技術分野】
【０００１】
本発明は超音波欠陥検出方法に関し、特に母材中の溶け残り等の欠陥検出に有用な超音波欠陥検出方法に関するものである。
続きを表示（約 1,200 文字）【背景技術】
【０００２】
超音波を使用して被検査体中の欠陥を検出する場合、当該欠陥が空隙や介在物等である場合にはこれら欠陥での超音波の反射を利用することが多い。これは、被検査体の表面での反射波と底面での反射波の間に検出ウインドウを設定し、この検出ウインドウ内に反射波が現れると、これを欠陥からの反射として検出するものである。
【０００３】
なお、特許文献１には、連続鋳造の鋳片内の凝固部を検査する方法が提案されており、ここでは、鋳片内に超音波を発生させて、超音波の発生と当該超音波による表面振動の発生の時間差が、鋳片内の上記凝固部による音速低下に依存することを利用している。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００４】
特開２００６－３４３２０３
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００５】
ところで、母材中の溶け残り等の欠陥では、欠陥と母材の材料が同質であるために欠陥表面での反射率が小さく、このため欠陥反射を利用する従来方法では十分な反射波強度が得られずノイズに埋もれてしまうために欠陥の検出が困難であるという問題があった。母材中の溶け残り等の欠陥に関し、Ｘ線の利用も考えられるが、被ばく防止の構造等、設備が大掛かりになって製造現場に簡易に設置することが難しい。
【０００６】
そこで、本発明はこのような課題を解決するもので、製造現場に簡易に設置して被検査体中の溶け残り等の欠陥検出を確実に行うことができる超音波欠陥検出方法を提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【０００７】
上記目的を達成するために、本第１発明では、一定厚の被検査体（Ｍ）の表面に平行に超音波探触子（１）を走査して、各走査位置において超音波の発振から底面反射波を受信するまでの受信時間を計測し、受信時間の最頻値を頂点とするヒストグラムにおいて、当該ヒストグラムの左右対称形が崩れた領域（Ｘ）における前記受信時間を示す走査位置に欠陥があるものとする。
【０００８】
本第１発明によれば、欠陥部では超音波の速度が正常部とは異なるために、受信時間の最頻値を頂点とするヒストグラムが左右非対称となる。そこで、左右対称形が崩れた領域における受信時間を示す走査位置に欠陥があるもの確定できる。受信時間の最頻値を基準としているから被検査体の厚みが変わっても欠陥の判定を確実に行うことができる。
【０００９】
本第２発明では、前記左右対称形が崩れた領域（Ｘ）における前記受信時間を示す各走査位置の座標より前記被検査体の平面的広がりを検出する。
【００１０】
本第２発明によれば、受信時間（音速）の差（又は比）を最頻値と崩れた領域（欠陥部の各点）を比較することで、欠陥部の平面的広がりを確実に検出することができる。
（【００１１】以降は省略されています）

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