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公開番号
2025106745
公報種別
公開特許公報(A)
公開日
2025-07-16
出願番号
2024000325
出願日
2024-01-04
発明の名称
測定方法及び測定システム
出願人
株式会社東芝
代理人
弁理士法人iX
主分類
G01B
11/06 20060101AFI20250709BHJP(測定;試験)
要約
【課題】酸化銅の膜厚を、より簡便に、より短時間で測定可能な測定方法及び測定システムを提供する。
【解決手段】一実施形態に係る測定方法では、15nm以下の酸化銅の膜厚と酸化銅の色情報との関係を示す数式を作成し、測定対象の銅の表面を測色し、数式に測色結果を適用することで、表面に形成された酸化銅の膜厚を計算する。別の一実施形態に係る測定方法では、DIN5033 Teil7、JIS Z 8722 条件c、ISO7724/1、CIE No.15(2004)、又はASTM E 1164(SCI)のいずれかに準拠した方法によって酸化銅を測色する。測定方法において、L値が53より大きく82未満、a値が17より大きく45未満、及びb値が24より大きく43未満である酸化銅の色情報と、酸化銅の膜厚と、の関係を示す数式を作成し、測定対象の銅の表面を測色し、数式に測色結果を適用することで、表面に形成された酸化銅の膜厚を計算する。
【選択図】図1
特許請求の範囲
【請求項1】
15nm以下の酸化銅の膜厚と、前記酸化銅の色情報と、の関係を示す数式を作成し、
測定対象の銅の表面を測色し、前記数式に測色結果を適用することで、前記表面に形成された酸化銅の膜厚を計算する、測定方法。
続きを表示(約 1,700 文字)
【請求項2】
DIN5033 Teil7、JIS Z 8722 条件c、ISO7724/1、CIE No.15(2004)、又はASTM E 1164(SCI)のいずれかに準拠した方法によって酸化銅を測色し、
L値が53より大きく82未満、a値が17より大きく45未満、及びb値が24より大きく43未満である酸化銅の色情報と、前記酸化銅の膜厚と、の関係を示す数式を作成し、
測定対象の銅の表面を測色し、前記数式に測色結果を適用することで、前記表面に形成された酸化銅の膜厚を計算する、測定方法。
【請求項3】
前記色情報は、Lab表色系で表され、
前記数式は、
X
L
=k
1
×T+C
1
で表される第1式と、
X
a
=k
2
×T+C
2
で表される第2式と、
X
b
=k
3
×T+C
3
で表される第3式と、
から選択される1つ以上を含み、
Tは酸化銅の膜厚、C
1
、C
2
、C
3
、k
1
、k
2
、及びk
3
は定数、X
L
は前記測色結果のL値、X
a
は前記測色結果のa値、X
b
は前記測色結果のb値である、請求項1又は2に記載の測定方法。
【請求項4】
前記数式は、前記第1式、前記第2式、及び前記第3式を含む、請求項3に記載の測定方法。
【請求項5】
前記数式は、CuOの膜厚及びCu
2
Oの膜厚の組み合わせと、前記色情報と、の関係を示し、
前記数式に前記測色結果を適用することで、前記表面に形成されたCuOの膜厚及びCu
2
Oの膜厚を測定する、請求項1又は2に記載の測定方法。
【請求項6】
前記色情報は、Lab表色系で表され、
前記数式は、
X
L
=k
1
×T
1
+k
2
×T
2
+k
3
×(T
1
-C
1
)×(T
2
-C
2
)+C
3
で表される第1式と、
X
a
=k
4
×T
1
+k
5
×T
2
+k
6
×(T
1
-C
4
)×(T
2
-C
5
)+C
6
で表される第2式と、
X
b
=k
7
×T
1
+k
8
×T
2
+k
9
×(T
1
-C
7
)×(T
2
-C
8
)+C
9
で表される第3式と、
から選択される1つ以上を含み、
T
1
はCuOの膜厚、T
2
はCu
2
Oの膜厚、C
1
、C
2
、C
3
、C
4
、C
5
、C
6
、C
7
、C
8
【請求項7】
測定対象の銅の表面を照らす光源と、
照らされた前記表面を測色する測色計と、
15nm以下の酸化銅の膜厚と、酸化銅の色情報と、の関係を示す数式に、前記測色計による測色結果を適用することで、前記表面に形成された酸化銅の膜厚を測定する、測定装置と、
を備えた測定システム。
発明の詳細な説明
【技術分野】
【0001】
本発明の実施形態は、測定方法及び測定システムに関する。
続きを表示(約 1,500 文字)
【背景技術】
【0002】
銅が酸素と反応すると、酸化銅が形成される。銅の部材の表面に形成された酸化銅の膜厚を、より簡便に測定できる技術が求められている。
【先行技術文献】
【特許文献】
【0003】
特開2014-146704号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【0004】
本発明が解決しようとする課題は、酸化銅の膜厚を、より簡便に、より短時間で測定可能な、測定方法及び測定システムを提供することである。
【課題を解決するための手段】
【0005】
一実施形態に係る測定方法では、15nm以下の酸化銅の膜厚と、前記酸化銅の色情報と、の関係を示す数式を作成する。前記測定方法において、測定対象の銅の表面を測色し、前記数式に測色結果を適用することで、前記表面に形成された酸化銅の膜厚を計算する。
【0006】
別の一実施形態に係る測定方法では、DIN5033 Teil7、JIS Z 8722 条件c、ISO7724/1、CIE No.15(2004)、又はASTM E 1164(SCI)のいずれかに準拠した方法によって酸化銅を測色する。前記測定方法において、L値が53より大きく82未満、a値が17より大きく45未満、及びb値が24より大きく43未満である酸化銅の色情報と、前記酸化銅の膜厚と、の関係を示す数式を作成する。前記測定方法において、測定対象の銅の表面を測色し、前記数式に測色結果を適用することで、前記表面に形成された酸化銅の膜厚を計算する。
【図面の簡単な説明】
【0007】
図1は、実施形態に係る測定方法を示すフローチャートである。
図2は、薄膜干渉の様子を示す模式図である。
図3は、酸化銅の膜厚と色情報との関係を例示する実験結果である。
図4は、実施形態の変形例に係る測定方法を示すフローチャートである。
図5は、CuOの膜厚と色情報との関係を例示する実験結果である。
図6は、Cu
2
Oの膜厚と色情報との関係を例示する実験結果である。
図7は、実施形態に係る測定システムを示す模式図である。
図8は、ハードウェア構成を表す模式図である。
【発明を実施するための形態】
【0008】
以下に、本発明の各実施形態について図面を参照しつつ説明する。図面は模式的または概念的なものであり、各部分の厚みと幅との関係、部分間の大きさの比率などは、必ずしも現実のものと同一とは限らない。また、同じ部分を表す場合であっても、図面により互いの寸法や比率が異なって表される場合もある。本願明細書と各図において、既に説明したものと同様の要素には同一の符号を付して詳細な説明は適宜省略する。
【0009】
銅の部材の表面には、銅と酸素との反応によって酸化銅が形成される。本発明の実施形態は、この酸化銅の膜厚をより簡便に求めるために用いられる。
【0010】
図1は、実施形態に係る測定方法を示すフローチャートである。
図1に示すように、実施形態に係る測定方法M1は、モデル構築(ステップS10)及び膜厚測定(ステップS20)を含む。モデル構築では、酸化銅の膜厚と酸化銅の色情報との関係を示す数式(モデル)を作成する。膜厚測定では、対象の銅の表面を測色し、数式及び測色結果を用いて酸化銅の膜厚を計算する。以下で、各ステップについて具体的に説明する。
(【0011】以降は省略されています)
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