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公開番号2024094730
公報種別公開特許公報(A)
公開日2024-07-10
出願番号2022211465
出願日2022-12-28
発明の名称磁気検出装置
出願人ローム株式会社
代理人個人,個人
主分類G01R 33/02 20060101AFI20240703BHJP(測定;試験)
要約【課題】磁気の検出精度を高める。
【解決手段】磁気検出装置10は、磁気検出素子20と、磁気検出素子20に対向して配置され、磁束を磁気検出素子20に誘導する集磁体40と、を備える。集磁体40は、磁気検出素子20に対する集磁体40の対向方向に延びた第1集磁部41と、対向方向から見た平面視において、第1集磁部41よりも側方に突出した第2集磁部42と、を含む。集磁体40は、第2集磁部42を貫く磁束を、第1集磁部41を介して磁気検出素子20に誘導するものである。
【選択図】図1
特許請求の範囲【請求項１】
磁気検出素子と、
前記磁気検出素子に対向して配置され、磁束を前記磁気検出素子に誘導する集磁体と、を備え、
前記集磁体は、
前記磁気検出素子に対する前記集磁体の対向方向に延びた第１集磁部と、
前記対向方向から見た平面視において、前記第１集磁部よりも側方に突出した第２集磁部と、を含み、
前記集磁体は、前記第２集磁部を貫く磁束を、前記第１集磁部を介して前記磁気検出素子に誘導するものである、磁気検出装置。
続きを表示（約 1,000 文字）【請求項２】
前記第２集磁部は、前記第１集磁部と連続する基端部と、前記平面視において当該第２集磁部の外周縁に位置する先端部とを有し、
前記先端部の少なくとも一部は、前記平面視において、前記第１集磁部よりも側方に位置している、請求項１に記載の磁気検出装置。
【請求項３】
前記第２集磁部の前記基端部は、前記対向方向における前記第１集磁部の端部であって、前記磁気検出素子側の端部の反対側に位置する端部と連続している、請求項２に記載の磁気検出装置。
【請求項４】
前記磁気検出素子は、磁束を検出するためのセンサ部を有し、
前記第２集磁部の前記先端部の少なくとも一部は、前記平面視において、前記センサ部からはみ出している、請求項２に記載の磁気検出装置。
【請求項５】
前記第２集磁部は、前記平面視において、矩形状の外形を有する、請求項１に記載の磁気検出装置。
【請求項６】
前記第２集磁部は、前記平面視において、矩形状の外形を有し、
前記第２集磁部の前記先端部は、前記矩形状の四辺の各々に位置する第１辺部、第２辺部、第３辺部、および第４辺部を有し、
前記第２集磁部における前記基端部から前記第１辺部までの距離、前記基端部から前記第２辺部までの距離、前記基端部から前記第３辺部までの距離、および前記基端部から前記第４辺部までの距離の少なくとも１つは、０．１μｍ以上２５０μｍ以下である、請求項２に記載の磁気検出装置。
【請求項７】
前記第１集磁部は、
前記磁気検出素子に向けて延びる柱状の支持部と、
前記支持部の表面にコーティングされた磁性体膜と、
を含む、請求項１に記載の磁気検出装置。
【請求項８】
前記第１集磁部は、前記第２集磁部と連続している側面を有し、
前記側面は、前記対向方向に平行な直立面を含む、請求項１に記載の磁気検出装置。
【請求項９】
前記第１集磁部は、前記対向方向を高さ方向とする直方体形状である、請求項８に記載の磁気検出装置。
【請求項１０】
前記対向方向において、前記第１集磁部の長さは、０．２μｍ以上２００μｍ以下である、請求項１に記載の磁気検出装置。
（【請求項１１】以降は省略されています）
発明の詳細な説明【技術分野】
【０００１】
本発明は、磁気検出装置に関する。
続きを表示（約 1,400 文字）【背景技術】
【０００２】
従来の磁気検出装置として、例えば特許文献１には、リードフレームにホール素子が実装されて封止樹脂でホール素子を封止することによりパッケージ化された磁気測定装置の構成が開示されている。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００３】
特開２０１４－０７７７３０号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００４】
従来の磁気検出装置は、磁気検出装置周囲の磁界が弱い場合、ホール素子の磁気検出面を通過する磁束密度が低いため、磁気の検出精度が低下してしまう。
【課題を解決するための手段】
【０００５】
本開示の一態様である磁気検出装置は、磁気検出素子と、前記磁気検出素子に対向して配置され、磁束を前記磁気検出素子に誘導する集磁体と、を備え、前記集磁体は、前記磁気検出素子に対する前記集磁体の対向方向に延びた第１集磁部と、前記対向方向から見た平面視において、前記第１集磁部よりも側方に突出した第２集磁部と、を含み、前記集磁体は、前記第２集磁部を貫く磁束を、前記第１集磁部を介して前記磁気検出素子に誘導するものである。
【発明の効果】
【０００６】
本開示の一態様である磁気検出装置によれば、磁気の検出精度を高めることができる。
【図面の簡単な説明】
【０００７】
図１は、第１実施形態の磁気検出装置の概略断面図である。
図２は、第１実施形態の集磁体の斜視図である。
図３は、平面視における集磁体と磁気検出装置のセンサ部との位置関係を示す平面図である。
図４は、集磁体により誘導される磁束のシミュレーション結果を示す概略断面図である。
図５は、第２実施形態の磁気検出装置の概略断面図である。
図６は、第３実施形態の磁気検出装置の概略断面図である。
【発明を実施するための形態】
【０００８】
以下、図面を参照して本開示における磁気検出装置の実施形態を説明する。
なお、説明を簡単かつ明確にするために、図面に示される構成要素は必ずしも一定の縮尺で描かれていない。また、理解を容易にするために、断面図では、ハッチング線が省略されている場合がある。添付の図面は、本開示の実施形態を例示するに過ぎず、本開示を制限するものとみなされるべきではない。
【０００９】
以下の詳細な記載は、本開示の例示的な実施形態を具体化する装置、システム、および方法を含む。この詳細な記載は本来説明のためのものに過ぎず、本開示の実施形態またはこのような実施形態の適用および使用を限定することを意図していない。
【００１０】
＜第１実施形態＞
図１～図３を参照して、第１実施形態の磁気検出装置１０について説明する。
図１は、磁気検出装置１０を示す概略断面図である。なお、本開示において使用される「Ｘ方向」は、図１に示される互いに直交するＸＹＺ軸のＸ方向に沿った方向を意味し、「Ｙ方向」は、上記ＸＹＺ軸のＹ方向に沿った方向を意味し、「Ｚ方向」は、上記ＸＹＺ軸のＺ方向に沿った方向を意味する。本開示において使用される「平面視」という用語は、上記ＸＹＺ軸のＺ軸に沿って上方から磁気検出装置１０を視ることを意味する。
（【００１１】以降は省略されています）

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