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公開番号
2025115751
公報種別
公開特許公報(A)
公開日
2025-08-07
出願番号
2024010377
出願日
2024-01-26
発明の名称
レジスト組成物、レジストパターン形成方法、化合物、及び酸拡散制御剤
出願人
東京応化工業株式会社
代理人
個人
,
個人
,
個人
,
個人
主分類
G03F
7/004 20060101AFI20250731BHJP(写真;映画;光波以外の波を使用する類似技術;電子写真;ホログラフイ)
要約
【課題】感度、ラフネス、及び解像性のいずれも良好なレジスト組成物等の提供。
【解決手段】酸の作用により現像液に対する溶解性が変化する基材成分(A)と、下記式(d0)で表される露光により酸を発生する化合物(D0)と、を含有するレジスト組成物。[式(d0)中、Ar
01
は芳香環;Rd
01
ヨウ素原子以外の置換基;Rx
0
は式(Rx0-1)又は(Rx0-2)で表される基;M
m+
はm価のカチオン;nは2以上の整数。式(Rx0-2)中、Ar
02
は芳香環;Ld
0
は単結合又は2価の連結基;Rd
02
は置換基;m02は0以上の整数。]
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【選択図】なし
特許請求の範囲
【請求項1】
露光により酸を発生し、かつ、酸の作用により現像液に対する溶解性が変化するレジスト組成物であって、
酸の作用により現像液に対する溶解性が変化する基材成分(A)と、
下記一般式(d0)で表される化合物(D0)と、
を含有する、レジスト組成物。
TIFF
2025115751000103.tif
41
170
[式中、Ar
01
は、芳香環を表す。Rd
01
は、ヨウ素原子以外の置換基を表す。Rx
0
は、下記一般式(Rx0-1)又は(Rx0-2)で表される基を表す。m01は、原子価が許容する限り0以上の整数を表す。n01は、原子価が許容する限り、1以上の整数を表す。m01が2以上の整数のとき、2以上のRd
01
は相互に同じでもよく、異なってもよい。mは1以上の整数であり、M
m+
は、m価のカチオンである。nは、2以上の整数であり、アニオン部全体でn価のアニオンとなる。]
TIFF
2025115751000104.tif
44
170
[式中、Ar
02
は、芳香環を表す。Ld
0
は、単結合又は2価の連結基を表す。Rd
02
は、置換基を表す。m02は、原子価が許容する限り0以上の整数を表す。m02が2以上の整数のとき、2以上のRd
02
は相互に同じでもよく、異なってもよい。*は結合手を表す。]
続きを表示(約 2,400 文字)
【請求項2】
前記化合物(D0)が、下記一般式(d0-1)で表される化合物である、請求項1に記載のレジスト組成物。
TIFF
2025115751000105.tif
44
170
[式中、Ar
011
は、芳香環を表す。Rd
011
は、ヨウ素原子以外の置換基を表す。m011は、原子価が許容する限り0以上の整数を表す。n011は、原子価が許容する限り、1以上の整数を表す。m011が2以上の整数のとき、2以上のRd
011
は相互に同じでもよく、異なってもよい。mは1以上の整数であり、M
m+
は、m価のカチオンである。nは、2以上の整数であり、アニオン部全体でn価のアニオンとなる。]
【請求項3】
前記化合物(D0)が、下記一般式(d0-2)で表される化合物である、請求項1に記載のレジスト組成物。
TIFF
2025115751000106.tif
41
170
[式中、Ar
021
及びAr
022
は、それぞれ独立に、芳香環を表す。Ld
02
は、単結合又は2価の連結基を表す。Rd
021
は、ヨウ素原子以外の置換基を表す。Rd
022
は、置換基を表す。m021及びm022は、それぞれ独立に、原子価が許容する限り0以上の整数を表す。n021は、原子価が許容する限り、1以上の整数を表す。m021が2以上の整数のとき、2以上のRd
021
は相互に同じでもよく、異なってもよい。m022が2以上の整数のとき、2以上のRd
022
は相互に同じでもよく、異なってもよい。mは1以上の整数であり、M
m+
は、m価のカチオンである。nは、2以上の整数であり、アニオン部全体でn価のアニオンとなる。]
【請求項4】
支持体上に、請求項1~3のいずれか1項に記載のレジスト組成物を用いてレジスト膜を形成する工程、前記レジスト膜を露光する工程、及び前記露光後のレジスト膜を現像してレジストパターンを形成する工程を有する、レジストパターン形成方法。
【請求項5】
下記一般式(d0)で表される化合物。
TIFF
2025115751000107.tif
41
170
[式中、Ar
01
は、芳香環を表す。Rd
01
は、ヨウ素原子以外の置換基を表す。Rx
0
は、下記一般式(Rx0-1)又は(Rx0-2)で表される基を表す。m01は、原子価が許容する限り0以上の整数を表す。n01は、原子価が許容する限り、1以上の整数を表す。m01が2以上の整数のとき、2以上のRd
01
は相互に同じでもよく、異なってもよい。mは1以上の整数であり、M
m+
は、m価のカチオンである。nは、2以上の整数であり、アニオン部全体でn価のアニオンとなる。]
TIFF
2025115751000108.tif
44
170
[式中、Ar
02
は、芳香環を表す。Ld
0
は、単結合又は2価の連結基を表す。Rd
02
は、置換基を表す。m02は、原子価が許容する限り0以上の整数を表す。m02が2以上の整数のとき、2以上のRd
02
は相互に同じでもよく、異なってもよい。*は結合手を表す。]
【請求項6】
下記一般式(d0-1)で表される化合物である、請求項5に記載の化合物。
TIFF
2025115751000109.tif
44
170
[式中、Ar
011
は、芳香環を表す。Rd
011
は、ヨウ素原子以外の置換基を表す。m011は、原子価が許容する限り0以上の整数を表す。n011は、原子価が許容する限り、1以上の整数を表す。m011が2以上の整数のとき、2以上のRd
011
は相互に同じでもよく、異なってもよい。mは1以上の整数であり、M
m+
は、m価のカチオンである。nは、2以上の整数であり、アニオン部全体でn価のアニオンとなる。]
【請求項7】
下記一般式(d0-2)で表される化合物である、請求項5に記載の化合物。
TIFF
2025115751000110.tif
41
170
[式中、Ar
021
及びAr
022
は、それぞれ独立に、芳香環を表す。Ld
02
は、単結合又は2価の連結基を表す。Rd
021
は、ヨウ素原子以外の置換基を表す。Rd
022
は、置換基を表す。m021及びm022は、それぞれ独立に、原子価が許容する限り0以上の整数を表す。n021は、原子価が許容する限り、1以上の整数を表す。m021が2以上の整数のとき、2以上のRd
021
は相互に同じでもよく、異なってもよい。m022が2以上の整数のとき、2以上のRd
022
は相互に同じでもよく、異なってもよい。mは1以上の整数であり、M
m+
は、m価のカチオンである。nは、2以上の整数であり、アニオン部全体でn価のアニオンとなる。]
【請求項8】
請求項5~7のいずれか一項に記載の化合物を含む、酸拡散制御剤。
発明の詳細な説明
【技術分野】
【0001】
本発明は、レジスト組成物、レジストパターン形成方法、化合物、及び酸拡散制御剤に関する。
続きを表示(約 1,600 文字)
【背景技術】
【0002】
近年、半導体素子や液晶表示素子の製造においては、リソグラフィー技術の進歩により急速にパターンの微細化が進んでいる。微細化の手法としては、一般に、露光光源の短波長化(高エネルギー化)が行われている。
【0003】
レジスト材料には、これらの露光光源に対する感度、微細な寸法のパターンを再現できる解像性等のリソグラフィー特性が求められる。
このような要求を満たすレジスト材料として、従来、酸の作用により現像液に対する溶解性が変化する基材成分と、露光により酸を発生する酸発生剤成分と、を含有する化学増幅型レジスト組成物が用いられている。
【0004】
レジストパターンの形成においては、露光により酸発生剤成分から発生する酸の挙動がリソグラフィー特性に大きな影響を与える一要素とされる。これに対し、酸発生剤成分とともに、露光により該酸発生剤成分から発生する酸の拡散を制御する酸拡散制御剤を併有する化学増幅型レジスト組成物が提案されている。
【0005】
例えば、特許文献1には、酸拡散制御剤として、芳香環と脂肪族環との縮合環構造を有するカルボン酸をアニオン部として含むオニウム塩を採用したレジスト組成物が開示されている。
【先行技術文献】
【特許文献】
【0006】
特開2022-014782号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【0007】
レジストパターンの微細化が進むなか、例えば、EUVやEBによるリソグラフィーでは、数十nmの微細なパターン形成が目標とされる。このようなレジストパターンの微細化に伴い、感度、及びラフネス等のリソグラフィー特定の向上が課題となっている。しかしながら、これらのリソグラフィー特性は、通常、トレードオフの関係にあり、いずれの特性の向上を図ると、他の特性が劣化する傾向にある。レジスト組成物においては、感度、及びラフネスのいずれもトレードオフさせることなく、これらを改善させることが求められている。
【0008】
本発明は、上記事情に鑑みてなされたものであって、感度、及びラフネスのいずれも良好なレジスト組成物、前記レジスト組成物を用いたレジストパターン形成方法、前記レジスト組成物に使用可能な、化合物、及び酸拡散制御剤を提供することを課題とする。
【課題を解決するための手段】
【0009】
上記の課題を解決するために、本発明は以下の構成を採用した。
すなわち、本発明の第1の態様は、露光により酸を発生し、かつ、酸の作用により現像液に対する溶解性が変化するレジスト組成物であって、酸の作用により現像液に対する溶解性が変化する基材成分(A)と、下記一般式(d0)で表される化合物(D0)と、を含有する、レジスト組成物である。
【0010】
TIFF
2025115751000001.tif
41
170
[式中、Ar
01
は、芳香環を表す。Rd
01
は、ヨウ素原子以外の置換基を表す。Rx
0
は、下記一般式(Rx0-1)又は(Rx0-2)で表される基を表す。m01は、原子価が許容する限り0以上の整数を表す。n01は、原子価が許容する限り、1以上の整数を表す。m01が2以上の整数のとき、2以上のRd
01
は相互に同じでもよく、異なってもよい。mは1以上の整数であり、M
m+
は、m価のカチオンである。nは、2以上の整数であり、アニオン部全体でn価のアニオンとなる。]
(【0011】以降は省略されています)
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