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公開番号2025036569
公報種別公開特許公報(A)
公開日2025-03-14
出願番号2024229264,2023127939
出願日2024-12-25,2023-08-04
発明の名称検査ソケット
出願人オムロン株式会社
代理人個人,個人,個人
主分類H01R 13/24 20060101AFI20250306BHJP(基本的電気素子)
要約【課題】接触信頼性の高い検査ソケットを提供する。
【解決手段】検査ソケットは、第1方向の両端部に第1接点と第2接点とをそれぞれ有する第1～第4プローブピンを備える。第1方向と交差する第2方向において、第1及び第2プローブピンは対向配置され、第3及び第4プローブピンは対向配置される。第1及び第2方向と交差する第3方向において、第1及び第3プローブピンは並んで配置され、第2及び第4プローブピンは並んで配置される。第2方向における第1及び第2プローブピンの第2接点の間に、第3プローブピンの第2接点が位置する。第2方向における第3及び第4プローブピンの第2接点の間に、第2プローブピンの第2接点が位置する。第2方向において、第1プローブピンの第1接点が接触対象物に対して接触する位置は、第3プローブピンの第1接点が接触対象物に対して接触する位置と異なる。
【選択図】図5
特許請求の範囲【請求項１】
ハウジングと、
第１方向の一端部に設けられた第１接点と前記第１方向の他端部に設けられた第２接点とをそれぞれ有し、それぞれが前記ハウジングに支持された第１プローブピン、第２プローブピン、第３プローブピン、及び第４プローブピンと、を備え、
前記第１プローブピン及び前記第２プローブピンは、前記第１方向と交差する第２方向に間隔を空けて対向配置され、
前記第３プローブピン及び前記第４プローブピンは、前記第２方向に間隔を空けて対向配置され、
前記第１方向及び前記第２方向と交差する第３方向において、前記第１プローブピンと前記第３プローブピンとは並んで配置され、
前記第３方向において、前記第２プローブピンと前記第４プローブピンとは並んで配置され、
前記第２方向における前記第１プローブピンの前記第２接点および前記第２プローブピンの前記第２接点の間に、前記第３プローブピンの前記第２接点が位置し、
前記第２方向における前記第３プローブピンの前記第２接点および前記第４プローブピンの前記第２接点の間に、前記第２プローブピンの前記第２接点が位置し、
接触対象物を前記第１方向から前記第１プローブピンの前記第１接点および前記第３プローブピンの前記第１接点に接触させた場合、前記第１プローブピンの前記第１接点は前記接触対象物の第１位置で接触し、前記第３プローブピンの前記第１接点は前記接触対象物の前記第１位置とは前記第２方向において異なる第２位置で接触する、検査ソケット。
続きを表示（約 1,500 文字）【請求項２】
前記接触対象物を前記第１方向から前記第２プローブピンの前記第１接点および前記第４プローブピンの前記第１接点に接触させた場合、前記第２プローブピンの前記第１接点は前記接触対象物の第３位置で接触し、前記第４プローブピンの前記第１接点は前記接触対象物の前記第３位置とは前記第２方向において異なる第４位置で接触する、請求項１に記載の検査ソケット。
【請求項３】
ハウジングと、
第１方向の一端部に設けられた第１接点と前記第１方向の他端部に設けられた第２接点とをそれぞれ有し、それぞれが前記ハウジングに支持された第１プローブピン、第２プローブピン、第３プローブピン、及び第４プローブピンと、を備え、
前記第１プローブピン及び前記第２プローブピンは、前記第１方向と交差する第２方向に間隔を空けて対向配置され、
前記第３プローブピン及び前記第４プローブピンは、前記第２方向に間隔を空けて対向配置され、
前記第１方向及び前記第２方向と交差する第３方向において、前記第１プローブピンと前記第３プローブピンとは並んで配置され、
前記第３方向において、前記第２プローブピンと前記第４プローブピンとは並んで配置され、
前記第２方向における前記第１プローブピンの前記第２接点および前記第２プローブピンの前記第２接点の間に、前記第３プローブピンの前記第２接点が位置し、
前記第２方向における前記第３プローブピンの前記第２接点および前記第４プローブピンの前記第２接点の間に、前記第２プローブピンの前記第２接点が位置し、
前記第３方向に沿って見た場合に、前記第１プローブピンの前記第１接点の形状は、前記第３プローブピンの前記第１接点の形状と異なる、検査ソケット。
【請求項４】
前記第３方向に沿って見た場合に、前記第２プローブピンの前記第１接点の形状は、前記第４プローブピンの前記第１接点の形状と異なる、請求項３に記載の検査ソケット。
【請求項５】
前記第１プローブピン、前記第２プローブピン、前記第３プローブピン、及び前記第４プローブピンの各々の前記第１接点は、傾斜面を有する、請求項１または３に記載の検査ソケット。
【請求項６】
前記第１プローブピンの前記傾斜面と、前記第２プローブピンの前記傾斜面とは、前記第２方向において同じ側を向き、
前記第３プローブピンの前記傾斜面と、前記第４プローブピンの前記傾斜面とは、前記第２方向において同じ側を向く、請求項５に記載の検査ソケット。
【請求項７】
前記第１プローブピンの前記傾斜面と、前記第３プローブピンの前記傾斜面とは、前記第２方向において反対側を向き、
前記第２プローブピンの前記傾斜面と、前記第４プローブピンの前記傾斜面とは、前記第２方向において反対側を向く、請求項５に記載の検査ソケット。
【請求項８】
前記第１プローブピン、前記第２プローブピン、前記第３プローブピン、及び前記第４プローブピンの各々の前記傾斜面は、接触対象物に対して接触可能である、請求項５に記載の検査ソケット。
【請求項９】
前記第２方向において、前記第１プローブピンの前記傾斜面の位置は、前記第３プローブピンの前記傾斜面の位置と異なる、請求項５に記載の検査ソケット。
【請求項１０】
前記第２方向において、前記第２プローブピンの前記傾斜面の位置は、前記第４プローブピンの前記傾斜面の位置と異なる、請求項５に記載の検査ソケット。
（【請求項１１】以降は省略されています）
発明の詳細な説明【技術分野】
【０００１】
本開示は、検査ソケットに関する。
続きを表示（約 1,700 文字）【背景技術】
【０００２】
特許文献１には、電子モジュールの導通検査、特性測定などに用いられる検査治具が記載されている。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００３】
特開２０２２－１３５１０６号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００４】
特許文献１の検査治具を含む検査ソケットは、複数のプローブピンを有する。各プローブピンは、間隔を空けて並んで配置され、相互に電気的に独立した状態で、ハウジングに収容されている。しかし、検査ソケットの接触対象物（例えばコネクタ）において各端子の間隔が狭い場合、各端子と接触する各プローブピンの間隔を狭くする必要がある。各プローブピンの間隔が狭い場合、検査時に接触不良を起こす場合がある。
【０００５】
本開示は、接触信頼性の高い検査ソケットを提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【０００６】
本開示の一態様の検査ソケットは、
ハウジングと、
第１方向の一端部に設けられた第１接点と前記第１方向の他端部に設けられた第２接点とをそれぞれ有し、それぞれが前記ハウジングに支持された第１プローブピン、第２プローブピン、第３プローブピン、及び第４プローブピンと、を備え、
前記第１プローブピン及び前記第２プローブピンは、前記第１方向と交差する第２方向に間隔を空けて対向配置され、
前記第３プローブピン及び前記第４プローブピンは、前記第２方向に間隔を空けて対向配置され、
前記第１方向及び前記第２方向と交差する第３方向において、前記第１プローブピンと前記第３プローブピンとは並んで配置され、
前記第３方向において、前記第２プローブピンと前記第４プローブピンとは並んで配置され、
前記第１プローブピン、前記第２プローブピン、前記第３プローブピン、及び前記第４プローブピンの各々の第１接点は、接触対象物に対して接触可能な傾斜面を有し、
前記第１プローブピンの第２接点は、前記第３プローブピンの第２接点に対して前記第２方向の一方側に位置し、
前記第２プローブピンの第２接点は、前記第４プローブピンの第２接点に対して前記第２方向の一方側に位置している。
【発明の効果】
【０００７】
本開示によれば、接触信頼性の高い検査ソケットを提供できる。
【図面の簡単な説明】
【０００８】
本開示の一実施状態の検査ソケットを示す斜視図。
図１の検査ソケットの分解斜視図。
プローブピンの斜視図。
プローブピン及び接触対象物の平面図。
図４のＡ－Ａ線に沿った断面図。
図４のＢ－Ｂ線に沿った断面図。
図５のプローブピンの第１の変形例を示す断面図。
図６のプローブピンの第１の変形例を示す断面図。
図５のプローブピンの第２の変形例を示す断面図。
図６のプローブピンの第２の変形例を示す断面図。
【発明を実施するための形態】
【０００９】
以下、本開示の一例が添付図面に従って説明される。以下の説明は、本質的に例示に過ぎず、本開示、本開示の適用物、または、本開示の用途を制限することを意図するものではない。図面は模式的なものであり、各寸法の比率等は現実のものとは必ずしも合致していない。また、以下の説明では、必要に応じて特定の方向あるいは位置を示す用語（例えば、「上」、「下」、「右」、「左」、「前」、「後」を含む用語）が用いられる。しかし、特定の方向あるいは位置を示す用語の使用は、図面を参照した本開示の理解を容易にするためであって、それらの用語の意味によって本開示の技術的範囲が限定されるものではない。
【００１０】
本開示の一実施形態の検査ソケット１は、図１及び図２に示すように、ハウジング２、３、４、５、６と、ハウジング２、３、４、５、６の内部に収容された複数の板状のプローブピン７とを備える。
（【００１１】以降は省略されています）

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