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公開番号2025150677
公報種別公開特許公報(A)
公開日2025-10-09
出願番号2024051691
出願日2024-03-27
発明の名称自動画面操作テスト支援装置及び自動画面操作テスト支援方法
出願人株式会社日立製作所
代理人青稜弁理士法人
主分類G06F 11/36 20060101AFI20251002BHJP(計算;計数)
要約【課題】画面システムの自動画面操作テストにおいて、手作業の工数がかからずに問題のある不良差分を抽出できる自動画面操作テスト支援装置及び自動画面操作テスト支援方法を提供する。
【解決手段】自動画面操作テスト支援装置は、同一の画面システムに対して、複数回自動画面操作テストを実行することにより生じたキャプチャ画面の差分を非不良差分情報テーブルに記録する非不良リスト作成処理を実行する。自動画面操作テスト支援装置は、比較基準の画面システム及び比較対象の画面システムに対して、自動画面操作テストを実行することにより生じたキャプチャ画面の差分から非不良差分を除いて不良差分を特定する不良差分チェック処理を実行する。
【選択図】図1
特許請求の範囲【請求項１】
非不良差分リストデータ及び差分情報リストデータが格納された記憶装置を有する情報処理装置を含む自動画面操作テスト支援装置であって、
前記情報処理装置は、
比較基準及び比較対象の同一の非不良差分登録用の画面システムのそれぞれに対して特定のシナリオが示す操作内容の自動画面操作を行うことにより取得される第１比較基準画面と第１比較対象画面とを比較することにより、前記第１比較基準画面に対して前記第１比較対象画面に生じた差分を抽出する第１自動画面操作テストを複数回実行し、抽出した前記差分を判別して非不良差分として前記非不良差分リストデータに記録する非不良リスト作成処理を実行し、
比較基準の前記非不良差分登録用の画面システム及び比較対象の不良抽出対象の画面システムのそれぞれに対して、前記特定のシナリオと同一のシナリオが示す操作内容の自動画面操作を行うことにより取得された第２比較基準画面と第２比較対象画面とを比較することにより、前記第２比較基準画面に対して前記第２比較対象画面に生じた差分を抽出する第２自動画面操作テストを実行し、抽出した前記差分を判別して前記差分情報リストデータに記録し、前記差分情報リストデータ及び前記非不良差分リストデータに基づいて、前記差分情報リストデータの中の前記非不良差分リストデータに記録された前記非不良差分と同一の前記差分を非不良差分として特定し、前記差分情報リストデータの中から特定した前記非不良差分以外の前記差分を不良差分として特定する不良差分チェック処理を実行する、
ように構成された、
自動画面操作テスト支援装置。
続きを表示（約 1,900 文字）【請求項２】
請求項１に記載の自動画面操作テスト支援装置において、
前記情報処理装置は、
前記非不良リスト作成処理において、前記差分の座標情報、コンテンツ種別及び差分種別を含む差分の属性情報を判別して、前記非不良差分リストデータに記録し、
前記不良差分チェック処理において、前記差分の座標情報、コンテンツ種別及び差分種別を含む差分の属性情報を判別して、前記差分情報リストデータに記録し、前記非不良差分リストデータに記録した前記差分の属性情報及び前記差分情報リストデータに記録した前記差分の属性情報に基づいて、前記差分情報リストデータの中の前記非不良差分を特定する、
ように構成された、
自動画面操作テスト支援装置。
【請求項３】
請求項２に記載の自動画面操作テスト支援装置において、
前記情報処理装置は、
前記非不良リスト作成処理において、前記第１自動画面操作テストを複数回実行した場合に生じた同一の差分の発生回数を前記非不良差分リストデータに記録し、前記発生回数に基づいて、前記差分を前記非不良差分リストデータに前記非不良差分として記録するか否かを決定する、
ように構成された、
自動画面操作テスト支援装置。
【請求項４】
請求項３に記載の自動画面操作テスト支援装置において、
前記情報処理装置は、
前記非不良リスト作成処理において、前記差分の属性情報に基づいて同一の差分であるか否かを判定する、
ように構成された、
自動画面操作テスト支援装置。
【請求項５】
請求項４に記載の自動画面操作テスト支援装置において、
前記情報処理装置は、
前記非不良リスト作成処理において、前記発生回数が閾値回数より多い場合、前記差分を前記非不良差分リストデータに前記非不良差分として記録し、前記発生回数が前記閾値回数以下である場合、前記差分を前記非不良差分リストデータに非不良差分から除外された差分として記録する、
ように構成された、
自動画面操作テスト支援装置。
【請求項６】
請求項５に記載の自動画面操作テスト支援装置において、
ユーザによって操作されることにより前記情報処理装置に情報を入力する操作装置を備え、
前記情報処理装置は、
前記操作装置から入力された情報に基づいて、前記閾値回数を設定する、
ように構成された、
自動画面操作テスト支援装置。
【請求項７】
請求項４に記載の自動画面操作テスト支援装置において、
ユーザによって操作されることにより前記情報処理装置に情報を入力する操作装置を備え、
前記情報処理装置は、
前記操作装置から入力された情報に基づいて、前記非不良リスト作成処理における同一の差分であるか否かを判定するための判定基準を設定する、
ように構成された、
自動画面操作テスト支援装置。
【請求項８】
請求項２に記載の自動画面操作テスト支援装置において、
前記情報処理装置は、
前記不良差分チェック処理において、前記差分情報リストデータの中の前記非不良差分と特定できない差分のうち、特定の判断基準を満たす差分を前記非不良差分として特定する、
ように構成された、
自動画面操作テスト支援装置。
【請求項９】
請求項８に記載の自動画面操作テスト支援装置において、
前記情報処理装置は、
前記不良差分チェック処理において、前記非不良差分として特定できない前記差分のうち、前記非不良差分リストデータに記録されている前記差分に対する前記差分の属性情報のずれが前記座標情報のみであって、前記座標情報のずれが所定の閾値以下である差分は、前記特定の判断基準を満たす差分と判定し、前記非不良差分として特定する、
ように構成された、
自動画面操作テスト支援装置。
【請求項１０】
請求項８に記載の自動画面操作テスト支援装置において、
ユーザによって操作されることにより前記情報処理装置に情報を入力する操作装置を備え、
前記情報処理装置は、
前記操作装置から入力された情報に基づいて、前記特定の判断基準を設定する、
ように構成された、
自動画面操作テスト支援装置。
（【請求項１１】以降は省略されています）
発明の詳細な説明【技術分野】
【０００１】
本発明は、自動画面操作テスト支援装置及び自動画面操作テスト支援方法に関する。
続きを表示（約 2,000 文字）【背景技術】
【０００２】
プログラムの自動テストの手法の１つとして、プログラム実行結果の画像を比較して差分を抽出し、不良を摘出する手法（自動画面操作テスト）がある。
【０００３】
自動画面操作テストの適用の一例は、エンハンス前の画面システムと、エンハンス後の画面システムとで、同じ条件の下、同一の操作内容を示すシナリオを自動実行するスクリプトを実行する。その後、エンハンス前とエンハンス後の画面システムのシナリオの各操作の間のポイントのそれぞれで保存したキャプチャ（ビットマップデータ）を全て比較することにより、差分が生じていないかを調べて、差分が生じた箇所を特定し、特定した差分を示す情報を出力することにより、ユーザに対して差分を示す情報を提供する。
【０００４】
自動画面操作テストで確認できる差分は、発生すると問題がある不良差分と、発生しても問題ない非不良差分とに大別できる。しかし、従来の自動画面操作テストは、シナリオ毎に各操作の間の多量のポイントでキャプチャ（ビットマップデータ）を多量に撮り、これらの２種類の差分を区別することなく、差分を特定するたびに特定した差分を示す情報を出力するため、多量の差分を確認するための作業量が膨大になってしまう。
【０００５】
［従来技術１］
そこで、従来技術の一例（「従来技術１」と呼ぶ。）は、自動画面操作テストを行う前に、予め問題のない変化が起こる箇所を手作業にて青色の枠を覆うことで指定することにより、指定した箇所を差分比較対象から除いて自動画面操作テストを行う。これにより、従来技術１は、差分比較対象を減らすことができる。
【０００６】
［従来技術２］
特許文献１（特開２０２０－５２８６１号公報）の技術（「従来技術２」と呼ぶ。）は、第１実行条件で第１のプログラムを実行した実行結果として出力される結果画面を画像化した第１態様の結果画像を取得する。従来技術２は、第２実行条件で第２のプログラムを実行した実行結果として出力される結果画面を画像化した第２態様の結果画像を取得する。従来技術２は、第１態様の結果画像と第２態様の結果画像とを比較して、相違箇所を検出する。従来技術２の制御部は、所定規則に基づいて、検出した相違箇所から検証テストにおいて検証不要とする領域の候補である候補領域を特定する。従来技術２は、候補領域を特定可能な態様とした第３態様の結果画像を表示部に表示させ、検証テストにおいて検証不要とする領域である検証不要領域の設定を受けつける。ユーザは、表示部に表示された第３態様の結果画像を目視で確認し、検証不要領域の設定を行う。これにより、従来技術２は、プログラムの検証テストを行うための検証不要領域の設定を簡易に行うことができる。
【０００７】
［従来技術３］
特許文献２（特開２００１－２８２５７８号公報）の技術（「従来技術３」と呼ぶ。）は、被テストプログラムに対するテスト操作手順とその操作手順に対する被テストプログラムの出力結果を記録する。従来技術３は、同じ被テストプログラムに対して、記録したテスト操作手順を再生し、その出力結果と記録した出力結果との差分を取り、これを比較除外データとして設定する。従来技術３は、被テストプログラムを改正した後、その改正後被テストプログラムに対して、記録したテスト操作手順を再生し、その出力結果と前記記録した出力結果との差分を取り、さらに比較除外データに存在しない差分を真の差分として出力する。これにより、従来技術３は、比較対象外とする部分を自動で設定することにより、設定漏れと手間をなくし、比較の差分表示が、被テストプログラムの仕様上のものでなく、不良を原因とするものであることを容易に把握できるようにしてプログラムテストを行うことができる。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００８】
特開２０２０－５２８６１号公報
特開２００１－２８２５７８号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００９】
従来技術１では、問題のない変化が起こる箇所の指定を手作業で行う必要があるので、手作業量が多くなってしまう課題がある。従来技術１では、指定箇所の差分を検出しないので、指定した箇所内で問題のある不良が発生した場合、問題のある不良を気づけずに見逃してしまうことが生じ得る課題がある。
【００１０】
従来技術２も、ユーザが手作業で検証不要とする領域である検証不要領域を設定するため、手作業量が多くなってしまう課題がある。更に、従来技術２は、固定で検証不要領域を設定し、検証不要領域の差分を検出しないので、検証不要領域に生じる問題のある不良差分を抽出することができない。
（【００１１】以降は省略されています）

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