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公開番号2025127030
公報種別公開特許公報(A)
公開日2025-09-01
出願番号2024023499
出願日2024-02-20
発明の名称光伝送システムの異常個所絞り込み装置、および、異常個所絞り込み方法
出願人NTT株式会社,学校法人東京理科大学
代理人弁理士法人磯野国際特許商標事務所
主分類H04B 10/075 20130101AFI20250825BHJP(電気通信技術)
要約【課題】複数の光パスにおいて同時に複数個所で異常が生じたケースでも被疑箇所を絞り込むこと。
【解決手段】光伝送システムの異常個所絞り込み装置10は、同時に複数個所で異常が生じた場合に、品質が劣化した光パスであるすべての劣化パスが共通に通る区間があるか否かを判断するパス劣化判定部11と、すべての劣化パスが共通に通る区間が無い場合、選択した候補区間がそれぞれ被疑箇所であるとした想定劣化パスのすべてと劣化パスのすべてとが一致する条件を満たすか否かを判定する一致判定処理を実行し、条件を満たさない場合、候補区間の組み合わせを変更しながら一致判定処理を繰り返し、条件を満たした場合、そのときに選択されている候補区間をそれぞれ被疑箇所であると推定する被疑箇所推定部12と、を備える。
【選択図】図1
特許請求の範囲【請求項１】
同時に複数個所で異常が生じた場合に、通信品質が劣化した光パスであるすべての劣化パスが共通に通る区間があるか否かを、ネットワークトポロジと、光パス経路及び波長設定情報と、に基づいて判断するパス劣化判定部と、
すべての前記劣化パスが共通に通る区間が無いと判定された場合、異なる複数の候補区間を選択し、選択した候補区間がそれぞれ被疑箇所であるとしたときに想定される光パスである想定劣化パスのすべてと前記劣化パスのすべてとが一致する条件を満たすか否かを判定する一致判定処理を実行し、前記一致判定処理において前記条件を満たさない場合、異なる複数の候補区間の組み合わせを変更しながら前記一致判定処理を繰り返し、前記一致判定処理において前記条件を満たした場合、そのときに選択されている異なる複数の候補区間をそれぞれ被疑箇所であると推定する被疑箇所推定部と、
を備えることを特徴とする光伝送システムの異常個所絞り込み装置。
続きを表示（約 770 文字）【請求項２】
前記被疑箇所推定部は、品質が劣化した光パス群のそれぞれの経路上に配置されるすべての区間のみから、前記候補区間を選択して前記一致判定処理を実行することを特徴とする請求項１に記載の光伝送システムの異常個所絞り込み装置。
【請求項３】
前記被疑箇所推定部は、制御変数の初期値を２として前記制御変数と同数の候補区間を選択して前記一致判定処理を実行し、前記一致判定処理において前記条件を満たさない場合、前記制御変数を予め定められた上限値まで１ずつ増やしながら前記一致判定処理を繰り返すことを特徴とする請求項１または請求項２に記載の光伝送システムの異常個所絞り込み装置。
【請求項４】
光伝送システムの異常個所絞り込み装置の異常個所絞り込み方法であって、
前記異常個所絞り込み装置は、
同時に複数個所で異常が生じた場合に、品質が劣化した光パスであるすべての劣化パスが共通に通る区間があるか否かを、ネットワークトポロジと、光パス経路及び波長設定情報と、に基づいて判断する工程と、
すべての前記劣化パスが共通に通る区間が無いと判定された場合、異なる複数の候補区間を選択し、選択した候補区間がそれぞれ被疑箇所であるとしたときに想定される光パスである想定劣化パスのすべてと前記劣化パスのすべてとが一致する条件を満たすか否かを判定する一致判定処理を実行し、前記一致判定処理において前記条件を満たさない場合、異なる複数の候補区間の組み合わせを変更しながら前記一致判定処理を繰り返し、前記一致判定処理において前記条件を満たした場合、そのときに選択されている異なる複数の候補区間をそれぞれ被疑箇所であると推定する工程と、
を実行することを特徴とする光伝送システムの異常個所絞り込み方法。

発明の詳細な説明【技術分野】
【０００１】
本発明は、光伝送システムの異常個所絞り込み装置、および、異常個所絞り込み方法に関する。
続きを表示（約 2,000 文字）【背景技術】
【０００２】
光伝送システムの伝送装置では、信号品質などの各種状態を常時、測定し、ＰＭ（Performance Metric）情報として、蓄積している。ただし、ＰＭ情報が変化しない異常も存在する。例えばサイレント障害は、障害が発生しているにも関わらず、ネットワークのいずれの装置からもネットワーク運用者等に対して故障の通知がない障害である。
従来、光ネットワークにおいて、光伝送装置のサイレント障害等に対し、影響を受けた光パス、ODU（Optical channel Data Unit）パスの収容関係から被疑区間を絞り込む技術（特許文献１、非特許文献１参照）や、OTU（Optical channel Transport Unit）パスの収容関係から被疑区間を絞り込む技術（特許文献２参照）が提案されている。これらの技術によれば、光信号特性データと光パス収容関係を用いて、故障部位の特定を早期に行うことができる。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００３】
特開２０１８－０６４１６０号公報
特開２０２０－０８８６２８号公報
【非特許文献】
【０００４】
伊達拓紀、山本宏、福田亜紀、鎌村星平、林理恵、植松芳彦、“レイヤ間情報補完による光ネットワークにおける故障位置特定の効率化方法”、電子情報通信学会技術研究報告、NS2016-99、pp.57-62、2016年10月
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００５】
従来技術においては、光パスの劣化検知をトリガーとして、同時に劣化を検知したすべての光パスが共通に通る区間を求め、求めた区間を被疑個所と判定している。異常が発生した区間が１つであれば問題ないが、同時に複数個所で異常が生じた場合、劣化を検知したすべての光パス（劣化パス）が共通に通る区間が存在しない可能性がある。すべての劣化パスが共通に通る区間が存在しない場合、従来技術では被疑箇所を絞り込むことができない。
【０００６】
また、従来技術において、同時に劣化を検知したときに、複数の劣化パスが共有する区間のうち、共有する劣化パスの数が最大となる区間を抽出して、その抽出区間を被疑箇所であると判定すると、誤った区間を被疑箇所と判定する可能性がある。
【０００７】
そこで、本発明では、上記の問題を解決し、複数の光パスにおいて同時に複数個所で異常が生じたケースでも被疑箇所を絞り込むことを課題とする。
【課題を解決するための手段】
【０００８】
本発明に係る光伝送システムの異常個所絞り込み装置は、同時に複数個所で異常が生じた場合に、通信品質が劣化した光パスであるすべての劣化パスが共通に通る区間があるか否かを、ネットワークトポロジと、光パス経路及び波長設定情報と、に基づいて判断するパス劣化判定部と、すべての前記劣化パスが共通に通る区間が無いと判定された場合、異なる複数の候補区間を選択し、選択した候補区間がそれぞれ被疑箇所であるとしたときに想定される光パスである想定劣化パスのすべてと前記劣化パスのすべてとが一致する条件を満たすか否かを判定する一致判定処理を実行し、前記一致判定処理において前記条件を満たさない場合、異なる複数の候補区間の組み合わせを変更しながら前記一致判定処理を繰り返し、前記一致判定処理において前記条件を満たした場合、そのときに選択されている異なる複数の候補区間をそれぞれ被疑箇所であると推定する被疑箇所推定部と、を備えることを特徴とする。
【発明の効果】
【０００９】
本発明によれば、複数の光パスにおいて同時に複数個所で異常が生じたケースでも被疑箇所を絞り込むことができる。
【図面の簡単な説明】
【００１０】
本実施形態に係る異常個所絞り込み装置を含む光伝送システムの概略構成図である。
異常個所絞り込み装置による処理の流れを示すフローチャートである。
（ａ）はネットワーク構造の例であり、（ｂ）は光パスの例である。
比較例による処理の流れを示すフローチャートである。
光パスの劣化の一例を示す模式図である。
図５に示す劣化パスから被疑箇所を絞り込む処理の説明図である。
光パスの劣化の他の例を示す模式図である。
比較例によって被疑箇所を絞り込む処理の説明図である。
異常個所絞り込み装置による1回目の一致判定処理の説明図である。
異常個所絞り込み装置によるｎ回目の一致判定処理の説明図である。
本実施形態に係る異常個所絞り込み装置の機能を実現するコンピュータの一例を示すハードウェア構成図である。
【発明を実施するための形態】
（【００１１】以降は省略されています）

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