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公開番号2024161952
公報種別公開特許公報(A)
公開日2024-11-21
出願番号2023077040
出願日2023-05-09
発明の名称ひずみ解析方法、ひずみ解析装置、及びターゲット
出願人中国電力株式会社
代理人弁理士法人一色国際特許事務所
主分類G01B 11/16 20060101AFI20241114BHJP(測定;試験)
要約【課題】サンプリングモアレ法によるひずみの解析を効率よく行う。
【解決手段】ひずみの解析の対象となる構造物の異なる箇所の夫々に格子模様が描画されたターゲットを貼り付け、ターゲットの夫々に構造物に生じた変形により発光する応力発光素子を併設する。ひずみ解析装置は、応力発光素子の発光輝度を取得し、ターゲットの夫々の発光輝度に基づき解析の対象とするターゲットを選択し、選択したターゲットの変形の前後における画像に基づきモアレ画像を生成し、生成したモアレ画像に表れているモアレ縞を位相解析することにより構造物に生じるひずみに関する情報を取得する。ひずみ解析装置は、例えば、発光輝度の高い応力発光素子が併設されている所定数のターゲットを優先して解析の対象として選択する。
【選択図】図3
特許請求の範囲【請求項１】
格子模様が描画されたターゲットをひずみの解析の対象となる構造物の表面に貼りつけ、前記構造物に生じる変形の前後における前記格子模様を撮影して得られる画像を解析することにより前記構造物に生じるひずみに関する情報を生成するひずみ解析方法であって、
前記構造物の異なる箇所の夫々に前記ターゲットを貼り付け、
前記ターゲットの夫々に前記構造物に生じた変形により発光する応力発光素子を併設し、
前記応力発光素子の発光輝度を取得し、
前記ターゲットの夫々の前記発光輝度に基づき前記解析の対象とする前記ターゲットを選択し、
選択した前記ターゲットの前記変形の前後における前記画像に基づき前記情報を取得する、
ひずみ解析方法。
続きを表示（約 1,100 文字）【請求項２】
請求項１に記載のひずみ解析方法であって、
前記発光輝度の高い前記応力発光素子が併設されている所定数の前記ターゲットを優先して前記解析の対象として選択する、
ひずみ解析方法。
【請求項３】
請求項１に記載のひずみ解析方法であって、
前記構造物は、移動体が通行する橋梁であり、
前記移動体が通行する方向に沿って前記橋梁の側面に複数の前記ターゲットを貼りつけ、
前記ターゲットの夫々の前記格子模様を撮影可能な位置に撮影装置を設置し、
前記応力発光素子の発光輝度に基づき撮影の対象とする前記ターゲットを選択し、
選択した前記ターゲットを前記撮影装置により撮影して前記画像を取得し、
取得した前記画像を解析することにより前記情報を生成する、
ひずみ解析方法。
【請求項４】
請求項１に記載のひずみ解析方法であって、
選択した前記ターゲットの前記変形の前後における前記画像に基づきモアレ画像を生成し、
前記モアレ画像に表れているモアレ縞の位相を解析することにより前記情報を生成する、
ひずみ解析方法。
【請求項５】
請求項１に記載のひずみ解析方法に用いるひずみ解析装置であって、
情報処理装置を用いて構成され、
前記画像を記憶し、
前記画像に基づき前記応力発光素子の発光輝度を取得し、
前記ターゲットの夫々の前記発光輝度に基づき前記解析の対象とする前記ターゲットを選択し、
選択した前記ターゲットの前記変形の前後における前記画像に基づき前記情報を取得する、
ひずみ解析装置。
【請求項６】
請求項５に記載のひずみ解析装置であって、
ユーザインタフェースと通信可能に接続し、
前記ターゲットの夫々の前記応力発光素子の発光輝度を前記ユーザインタフェースを介してユーザに提示し、
前記解析の対象とする所定数の前記ターゲットの指定を前記ユーザインタフェースを介してユーザから受け付け、
受け付けた前記ターゲットを前記解析の対象として選択し、
選択した前記ターゲットの前記変形の前後における前記画像に基づき前記情報を取得する、
ひずみ解析装置。
【請求項７】
請求項１に記載のひずみ解析方法に用いる前記ターゲットであって、
表面に前記格子模様が描画された透明な素材からなる第１の層と、
前記第１の層の裏面に積層される、前記応力発光素子を含んだ第２の層と
を有する、
ターゲット。

発明の詳細な説明【技術分野】
【０００１】
本発明は、ひずみ解析方法、ひずみ解析装置、及びターゲットに関し、とくにサンプリングモアレ法によるひずみの解析を効率よく行うための技術に関する。
続きを表示（約 1,300 文字）【背景技術】
【０００２】
近年、わが国では高度経済成長期に建設された構造物の老朽化が問題となっており、こうした構造物についての健全性の評価や寿命診断を効率よく行うための技術の確立が急がれている。
【０００３】
構造物についての健全性の評価や寿命診断を行うための手法として、従来より、例えば、ひずみゲージやレーザ変位計により構造物のひずみを測定することが行われている。また昨今では、より簡便かつ効率よくひずみを解析する技術としてサンプリングモアレ法が注目されている。
【０００４】
サンプリングモアレ法は、格子模様が描画されたシート（以下、「ターゲット」と称する。）を構造物に貼りつけ、構造物の変形（ひずみ）の発生前後における格子模様をカメラにより撮影し、得られた画像に基づきモアレ画像を生成し、生成したモアレ画像に表れているモアレ縞について位相解析を行うことにより構造物に生じているひずみを解析する手法である（例えば、特許文献１を参照）。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００５】
特開昭６０－１９５４０６号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００６】
ところで、例えば、橋梁や鉄塔、ビル、高速道路、トンネル、風量発電設備のような規模の大きな構造物についてサンプリングモアレ法によりひずみの解析を行おうとした場合、構造物の広い範囲に亘って多数のターゲットを貼り付けた後、貼り付けたターゲットの夫々について逐一画像解析を行う必要があり、実施に際し負担が大きいという課題がある。
【０００７】
本発明はこのような背景に鑑みてなされたもので、構造物に生じるひずみの解析を効率よく行うことが可能な、ひずみ解析方法、ひずみ解析装置、及びターゲットを提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【０００８】
上記目的を達成するための本発明のうちの一つは、格子模様が描画されたターゲットをひずみの解析の対象となる構造物の表面に貼りつけ、前記構造物に生じる変形の前後における前記格子模様を撮影して得られる画像を解析することにより前記構造物に生じるひずみに関する情報を生成するひずみ解析方法であって、前記構造物の異なる箇所の夫々に前記ターゲットを貼り付け、前記ターゲットの夫々に前記構造物に生じた変形により発光する応力発光素子を併設し、前記応力発光素子の発光輝度を取得し、前記ターゲットの夫々の前記発光輝度に基づき前記解析の対象とする前記ターゲットを選択し、選択した前記ターゲットの前記変形の前後における前記画像に基づき前記情報を取得する。
【０００９】
その他、本願が開示する課題、及びその解決方法は、発明を実施するための形態の欄、及び図面により明らかにされる。
【発明の効果】
【００１０】
本発明によれば、サンプリングモアレ法によるひずみの解析を効率よく行うことができる。
【図面の簡単な説明】
（【００１１】以降は省略されています）

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