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公開番号2025066323
公報種別公開特許公報(A)
公開日2025-04-23
出願番号2023175833
出願日2023-10-11
発明の名称粒状物品質測定装置
出願人株式会社サタケ
代理人弁理士法人山王坂特許事務所
主分類G01N 21/85 20060101AFI20250416BHJP(測定;試験)
要約【課題】粒状物の品質検査を、人手を介することなく、サンプル数が多い場合であっても良好に実施可能なシュート式の粒状物の検査装置を提供する。
【解決手段】シュート部は、滑落面において粒状物を予め定めた層数以上に高さ方向に積み重ねた状態とし、積み重ねた状態を維持しながら粒状物を下端まで滑落させる層数制御構造を備えている。品質検出器は、シュート部を滑落している途中の粒状物、または、シュート部の下端から落ち、空中を落下している途中の粒状物に対して、光を照射して、反射光および透過光の少なくとも一方を受光し、粒状物の品質を検出する。
【選択図】図1
特許請求の範囲【請求項１】
傾斜して配置され、上端から供給された粒状物を下端まで滑落させ、前記下端から空中に落とすシュート部と、
前記シュート部を滑落している途中の前記粒状物、または、前記シュート部の下端から落ち、空中を落下している途中の前記粒状物に対して、光を照射して、反射光および透過光の少なくとも一方を受光し、前記粒状物の品質を検出する品質検出器とを有し、
前記シュート部は、前記上端から下端まで前記粒状物が滑って落ちる滑落面を備え、
前記シュート部の少なくとも一部は、前記滑落面において前記粒状物を予め定めた層数以上に高さ方向に積み重ねた状態とし、前記積み重ねた状態を維持しながら前記粒状物を前記下端まで滑落させる層数制御構造を備えることを特徴とする粒状物品質測定装置。
続きを表示（約 350 文字）【請求項２】
請求項１に記載の粒状物品質測定装置であって、前記シュート部は、前記下端から前記積み重ねた状態の前記粒状物を空中に落下させ、
前記品質検出器は、前記下端から落下し、空中で前記光の光軸方向に複数層に重なり合った状態の前記粒状物に光を照射し、反射光および透過光の少なくとも一方を受光することを特徴とする粒状物品質測定装置。
【請求項３】
請求項１に記載の粒状物品質測定装置であって、前記滑落面にはスリットが備えられ、
前記品質検出器は、前記シュート部の前面側および裏面側の少なくとも一方から、前記滑落面を滑落している途中の前記積み重ねた状態の前記粒状物に光を照射し、反射光および透過光の少なくとも一方を受光することを特徴とする粒状物品質測定装置。

発明の詳細な説明【技術分野】
【０００１】
本発明は、穀物加工処理施設のインライン検査装置等に用いられる品質測定装置に関する。特に、粒状物の色合いや白度等の品質を測定する粒状物品質測定装置に関するものである。
続きを表示（約 1,500 文字）【背景技術】
【０００２】
粒状物の品質を測定する装置に関する従来技術として、例えば、特許文献１～３が知られている。
【０００３】
特許文献１には、光沢測定器と白度測定器とを備えた米粒品質測定装置が開示されています。光学測定器は、テーブルに載置された試料皿の米粒の表面に対して、光沢測定用の光を照射し、その反射光を受光することにより米粒の光沢を測定する。白度測定器は、テーブルに載置された試料皿の米粒に対して白度測定用の光を照射し、試料皿の米粒からの反射光を試料皿を通して受光することにより米粒の白度を測定する。
【０００４】
特許文献２には、シュート式の穀粒品質測定器が開示されている。この穀粒品質測定器は、投入口、穀粒供給装置、シュート、撮像装置、および制御装置等を具備している。シュートの表面には、複数の流下溝が設けられ、流下溝内を穀粒が一粒ずつ流れ落ちる。シュートから放出された穀粒の反射画像と透過画像の両方が、反射鏡を用いて１台の撮像装置によって撮像される。
【０００５】
特許文献３には、筒状や樋状のチャンネルに光を透過する窓を設け、傾斜させて配置し、チャンネルを流れ落ちる粒状の生産物に窓を通して光を照射し、反射光を受光し、白度を測定する装置が開示されている。この測定装置は、チャンネルの内部に邪魔板を配置し、邪魔板によって生産物を窓の上に導くことにより、窓の上の生産物の最小深さを維持している。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００６】
特開２０２１－１８８９０９号公報
特許第６８８４９３６号公報
特表２０１２－５２５５７５号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００７】
上述の特許文献１の装置は、米粒の白度と光沢度を測定できるコンパクトな測定装置ではあるが、測定の際、試料皿にサンプルを乗せ、テーブルに設置するなど人の手が必要である。そのため、サンプル数が多い場合やインライン検査の用途としては不向きであるという問題点があった。
【０００８】
一方、特許文献２の装置は、投入口からサンプルを投入し、シュートを介して撮像部にてサンプルの品質を測定する装置であるため、サンプル数が多い場合やインライン検査の用途としても有効な構造ではある。しかしながら、特許文献２の装置は、穀粒がシュートの表面に形成された傾斜状態の流下溝内に一粒ずつ収容されて流下し、撮像部で穀粒の品質を測定するように構成されている。そのため、特許文献１の装置のように多層状態の穀粒に光を照射して、良好な白度測定を実施することはできないという問題があった。
【０００９】
また、特許文献３の装置は、筒状や樋状のチャンネルに光を透過する窓を設け、邪魔板を用いて窓の上に生産物を集め、窓の上の生産物の最小深さを維持しているため、測定が可能な窓の幅は、筒状や樋状のチャンネルの底面や側面の一部分に狭められている。よって、サンプル数が多い場合であっても、広範囲で測定することは難しい。
【００１０】
そこで、本発明は、上記従来技術の問題点を解決するためになされたものであって、粒状物の品質検査を、人手を介することなく、サンプル数が多い場合であっても良好に実施可能なシュート式の粒状物の検査装置（粒状物品質測定装置）を提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
（【００１１】以降は省略されています）

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