特許ウォッチ

公開番号2025130512
公報種別公開特許公報(A)
公開日2025-09-08
出願番号2024027732
出願日2024-02-27
発明の名称転写装置及び部品実装機
出願人ヤマハ発動機株式会社
代理人弁理士法人三協国際特許事務所
主分類H05K 13/04 20060101AFI20250901BHJP(他に分類されない電気技術)
要約【課題】貯留槽内での転写材の膜厚を精度良く求めることが可能な転写装置及びそれを備えた部品実装機を提供する。
【解決手段】転写装置24は、底面部2411及び周壁部2412を含む貯留槽241と、底面部2411の底面2411Sに対して転写材を膜状に広げるブレード2421を含むブレード部材242と、計測ユニット244と、処理ユニット245とを備える。計測ユニット244は、周壁部2412の上面の高さを示す周壁上面高さHWを計測するとともに、ブレード2421の上面の高さを示すブレード上面高さHBを計測する。処理ユニット245は、周壁上面高さHWとブレード上面高さHBとに基づき、底面2411Sとブレード2421との間の隙間を示すクリアランスCLを算出する。
【選択図】図4
特許請求の範囲【請求項１】
電子部品に転写される転写材を貯留可能な有底筒状に形成され、前記電子部品が当接される底面を有する底面部と、前記底面部の周縁端から上方に突出した周壁部と、を含む貯留槽と、
前記貯留槽内の前記転写材を前記底面に対して膜状に広げるブレードと、前記ブレードが取り付けられるブレード取付部と、を含み、前記貯留槽の上方に配置されたブレード部材と、
前記貯留槽及び前記ブレード部材の上方に配置され、前記周壁部の上面の高さを示す周壁上面高さを計測するとともに、前記ブレードまたは前記ブレード取付部の上面の高さを示すブレード上面高さを計測する計測ユニットと、
前記周壁上面高さと前記ブレード上面高さとに基づき、前記底面と前記ブレードとの間の隙間を示すクリアランスを算出する処理を行う処理ユニットと、を備える、転写装置。
続きを表示（約 1,400 文字）【請求項２】
前記ブレードは、前記底面に対して所定の長手方向に延びる形状を有しており、
前記処理ユニットは、前記ブレードの前記長手方向の複数点にそれぞれ対応して前記クリアランスを算出し、その算出結果を示す前記クリアランスの最大値、最小値、及び中央値または平均値の情報を含むクリアランス情報を出力する、請求項１に記載の転写装置。
【請求項３】
前記ブレード取付部は、上下方向に延びる複数の長孔を有し、前記クリアランス情報に基づき前記底面に対する前記ブレードの傾きの調整が可能に、複数の前記長孔に挿通されるねじ部材により前記ブレードが取り付けられる、請求項２に記載の転写装置。
【請求項４】
前記クリアランス情報に基づき前記底面に対する前記ブレードの高さ位置を調整可能に、前記ブレード部材を上下方向に移動させるブレード移動機構を、更に備える、請求項２に記載の転写装置。
【請求項５】
前記計測ユニットは、所定期間において前記ブレード移動機構により前記ブレード部材が移動されるごとに、前記ブレード上面高さの計測を繰り返し行い、
前記処理ユニットは、前記所定期間において前記計測ユニットにより前記ブレード上面高さの計測が繰り返されるごとに前記クリアランスを算出し、その算出結果を示す前記クリアランス情報を出力する、請求項４に記載の転写装置。
【請求項６】
前記処理ユニットは、前記計測ユニットによる前記ブレード上面高さの計測の繰り返し回数が所定の基準回数を超えた場合、その旨を報知するための報知情報を出力する、請求項５に記載の転写装置。
【請求項７】
前記計測ユニットは、定期的に前記周壁上面高さ及び前記ブレード上面高さを計測し、
前記処理ユニットは、前記計測ユニットによる計測が定期的に行われるごとに前記クリアランスを算出し、その算出結果を示す前記クリアランス情報を出力する、請求項２に記載の転写装置。
【請求項８】
前記処理ユニットは、前記クリアランス情報に含まれる前記クリアランスの中央値または平均値が所定の目標範囲に収まるように、前記ブレード移動機構による前記ブレード部材の移動を制御する処理を行う、請求項４に記載の転写装置。
【請求項９】
上下方向に移動可能に設けられ、電子部品を保持するとともに当該電子部品を基板に実装する実装ヘッドを含むヘッドユニットと、
前記実装ヘッドの上下方向への移動を制御する制御ユニットと、
前記実装ヘッドにより保持された前記電子部品に転写材を転写する、請求項１～８のいずれか１項に記載の転写装置と、を備え、
前記制御ユニットは、前記転写装置において前記実装ヘッドにより保持された前記電子部品に前記転写材を転写する場合には、前記底面部の前記底面に前記電子部品が当接するように前記実装ヘッドを移動させ、
前記計測ユニットは、前記ヘッドユニットに取り付けられ、前記基板の上面の高さを示す基板上面高さを計測することが可能である、部品実装機。
【請求項１０】
前記転写装置は、上下方向において、前記周壁部の上面と前記ブレードまたは前記ブレード取付部の上面とが、前記基板上面高さを計測するときの前記計測ユニットの計測範囲内に位置するように、設置される、請求項９に記載の部品実装機。
（【請求項１１】以降は省略されています）
発明の詳細な説明【技術分野】
【０００１】
本発明は、電子部品に転写材を転写する転写装置、及びそれを備えた部品実装機に関する。
続きを表示（約 1,700 文字）【背景技術】
【０００２】
プリント基板等の基板上に電子部品を実装して実装基板を生産するための部品実装機として、電子部品の電極にフラックス等の転写材を転写する転写装置を備えた構成が知られている。転写装置は、転写材を貯留する貯留槽と、貯留槽内の転写材を膜状に広げるブレードとを備えている。転写装置では、電子部品が貯留槽の底面に当接した状態で、貯留槽内において膜状に広げられた転写材に浸漬される。このため、電子部品の表面には、貯留槽内での転写材の膜厚に相当する高さ位置まで転写材層が形成される。
【０００３】
電子部品の表面における転写材層の形成量を適正に調整するためには、貯留槽内での転写材の膜厚を精度良く求める必要がある。例えば、特許文献１には、部品実装機の搭載ヘッドに取り付けられた高さ計測センサにより、貯留槽の底面の高さと転写材の液面の高さとを計測し、これらの高さの差に基づき貯留槽内での転写材の膜厚を算出する技術が開示されている。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００４】
特開２０１４－７８５８１号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００５】
しかしながら、例えば透明な転写材が用いられている場合には、貯留槽の底面の高さと転写材の液面の高さとを精度良く計測することは難しい。このため、貯留槽内での転写材の膜厚を精度良く求めることは難しい。
【０００６】
本発明の目的は、貯留槽内での転写材の膜厚を精度良く求めることが可能な転写装置及びそれを備えた部品実装機を提供することにある。
【課題を解決するための手段】
【０００７】
本発明の一の局面に係る転写装置は、電子部品に転写される転写材を貯留可能な有底筒状に形成され、前記電子部品が当接される底面を有する底面部と、前記底面部の周縁端から上方に突出した周壁部と、を含む貯留槽と、前記貯留槽内の前記転写材を前記底面に対して膜状に広げるブレードと、前記ブレードが取り付けられるブレード取付部と、を含み、前記貯留槽の上方に配置されたブレード部材と、前記貯留槽及び前記ブレード部材の上方に配置され、前記周壁部の上面の高さを示す周壁上面高さを計測するとともに、前記ブレードまたは前記ブレード取付部の上面の高さを示すブレード上面高さを計測する計測ユニットと、前記周壁上面高さと前記ブレード上面高さとに基づき、前記底面と前記ブレードとの間の隙間を示すクリアランスを算出する処理を行う処理ユニットと、を備える。
【０００８】
この転写装置によれば、処理ユニットは、貯留槽内における転写材の有無に関わらず、計測ユニットにより計測された周壁上面高さに基づき底面部の底面の高さ位置を求めることができるとともに、計測ユニットにより計測されたブレード上面高さに基づきブレードの下端縁の高さ位置を求めることができる。これにより、処理ユニットは、底面部の底面とブレードの下端縁との間の隙間を示すクリアランスを、貯留槽内における転写材の有無に関わらず、精度良く算出することができる。このため、処理ユニットは、底面部の底面に対してブレードにより膜状に広げられる転写材の膜厚を、クリアランスに基づき精度良く求めることができる。
【０００９】
上記の転写装置において、前記ブレードは、前記底面に対して所定の長手方向に延びる形状を有している。前記処理ユニットは、前記ブレードの前記長手方向の複数点にそれぞれ対応して前記クリアランスを算出し、その算出結果を示す前記クリアランスの最大値、最小値、及び中央値または平均値の情報を含むクリアランス情報を出力する。
【００１０】
この態様では、処理ユニットにより出力されるクリアランス情報に含まれるクリアランスの最大値、最小値、及び中央値または平均値に基づいて、底面部の底面に対するブレードの傾き、底面に対するブレードの高さ位置を認識することができる。
（【００１１】以降は省略されています）

関連特許