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公開番号2025072068
公報種別公開特許公報(A)
公開日2025-05-09
出願番号2023182575
出願日2023-10-24
発明の名称異常検出方法、および異常検出システム
出願人三菱重工業株式会社
代理人個人,個人
主分類G01N 25/56 20060101AFI20250430BHJP(測定;試験)
要約【課題】X線検査によらずに検査対象物の異常の有無を示す情報を得ることができるようにした異常検出方法を提供する。
【解決手段】検査対象物の内部に水が混入する異常を検出する異常検出方法は、検査対象物を乾燥させる乾燥工程と、乾燥工程の後に実行される工程である、検査対象物に加熱装置によって熱を加える加熱工程と、加熱工程における赤外線カメラの出力値に応じて検査対象物の温度に関する変数である温度変数の値を取得する取得工程と、を有する。温度変数は、検査対象物の温度変化を示す変数である。取得工程は、乾燥工程によって検査対象物内の水が除去できたか否かの情報を取得するための工程である。
特許請求の範囲【請求項1】
検査対象物の内部に水が混入する異常を検出する異常検出方法であって、
前記検査対象物を乾燥させる乾燥工程と、
前記乾燥工程の後に実行される工程である、前記検査対象物に加熱装置によって熱を加える加熱工程と、
前記加熱工程における赤外線カメラの出力値に応じて前記検査対象物の温度に関する変数である温度変数の値を取得する取得工程と、を有し、
前記温度変数は、前記検査対象物の温度変化を示す変数であり、
前記取得工程は、前記乾燥工程によって前記検査対象物内の水が除去できたか否かの情報を取得するための工程である異常検出方法。
続きを表示(約 1,400 文字)【請求項2】
前記取得工程による取得結果が、前記乾燥工程によって前記検査対象物内の水が除去できていない旨の情報を示す場合、前記乾燥工程を再度実行する請求項1記載の異常検出方法。
【請求項3】
前記温度変数は、第1のタイミングにおける前記検査対象物の温度分布と第2のタイミングにおける前記検査対象物の温度分布とを示す変数を含み、
前記第1のタイミングと前記第2のタイミングとの間には、前記加熱工程が実行されている期間が含まれている請求項1記載の異常検出方法。
【請求項4】
前記温度変数は、前記検査対象物の位相画像を示す変数を含む請求項1記載の異常検出方法。
【請求項5】
前記加熱工程に先立って、前記検査対象物内に含まれる水を検出する検出工程を有し、
前記加熱工程は、前記検査対象物のうちの前記検出工程によって水が含まれることが検出された箇所を前記加熱装置によって選択的に加熱する工程であり、
前記温度変数は、前記検査対象物のうちの前記水が含まれることが検出された箇所の温度に関する変数を含む請求項1記載の異常検出方法。
【請求項6】
前記検出工程は、前記検査対象物のX線画像を撮影することによって、前記水を検出する工程である請求項5記載の異常検出方法。
【請求項7】
前記取得工程の取得結果に応じた前記検査対象物の温度に関する情報を表示装置に表示する工程を有する請求項1記載の異常検出方法。
【請求項8】
記憶装置と実行装置とが予め用意され、
前記記憶装置には、前記温度変数の値が入力であって且つ、前記水を除去できたか否かの判定結果を出力する処理である判定処理を規定するためのデータである判定用データが記憶されており、
判定工程を有し、
前記判定工程は、前記実行装置が、前記判定処理を実行することによって前記水を除去できたか否かを判定する工程である請求項1記載の異常検出方法。
【請求項9】
記憶装置と実行装置とが予め用意され、
前記記憶装置には、前記温度変数の値が入力であって且つ、前記検査対象物内の前記水の量を推定する推定処理を規定するためのデータである推定用データが記憶されており、
推定工程、および設定工程を有し、
前記推定工程は、前記実行装置が、前記推定処理を実行することによって前記検査対象物内の水分量を推定する工程であり、
前記設定工程は、前記実行装置が、前記乾燥工程の実行時間を、前記推定工程における推定結果に応じて設定する工程である請求項1記載の異常検出方法。
【請求項10】
記憶装置と実行装置とが予め用意され、
前記記憶装置には、前記検出工程における前記X線画像が入力であって且つ、前記検査対象物内の前記水の量を推定する推定処理を規定するためのデータである推定用データが記憶されており、
推定工程、および設定工程を有し、
前記推定工程は、前記実行装置が、前記推定処理を実行することによって前記検査対象物内の水分量を推定する工程であり、
前記設定工程は、前記実行装置が、前記乾燥工程の実行時間を、前記推定工程における推定結果に応じて設定する工程である請求項6記載の異常検出方法。
(【請求項11】以降は省略されています)

発明の詳細な説明【技術分野】
【0001】
本発明は、異常検出方法、および異常検出システムに関する。
続きを表示(約 2,200 文字)【背景技術】
【0002】
たとえば、下記特許文献1には、航空機等に用いるハニカム構造体が記載されている。航空機のハニカム構造体内に水が含まれる場合、これを乾燥させる必要が生じる。そこで従来、航空機の乾燥工程の後に、航空機の機体のX線撮影によって、乾燥工程により水を除去できたか否かを判定していた。
【先行技術文献】
【特許文献】
【0003】
特開2023-077903号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【0004】
上記のようにX線撮影を行う場合、専用の設備が必要であることから、乾燥工程において機体が収容された空間においてそのままX線撮影を行うことができないおそれがある。また、X線撮影を行うには、専門の人材を充てる必要もある。このように、X線撮影を行う場合、機体内の水が除去できた旨の確認ができるまでの時間が長期化したり、作業に要求される要素が過大となったりする。
【課題を解決するための手段】
【0005】
検査対象物の内部に水が混入する異常を検出する異常検出方法であって、前記検査対象物を乾燥させる乾燥工程と、前記乾燥工程の後に実行される工程である、前記検査対象物に加熱装置によって熱を加える加熱工程と、前記加熱工程における赤外線カメラの出力値に応じて前記検査対象物の温度に関する変数である温度変数の値を取得する取得工程と、を有し、前記温度変数は、前記検査対象物の温度変化を示す変数であり、前記取得工程は、前記乾燥工程によって前記検査対象物内の水が除去できたか否かの情報を取得するための工程である異常検出方法。
【0006】
上記方法では、加熱工程および取得工程を利用することにより、X線撮影に頼ることなく乾燥工程によって検査対象物内の水が除去できたか否かの情報を取得できる。
【図面の簡単な説明】
【0007】
第1の実施形態にかかる異常検出システムの構成を示す図である。
同実施形態にかかる異常検出の工程を示す流れ図である。
図2に示したサーモグラフィ検査の手順を示す流れ図である。
サーモグラフィ検査におけるレイアウトを示す図である。
図2に示したサーモグラフィ検査の手順を示す流れ図である。
第2の実施形態にかかる異常検出システムの構成を示す図である。
第2の実施形態にかかるサーモグラフィ検査の手順を示す流れ図である。
第3の実施形態にかかる異常検出の工程を示す流れ図である。
【発明を実施するための形態】
【0008】
<第1の実施形態>
以下、第1の実施形態について図面を参照しつつ説明する。
「前提構成」
図1に、本実施形態にかかる異常検出システムを示す。図1に示すシステムは、検査対象物の乾燥工程が完了したか否かを検査するシステムである。検査対象物は、航空機の一部である。検査対象物は、たとえば炭素繊維強化プラスチック等の複合材やアルミニウム等の金属にて構成されている。検査対象物は、ハニカム構造体を有する。
【0009】
図1に示すように、同システムは、検査対象物10のX線撮影をするためのX線発生器20、制御器22およびフィルム24を備える。
また、同システムは、熱風機30および加熱用ダクト32を備える。熱風機30から排出される高温の気体は、加熱用ダクト32を介して検査対象物10に吹き付けられる。同システムは、また、サーモグラフィカメラ40を備える。サーモグラフィカメラ40は、PU42、記憶装置44、および赤外線センサ46を備える。赤外線センサ46は、赤外線を感知するセンサである。赤外線センサ46は、たとえば、0.75~1000μmの波長の電磁波を感知する。赤外線センサ46は、一例として、3~5μmの波長の電磁波を感知してもよい。また、赤外線センサ46は、たとえば、8~14μmの波長の電磁波を感知してもよい。また、赤外線センサ46は、たとえば、30~1000μmの波長の電磁波を感知してもよい。PU42は、CPU、GPU、およびTPU等のソフトウェア処理装置である。記憶装置44は、電気的に書き換え不可能な不揮発性メモリであってもよい。また記憶装置44は、電気的に書き換え可能な不揮発性メモリ、およびディスク媒体等の記憶媒体であってもよい。記憶装置44には、赤外線センサ46の出力値が入力であって且つ、熱画像が出力である処理を規定するプログラムが記憶されている。サーモグラフィカメラ40は、PU42が同プログラムを実行することによって、熱画像を示すデータを生成する。
【0010】
評価用端末50は、PU52および記憶装置54を備えている。PU52は、CPU、GPU、およびTPU等のソフトウェア処理装置である。記憶装置54は、電気的に書き換え不可能な不揮発性メモリであってもよい。また記憶装置54は、電気的に書き換え可能な不揮発性メモリ、およびディスク媒体等の記憶媒体であってもよい。評価用端末50には、ユーザに視覚情報を与えるための表示装置60が接続されている。
(【0011】以降は省略されています)

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