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公開番号2025120575
公報種別公開特許公報(A)
公開日2025-08-18
出願番号2024015452
出願日2024-02-05
発明の名称撮像装置の検査方法および検査治具
出願人株式会社国際電気
代理人弁理士法人第一国際特許事務所
主分類G01M 11/00 20060101AFI20250808BHJP(測定;試験)
要約【課題】コリメータを用いずに、簡易な構成で撮像装置の撮像部のゴミの有無を検査することが可能な技術を提供することができる。
【解決手段】代表的な本発明の撮像装置の検査方法の一つは、撮像装置の撮像部に対し、点光源から光を照射することにより、前記撮像部に付着した異物を検査するものである。
また、代表的な本発明の撮像装置の検査治具の一つは、遮光板にピンホールによる点光源が配置されている光源部と、前記光源部と撮像装置の撮像部を接続する接続部を備えるものである。
【選択図】図4
特許請求の範囲【請求項１】
撮像装置の撮像部に対し、点光源から光を照射することにより、前記撮像部に付着した異物を検査する撮像装置の検査方法。
続きを表示（約 1,300 文字）【請求項２】
請求項１に記載の検査方法において、
前記点光源は、撮像素子の受光面における受光領域を前記受光面の法線方向に投射した投射領域の外側の領域から、前記撮像部に向けて照射することを特徴とする撮像装置の検査方法。
【請求項３】
請求項２に記載の検査方法において、
前記撮像素子の受光領域を前記受光面の法線方向に投射した投射領域の外側の領域は、
前記受光領域に対する前記撮像部の検査対象となる領域の拡張幅をＸ、前記受光面から前記撮像部の光学フィルタ表面までの法線方向の距離をＹ、前記受光面から点光源配置面までの法線方向の距離をＷとした場合に、
前記撮像素子の撮像領域を前記受光面の法線方向に投射した投射領域から、前記受光面の法線方向と直角方向に、以下の式（１）で示される距離Ｚだけ拡張された領域（以下、「拡張配置領域」という。）の外側の領域であることを特徴とする撮像装置の検査方法。
Ｚ＝（Ｘ×Ｗ）／Ｙ・・・（１）
【請求項４】
請求項３に記載の検査方法において、
前記点光源は、前記拡張配置領域の角点である４点から照射することを特徴とする撮像装置の検査方法。
【請求項５】
請求項３に記載の検査方法であって、
前記点光源は、前記拡張配置領域を移動しながら前記受光面を照射することを特徴とする撮像装置の検査方法。
【請求項６】
請求項５に記載の検査方法であって、
前記点光源は、前記拡張配置領域を略円軌道に移動しながら前記受光面を照射することを特徴とする撮像装置の検査方法。
【請求項７】
遮光板にピンホールによる点光源が配置されている光源部と、
前記光源部と撮像装置の撮像部を接続する接続部を備える
撮像装置の検査治具。
【請求項８】
請求項７に記載の検査治具において、
前記光源部における点光源は、撮像素子の受光面における受光領域を前記遮光板に投射した投射領域の外側の領域に設けられている
ことを特徴とする撮像装置の検査治具。
【請求項９】
請求項８に記載の検査治具において、
前記撮像素子の受光領域を前記遮光板に投射した投射領域の外側の領域は、
前記受光領域に対する前記撮像部の検査対象領域の拡張幅をＸ、受光面から前記撮像部の光学フィルタ表面までの法線方向の距離をＹ、前記受光面から点光源配置面までの法線方向の距離をＷとした場合に、
前記撮像素子の撮像領域を前記受光面の法線方向に投射した投射領域から、前記受光面の法線方向と直角方向に、以下の式（１）で示される距離Ｚだけ拡張された領域（以下、「拡張配置領域」という。）の外側の領域であることを特徴とする撮像装置の検査治具。
Ｚ＝（Ｘ×Ｗ）／Ｙ・・・（１）
【請求項１０】
請求項９に記載の検査治具において、
前記光源部は、前記点光源が、前記拡張配置領域の角点である４点から照射が可能に配置されていることを特徴とする撮像装置の検査治具。
（【請求項１１】以降は省略されています）
発明の詳細な説明【技術分野】
【０００１】
本発明は、撮像装置の検査方法および検査治具に関する。
続きを表示（約 2,400 文字）【背景技術】
【０００２】
撮像装置は、撮像部にゴミが付着している場合、ゴミが付着している領域において被写体映像の鮮明さやコントラストの低下が発生する。また、撮像条件によってはゴミが結像したため、被写体映像が欠落し、撮像装置として致命的な欠陥が生じる恐れがある。このため、撮像装置の生産工程においては、撮像部のゴミの清掃作業及び検査作業が入念に行われる。
一般的に、検査作業では、コリメータと呼ばれる平行光線を発生させる装置を検査治具として使用し、コリメータが照射する平行光線に検査対象の撮像装置の撮像部を向けて撮像映像にゴミが映っていないかを確認する。
しかし、コリメータは高額な精密機器であり、その操作や準備にも多大な負担を要する。
【０００３】
例えば、特許文献１では、明細書の段落０００７において「レンズ検査機を組み立てる際には、まず測定光学系の基準となるコリメータ及びレンズマウントを高精度で定盤に固定して基準光軸を設定した後、計測系を構成する三軸ステージとカメラユニットの組み付けが行われる。コリメータやレンズマウントの取り付けは、トランシットなどの光学測定器やレーザ測長器などを使用しながら高い位置精度で定盤に固定することができるが、カメラユニットを移動自在に保持する三軸ステージをコリメータ及びレンズマウントとの双方に対して高い精度で位置決めして定盤に固定する作業は非常に難しい。」ことが開示されている。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００４】
特開２０１２－７８３３０号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００５】
撮像装置の検査にコリメータを用いる場合には、コリメータの取扱いの難しさに加えて、撮像装置の撮像部に付着したゴミを検査する必要があるため、撮像装置を様々な方向に傾けながら確認するという複雑な動作が必要となる。このような複雑な動作は、ロボット等により検査作業を自動化する場合に障害になるという課題もある。
そこで、本発明では、コリメータを用いずに、簡易な構成で撮像装置の撮像部のゴミの有無を検査することが可能となる技術を提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【０００６】
上記の課題を解決するために、代表的な本発明の撮像装置の検査方法の一つは、撮像装置の撮像部に対し、点光源から光を照射することにより、前記撮像部に付着した異物を検査するものである。
【発明の効果】
【０００７】
本発明によれば、コリメータを用いずに、簡易な構成で撮像装置の撮像部のゴミの有無を検査することが可能な技術を提供することができる。
上記した以外の課題、構成および効果は、以下の発明を実施するための形態における説明により明らかにされる。
【図面の簡単な説明】
【０００８】
図１は、撮像部の光学フィルタ表面に付着したゴミを通常光源を用いて照射した場合を説明する図である。
図２は、コリメータを用いた場合に光学フィルタ表面のゴミが結像する様子を示す図である。
図３は、実施例１の撮像装置の検査で利用する機器を示す図である。
図４は、撮像装置の光学フィルタ表面に対し、ピンホール光源から照射光を照射して、光学フィルタ表面の面上の異物を検査する様子を示す図である。
図５は、実施例２におけるピンホール光源の移動の軌跡を示す図である。
図６は、ピンホール光源が拡張配置領域から光学フィルタ表面に対して照射した場合を示す図である。
図７は、照射光を拡張配置領域の角点の１点から検査対象領域の４つの角点に照射した照射光を示す図である。
図８は、実施例３の撮像装置の検査治具を示す図である。
図９は、実施例３の撮像装置の検査治具の構成例を示す図である。
図１０は、実施例３の光源部の平面図である。
図１１は、撮像装置の検査治具の変形例１の光源部の構成を示す図である。
図１２は、撮像装置の検査治具の変形例２の光源部の構成を示す図である。
【発明を実施するための形態】
【０００９】
以下、図面を参照して、本発明の実施形態について説明する。なお、この実施形態により本発明が限定されるものではない。また、図面の記載において、同一部分には同一の符号を付して示している。
同一あるいは同様の機能を有する構成要素が複数ある場合には、同一の符号に異なる添字を付して説明する場合がある。また、これらの複数の構成要素を区別する必要がない場合には、添字を省略して説明する場合がある。
また、「第１」、「第２」、「第３」等の用語は、本開示において様々な要素又は構成要素を説明するのに用いられる場合があるが、これらの要素又は構成要素はこれらの用語によって限定されるべきでないことが理解されるであろう。これらの用語は、或る要素又は構成要素を別の要素又は構成要素と区別するためにのみ用いられる。従って、以下で論述する第１の要素又は構成要素は、本発明概念の教示から逸脱することなく第２の要素又は構成要素と呼ぶこともできる。
図面において示す各構成要素の位置、大きさ、形状、範囲などは、発明の理解を容易にするため、実際の位置、大きさ、形状、範囲などを表していない場合がある。このため、本発明は、必ずしも、図面に開示された位置、大きさ、形状、範囲などに限定されない。
【００１０】
なお、本開示において、「撮像部」とは、光学フィルタ、レンズ、プリズム、撮像素子等が含まれる機器を意味する。
このため、本開示において検知するゴミは、これらの機器の表面や受光面に付着したものとなる。
（【００１１】以降は省略されています）

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