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公開番号2024163032
公報種別公開特許公報(A)
公開日2024-11-21
出願番号2024067026
出願日2024-04-17
発明の名称測定方法及び測定システム
出願人アークレイ株式会社
代理人弁理士法人太陽国際特許事務所
主分類G01N 21/78 20060101AFI20241114BHJP(測定;試験)
要約【課題】簡素な構成要素によって、測定対象物の測定に関連する光量ムラを補正する測定方法。
【解決手段】反応試薬が適用されているとともに、該反応試薬と反応する測定対象物を含む試料が導入される試験片に対し、試料が導入される前の試験片の測定領域に測定光を照射した状態で測定前画像を撮影し、撮影した測定前画像における複数の測定部位ごとに発光強度を測定し、測定前画像における各測定部位の発光強度が均一となるような演算値を測定部位ごとに特定し、試料が導入された後の試験片の測定領域に測定光を照射した状態で測定画像を撮影し、撮影した測定画像における、測定前画像の各測定部位に対応する測定部位ごとに発光強度を測定し、測定画像における各測定部位の発光強度を、当該測定部位の演算値で補正する、測定方法。
【選択図】図16
特許請求の範囲【請求項１】
反応試薬が適用されているとともに、該反応試薬と反応する測定対象物を含む試料が導入される試験片に対し、前記試料が導入される前の前記試験片の測定領域に測定光を照射した状態で測定前画像を撮影し、
撮影した前記測定前画像における複数の測定部位ごとに発光強度を測定し、
前記測定前画像における各測定部位の発光強度が均一となるような演算値を測定部位ごとに特定し、
前記試料が導入された後の前記試験片の前記測定領域に前記測定光を照射した状態で測定画像を撮影し、
撮影した前記測定画像における、前記測定前画像の前記各測定部位に対応する測定部位ごとに発光強度を測定し、
前記測定画像における各測定部位の発光強度を、当該測定部位の前記演算値で補正する、測定方法。
続きを表示（約 990 文字）【請求項２】
前記複数の測定部位は、前記試験片において導入された前記試料が移動する方向に沿って設定される、請求項１に記載の測定方法。
【請求項３】
前記演算値を、前記各測定部位において、前記試料が移動する方向と直交する方向に沿って得られた発光強度の平均値に基づき特定する、請求項２に記載の測定方法。
【請求項４】
反応試薬が適用されているとともに、該反応試薬と反応する測定対象物を含む試料が導入される試験片が内部の測定領域に配置されて前記試験片が測定される測定システムであって、
前記測定領域に配置された試験片の測定領域に測定光を照射する光源と、
前記試験片の前記測定領域の画像を撮影する撮影部と、
前記撮影部が撮影した画像を解析する解析部と、を備え、
前記撮影部は、試料が導入される前の前記試験片の前記測定領域を前記光源から前記測定光が照射された状態で撮影することによって測定前画像を取得するとともに、試料が導入された後の前記試験片の前記測定領域を前記光源から前記測定光が照射された状態で撮影することによって測定画像を取得し、
前記解析部は、前記測定前画像における複数の測定部位ごとに、各測定部位の発光強度が均一となるような演算値を特定するとともに、前記測定前画像の前記各測定部位に対応する前記測定画像の測定部位ごとの発光強度を、前記演算値に基づき補正する、測定システム。
【請求項５】
前記複数の測定部位は、前記試験片において導入された前記試料が移動する方向に沿って設定される、請求項４に記載の測定システム。
【請求項６】
前記演算値は、前記各測定部位において、前記試料が移動する方向と直交する方向に沿って得られた発光強度の平均値に基づき特定される、請求項５に記載の測定システム。
【請求項７】
前記撮影部としてのカメラを有するモバイル装置と、
前記モバイル装置を保持するハウジングと、
前記試験片が挿入されるとともに前記光源が設けられ、前記ハウジングに装着される保持部と、を備えるとともに、
前記モバイル装置の中央演算装置が、前記解析部として機能する、請求項４から請求項６までのいずれか１項に記載の測定システム。

発明の詳細な説明【技術分野】
【０００１】
本発明は、測定対象物の測定に関連する光量ムラを補正する測定方法及び測定システムに関する。
続きを表示（約 2,300 文字）【背景技術】
【０００２】
反応試薬が適用されている試験片を用いて、試料中の測定対象物と反応試薬との反応を発光強度で検出する測定システムにおいては、試験片の測定領域に測定光が一様に照射されるとは限らない。このため、試験片の測定領域を一様に照射するか、あるいは照射される光量のムラを補正する試みが種々なされている。
【０００３】
下記特許文献１記載の技術では、イメージセンサでの測定に際し、入射光の分布補正及び基準物質の測定結果が均一になるような光量ムラの補正を実施している。下記特許文献２記載の技術では、照明装置による照度が十分か否か、撮影装置における撮影素子の感度に劣化がないか否かなどを定期的に点検するために専用の点検用試験片を用いて精度管理を行っている。下記特許文献３記載の技術では、点灯状態での光量分布を、消灯状態での光量分布及び補正用光量分布に基づいて補正することが開示されている。
【０００４】
下記特許文献４及び下記特許文献５に記載の技術では、試料を塗布する前の光学試験ストリップと、塗布した後の光学試験ストリップの両方をスマートフォンのカメラで撮影して、塗布前後の画像を解析する技術を開示している。すなわち、特許文献４では、塗布前後の画像の強度を比較し、周囲の照明条件が時間とともに変化する場合において対応するための技術を開示しており、特許文献５では塗布前後の画像から撮影位置を同じようにすることを目的としている。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００５】
ＷＯ２００２／０３９０９４Ａ１
特開２０１４－１９０９２６号公報
特開平７－３３２９３５号公報
特表２０２２－５０６３７６号公報
特表２０２３－５０３８６３号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００６】
本開示の実施態様は、簡素な構成要素によって、測定対象物の測定に関連する光量ムラを補正する測定方法及び測定システムを提供する。
【課題を解決するための手段】
【０００７】
本開示の一態様の測定方法は、反応試薬が適用されているとともに、該反応試薬と反応する測定対象物を含む試料が導入される試験片に対し、試料が導入される前の試験片の測定領域に測定光を照射した状態で測定前画像を撮影し、撮影した測定前画像における複数の測定部位ごとに発光強度を測定し、測定前画像における各測定部位の発光強度が均一となるような演算値を測定部位ごとに特定し、試料が導入された後の試験片の測定領域に測定光を照射した状態で測定画像を撮影し、撮影した測定画像における、測定前画像の各測定部位に対応する測定部位ごとに発光強度を測定し、測定画像における各測定部位の発光強度を、当該測定部位の前記演算値で補正する。
【０００８】
本開示の一態様は、反応試薬が適用されているとともに、該反応試薬と反応する測定対象物を含む試料が導入される試験片が内部の測定領域に配置されて試験片が測定される測定システムであって、測定領域に配置された試験片の測定領域に測定光を照射する光源と、試験片の測定領域の画像を撮影する撮影部と、撮影部が撮影した画像を解析する解析部と、を備え、撮影部は、試料が導入される前の試験片の測定領域を光源から測定光が照射された状態で撮影することによって測定前画像を取得するとともに、試料が導入された後の試験片の測定領域を光源から測定光が照射された状態で撮影することによって測定画像を取得し、解析部は、測定前画像における複数の測定部位ごとに、各測定部位の発光強度が均一となるような演算値を特定するとともに、測定前画像の各測定部位に対応する測定画像の測定部位ごとの発光強度を、演算値に基づき補正する。
【発明の効果】
【０００９】
本開示の実施態様によれば、簡素な構成要素によって、測定対象物の測定に関連する光量ムラを補正する測定方法及び測定システムが提供される。
【図面の簡単な説明】
【００１０】
実施形態で使用される保持部を上方斜視図で示す。
保持部の挿入口付近を下方斜視図にて拡大して示す。
実施形態で使用される試験片を平面視で示す。
保持部に試験片が装着された状態を上方斜視図で示す。
図４の状態を平面視で示す。
実施形態で使用される載置部を上方斜視図で示す。
載置部を底面視で示す。
実施形態のハウジングを上方斜視図で示す。
図８のハウジングに試験片が装着された状態を上方斜視図で示す。
実施形態で使用されるモバイル装置を底面視で示す。
実施形態の測定システムを上方斜視図で示す。
図１１の測定システムから外壁部の一部を除いた状態を上方斜視図で示す。
図１２のXIII－XIII断面を示す。
実施形態の測定システムの機能ブロック図である。
制御部をブロック図で示す。
実施形態の測定システムにおける測定対象物の測定方法の概要を示すフローチャートである。
係数算出の概要を示すフローチャートである。
係数補正の概要を示すフローチャートである。
測定前画像の一例を示す。
測定画像の一例を示す。
測定前画像及び測定画像における補正前の発光強度の一例をグラフで示す。
測定画像における補正後の発光強度の一例をグラフで示す。
【発明を実施するための形態】
（【００１１】以降は省略されています）

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