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公開番号2025012108
公報種別公開特許公報(A)
公開日2025-01-24
出願番号2023114697
出願日2023-07-12
発明の名称データ処理装置、メモリ故障判定方法及びメモリ故障判定プログラム
出願人横河電機株式会社
代理人弁理士法人酒井国際特許事務所
主分類G06F 11/22 20060101AFI20250117BHJP(計算;計数)
要約【課題】メモリの故障の有無を正確に判定すること。
【解決手段】データ処理装置11において、第一バッファメモリRM1、第二バッファメモリMM1、第三バッファメモリRM2、及び、第四バッファメモリMM2の各バッファメモリBMは、複数のビットから形成されるデータを記憶し、CPU11Aは、バッファメモリBMからデータをリードし、複数のビットに対するビット反転を行うことにより複数のビットの各ビットの値が反転された後のビット反転データを生成し、第一時刻でバッファメモリBMにビット反転データをライトし、第一時刻よりも後の第二時刻でバッファメモリBMからビット反転データをリードし、第一時刻においてバッファメモリBMにライトしたビット反転データである第一データと、第二時刻においてバッファメモリBMからリードしたビット反転データである第二データとを比較することにより、バッファメモリBMの故障の有無を判定する。
【選択図】図1
特許請求の範囲【請求項１】
複数のビットから形成されるデータを記憶するメモリと、
前記メモリから前記データをリードし、
前記複数のビットに対するビット反転を行うことにより前記複数のビットの各ビットの値が反転された後のビット反転データを生成し、
第一時刻で前記メモリに前記ビット反転データをライトし、
前記第一時刻よりも後の第二時刻で前記メモリから前記ビット反転データをリードし、
前記第一時刻において前記メモリにライトした前記ビット反転データである第一データと、前記第二時刻において前記メモリからリードした前記ビット反転データである第二データとを比較することにより、前記メモリの故障の有無を判定するプロセッサと、
を具備するデータ処理装置。
続きを表示（約 940 文字）【請求項２】
前記プロセッサは、前記第一データの値と前記第二データの値とが同一であるときに前記メモリに故障が無いと判定する一方で、前記第一データの値と前記第二データの値とが異なるときに前記メモリに故障が有ると判定する、
請求項１に記載のデータ処理装置。
【請求項３】
前記メモリを有するＦＰＧＡを具備する、
請求項１に記載のデータ処理装置。
【請求項４】
前記データは、前記データ処理装置に接続された検出器により検出された値を示す検出データである、
請求項１に記載のデータ処理装置。
【請求項５】
プロセッサが、
複数のビットから形成されるデータをメモリからリードし、
前記複数のビットに対するビット反転を行うことにより前記複数のビットの各ビットの値が反転された後のビット反転データを生成し、
第一時刻で前記メモリに前記ビット反転データをライトし、
前記第一時刻よりも後の第二時刻で前記メモリから前記ビット反転データをリードし、
前記第一時刻において前記メモリにライトした前記ビット反転データである第一データと、前記第二時刻において前記メモリからリードした前記ビット反転データである第二データとを比較することにより、前記メモリの故障の有無を判定する、
メモリ故障判定方法。
【請求項６】
複数のビットから形成されるデータをメモリからリードし、
前記複数のビットに対するビット反転を行うことにより前記複数のビットの各ビットの値が反転された後のビット反転データを生成し、
第一時刻で前記メモリに前記ビット反転データをライトし、
前記第一時刻よりも後の第二時刻で前記メモリから前記ビット反転データをリードし、
前記第一時刻において前記メモリにライトした前記ビット反転データである第一データと、前記第二時刻において前記メモリからリードした前記ビット反転データである第二データとを比較することにより、前記メモリの故障の有無を判定する、
処理をプロセッサに実行させるためのメモリ故障判定プログラム。

発明の詳細な説明【技術分野】
【０００１】
本開示は、データ処理装置及びメモリ故障判定方法及びメモリ故障判定プログラムに関する。
続きを表示（約 1,600 文字）【背景技術】
【０００２】
検出器により検出された値（以下では「検出値」と呼ぶことがある）を示すデータ（以下では「検出データ」と呼ぶことがある）は、検出器に接続されたデータ処理装置が有するＦＰＧＡ（Field-Programmable Gate Array）内のメモリに一時的に保存されることがある。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００３】
特開２０１９－１９１７７０号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００４】
しかし、ＦＰＧＡ内のメモリには故障が発生しやすいため、メモリに故障が発生しているときには、正確な検出値を検出器のオペレータに提示できないことがある。
【０００５】
そこで、本開示では、メモリの故障の有無を正確に判定できる技術を提案する。
【課題を解決するための手段】
【０００６】
本開示のデータ処理装置は、メモリと、プロセッサとを有する。前記メモリは、複数のビットから形成されるデータを記憶する。前記プロセッサは、前記メモリから前記データをリードし、前記複数のビットに対するビット反転を行うことにより前記複数のビットの各ビットの値が反転された後のビット反転データを生成し、第一時刻で前記メモリに前記ビット反転データをライトし、前記第一時刻よりも後の第二時刻で前記メモリから前記ビット反転データをリードする。そして、前記プロセッサは、前記第一時刻において前記メモリにライトした前記ビット反転データである第一データと、前記第二時刻において前記メモリからリードした前記ビット反転データである第二データとを比較することにより、前記メモリの故障の有無を判定する。
【発明の効果】
【０００７】
本開示によれば、メモリの故障の有無を正確に判定できる。
【図面の簡単な説明】
【０００８】
本開示の実施例に係る物質検出システムの構成例を示す図である。
本開示の実施例に係るバッファメモリの構成例を示す図である。
本開示の実施例に係るビット反転の一例を示す図である。
本開示の実施例に係るビット反転の一例を示す図である。
本開示の実施例に係る物質検出システムにおける処理手順の一例を示す図である。
本開示の比較例に係る固定データの一例を示す図である。
本開示の比較例に係る固定データの一例を示す図である。
【発明を実施するための形態】
【０００９】
以下に、本開示の実施例を図面に基づいて説明する。なお、以下の実施例において、同一の部位または同一の処理には同一の符号を付すことにより重複する説明を省略することがある。
【００１０】
［実施例］
＜物質検出システムの構成＞
図１は、本開示の実施例に係る物質検出システムの構成例を示す図である。図１において、物質検出システム１は、検出値表示装置１０と、検出器２０とを有する。検出値表示装置１０は、データ処理装置１１と、ＬＣＤ（Liquid Crystal Display）１２とを有し、データ処理装置１１が検出器２０に接続される。データ処理装置１１は、ＣＰＵ（Central Processing Unit）１１Ａと、ＦＰＧＡ１１Ｂとを有する。ＣＰＵ１１Ａは、ＣＰＵメモリＣＭを有する。ＦＰＧＡ１１Ｂは、Ａ／Ｄ変換部１１Ｃと、第一バッファメモリＲＭ１と、第二バッファメモリＭＭ１と、第三バッファメモリＲＭ２と、第四バッファメモリＭＭ２とを有する。以下では、第一バッファメモリＲＭ１、第二バッファメモリＭＭ１、第三バッファメモリＲＭ２、及び、第四バッファメモリＭＭ２を「バッファメモリＢＭ」と総称することがある。
（【００１１】以降は省略されています）

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