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公開番号2025104505
公報種別公開特許公報(A)
公開日2025-07-10
出願番号2023222353
出願日2023-12-28
発明の名称光学測定装置
出願人ウシオ電機株式会社
代理人個人,個人
主分類G01N 21/78 20060101AFI20250703BHJP(測定;試験)
要約【課題】複数種類の測定試料の観測光を同時に得ることができる光学測定装置を提供する。
【解決手段】光学測定装置1は、複数の試薬に対応する複数の反応槽に励起光を照射する光源ユニット20と、反応槽108a～108dにそれぞれ収容された各測定試料から放射される観測光を測定するセンサユニット60と、各測定試料から放射される各観測光をセンサユニット60へ導光する導光路42a～42dおよび導光路42a～42dを包囲する遮蔽部材44からなる導光機構40とを備え、導光路42aは反応槽108aと、導光路42bは反応槽108bと、導光路42cは反応槽108cと、導光路42dは反応槽108dとそれぞれ一対一に対応するように設けられている。
【選択図】図2
特許請求の範囲【請求項１】
筐体内に配置された反応槽に収容された、試薬と混合した検体からなる測定試料に励起光を照射し、当該測定試料からの観測光を測定する光学測定装置において、
前記筐体内に配置され、複数種類の試薬にそれぞれ対応する複数の前記反応槽に収容された各前記測定試料に対して励起光を照射する光源ユニットと、
前記筐体内に配置され、前記各測定試料から放射される観測光を測定するセンサユニットと、
前記筐体内に配置され、前記各測定試料から放射される観測光を前記センサユニットへ導光する第１導光路および当該第１導光路を包囲する第１遮光部材からなる第１導光機構と、を備え、
前記第１導光機構は、前記複数の反応槽と同数の前記第１導光路を有し、各前記第１導光路は各前記反応槽と一対一に対応するように設けられていることを特徴とする光学測定装置。
続きを表示（約 1,100 文字）【請求項２】
請求項１において、
前記光源ユニットは、前記複数の反応槽と同数の光源を有し、各光源は前記各反応槽にそれぞれ一対一に対応するように設けられていることを特徴とする光学測定装置。
【請求項３】
請求項２において、
前記筐体内に配置され、前記複数の光源からそれぞれ放射される各励起光を前記複数の反応槽へ導光する第２導光路および当該第２導光路を包囲する第２遮光部材からなる第２導光機構をさらに備え、
前記第２導光機構は、前記複数の光源と同数の前記第２導光路を有し、各第２導光路は前記各光源と一対一に対応するように設けられていることを特徴とする光学測定装置。
【請求項４】
請求項１において、
前記光源ユニットは１つの光源から構成され、
前記１つの光源から放射される励起光を拡散して前記各反応槽に照射する拡散部材をさらに備えることを特徴とする光学測定装置。
【請求項５】
請求項１において、
前記光源ユニットは１つの光源から構成され、
前記１つの光源から放射される励起光を分岐させて前記各反応槽に照射する光ファイバーをさらに備えることを特徴とする光学測定装置。
【請求項６】
請求項１において、
前記センサユニットは、前記複数の第１導光路と同数の受光センサを有し、各受光センサは前記各第１導光路と一対一に対応するように設けられていることを特徴とする光学測定装置。
【請求項７】
請求項１において、
前記センサユニットは、前記各第１導光路からそれぞれ出射される観測光を共通に受光する１つの受光センサを有することを特徴とする光学測定装置。
【請求項８】
請求項７において、
前記筐体内に配置され、前記複数の第１導光路のうち、いずれか１つの第１導光路の観測光の入射端または出射端を選択的に開放し、かつ、残りの第１導光路の前記入射端または前記出射端を遮蔽する光路選択部材をさらに備え、
前記１つの受光センサは、前記複数の第１導光路のうち前記光路選択部材で開放された第１導光路から出射される観測光のみを受光することを特徴とする光学測定装置。
【請求項９】
請求項１において、
前記複数の第１導光路の受光する各観測光は、同じ検体と他とは異なる別個の試薬との反応から得られた観測光であることを特徴とする光学測定装置。
【請求項１０】
請求項１において、
前記筐体内に配置され、前記複数の反応槽を加熱する加熱機構をさらに備えることを特徴とする光学測定装置。
（【請求項１１】以降は省略されています）
発明の詳細な説明【技術分野】
【０００１】
本発明は、測定試料中の病原体等の標的物質の有無を光学的に測定する光学測定装置に関する。
続きを表示（約 2,800 文字）【背景技術】
【０００２】
従来から、検体中の細菌やウイルス等の標的物質の検査方法として、検体中の標的物質を試薬に反応させてなる測定試料に可視光や紫外線からなる励起光を照射し、測定試料からの観測光をセンサで受光して、標的物質の有無を調べる光学測定方法が知られている。
このような光学測定方法を利用した光学測定装置は、例えば、下記特許文献１および２に記載されている。
特許文献１および２に記載の技術では、１つの測定試料と１つの受光センサとの間の光路に１つの導光路があり、導光路は、測定試料からの観測光が透過するように構成されている。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００３】
特許第７２０５１９０号公報
特許第６４３３３９８号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００４】
しかしながら、上記従来の技術では、１つの測定試料からの観測光を１つの導光路にて１つのセンサへと導光する構成となっている。そのため、複数種類の測定試料の観測光をセンサへと同時に導光することができず、複数種類の観測光を複数のセンサで同時に測定したり、１つのセンサで順次に切り換えて測定したりすることができなかった。
そこで、本発明は、複数種類の測定試料の観測光をセンサ側へと同時に導光することができる光学測定装置を提供することを課題としている。
【課題を解決するための手段】
【０００５】
上記課題を解決するために、本発明に係る光学測定装置の一態様は、筐体内に配置された反応槽に収容された、試薬と混合した検体からなる測定試料に励起光を照射し、当該測定試料からの観測光を測定する光学測定装置において、前記筐体内に配置され、複数種類の試薬にそれぞれ対応する複数の前記反応槽に収容された各前記測定試料に対して励起光を照射する光源ユニットと、前記筐体内に配置され、前記各測定試料から放射される観測光を測定するセンサユニットと、前記筐体内に配置され、前記各測定試料から放射される観測光を前記センサユニットへ導光する第１導光路および当該第１導光路を包囲する第１遮光部材からなる第１導光機構と、を備え、前記第１導光機構は、前記複数の反応槽と同数の前記第１導光路を有し、各前記第１導光路は各前記反応槽と一対一に対応するように設けられている。
また、上記の光学測定装置において、前記光源ユニットは、前記複数の反応槽と同数の光源を有し、各光源は前記各反応槽にそれぞれ一対一に対応するように設けられていてもよい。
【０００６】
また、上記の光学測定装置において、前記筐体内に配置され、前記複数の光源からそれぞれ放射される各励起光を前記複数の反応槽へ導光する第２導光路および当該第２導光路を包囲する第２遮光部材からなる第２導光機構をさらに備え、前記第２導光機構は、前記複数の光源と同数の前記第２導光路を有し、各第２導光路は前記各光源と一対一に対応するように設けられていてもよい。
また、上記の光学測定装置において、前記光源ユニットは１つの光源から構成され、
前記１つの光源から放射される励起光を拡散して前記各反応槽に照射する拡散部材をさらに備えていてもよい。
また、上記の光学測定装置において、前記光源ユニットは１つの光源から構成され、
前記１つの光源から放射される励起光を分岐させて前記各反応槽に照射する光ファイバーをさらに備えていてもよい。
また、上記の光学測定装置において、前記センサユニットは、前記複数の第１導光路と同数の受光センサを有し、各受光センサは前記各第１導光路と一対一に対応するように設けられていてもよい。
また、上記の光学測定装置において、前記センサユニットは、前記各第１導光路からそれぞれ出射される観測光を共通に受光する１つの受光センサを有していてもよい。
【０００７】
また、上記の光学測定装置において、前記筐体内に配置され、前記複数の第１導光路のうち、いずれか１つの第１導光路の観測光の入射端または出射端を選択的に開放し、かつ、残りの第１導光路の前記入射端または前記出射端を遮蔽する光路選択部材をさらに備え、前記１つの受光センサは、前記複数の第１導光路のうち前記光路選択部材で開放された第１導光路から出射される観測光のみを受光する構成としてもよい。
また、上記の光学測定装置において、前記複数の第１導光路の受光する各観測光は、他の観測光とは異なる種類の試薬を含む１または複数の試薬と個別に反応した観測光であってもよい。
また、上記の光学測定装置において、前記筐体内に配置され、前記複数の反応槽を加熱する加熱機構をさらに備えていてもよい。
また、上記の光学測定装置において、前記加熱機構は、前記複数の反応槽と同数の個別に温度調整が可能な加熱部を有し、各加熱部は前記各反応槽に一対一に対応するように設けられていてもよい。
【発明の効果】
【０００８】
本発明の光学測定装置は、複数種類の測定試料の観測光をセンサ側へと同時に導光することができる。
【図面の簡単な説明】
【０００９】
第１実施形態における光学測定装置の概略構成を示す側面断面図であり、図２のＢ－Ｂ’線に対応する断面図である。
第１実施形態における光学測定装置の概略構成を示す平面断面図であり、図１のＡ－Ａ’線に対応する断面図である。
第１実施形態における光学測定装置の概略構成を示す正面断面図であり、図２のＣ－Ｃ’線に対応する断面図である。
図４は、カートリッジの概略構成を示す平面図である。
第２実施形態における光学測定装置の概略構成を示す側面断面図である。
第２実施形態における光学測定装置の概略構成を示す正面断面図である。
第３実施形態における光学測定装置の概略構成を示す正面断面図である。
第４実施形態における光学測定装置の概略構成を示す正面断面図である。
第５実施形態における光学測定装置の概略構成を示す正面断面図である。
第６実施形態における光学測定装置の概略構成を示す側面断面図である。
遮蔽機構の具体的構成例を示す図である。
【発明を実施するための形態】
【００１０】
以下、添付図面を参照して、本発明を実施するための様々な形態について詳細に説明する。
なお、以下に説明する実施の形態は、本発明の実現手段としての一例であり、本発明が適用される装置の構成や各種条件によって適宜修正または変更されるべきものであり、本発明は以下の実施の形態に限定されるものではない。
（【００１１】以降は省略されています）

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