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公開番号2025106743
公報種別公開特許公報(A)
公開日2025-07-16
出願番号2024000318
出願日2024-01-04
発明の名称検査装置、検査方法、及び、電池の製造方法
出願人株式会社東芝
代理人弁理士法人iX
主分類G01N 27/82 20060101AFI20250709BHJP(測定;試験)
要約【課題】高精度の検査が可能な検査装置、検査方法、及び、電池の製造方法を提供する。
【解決手段】実施形態によれば、検査装置は、検査対象から得られるデータを取得する取得部と、データを処理する処理部と、を含む。データは、第1、第2方向を含む平面に関する2次元の磁界データを含む。平面は、第1、第2領域と、第1～第3位置と、を含む。第3位置は、第1方向において第1位置と第2位置との中点である。第1領域は、第1方向において第1位置と第3位置との間にある。第2領域は、第1方向において第3位置と第2位置との間にある。磁界データは、第1領域に関する第1領域データと、第2領域に関する第2領域データと、を含む。処理部は、第2領域データに含まれる磁界値を第1方向において反転した第2領域反転データと、第1領域データと、の差データに基づいて前記検査対象を検査する。
【選択図】図1
特許請求の範囲【請求項１】
検査対象から得られるデータを取得するように構成された取得部と、
前記取得部が取得した前記データを処理する第１動作を実施するように構成された処理部と、
を備え、
前記データは、第１方向と、前記第１方向と交差する第２方向と、を含む平面に関する２次元の磁界データを含み、
前記平面は、第１領域と、第２領域と、第１位置と、第２位置と、第３位置と、を含み、
前記第１領域から前記第２領域への方向は前記第１方向に沿い、
前記第３位置は、前記第１方向において前記第１位置と前記第２位置との中点であり、
前記第１領域は、前記第１方向において前記第１位置と前記第３位置との間にあり、
前記第２領域は、前記第１方向において前記第３位置と前記第２位置との間にあり、
前記磁界データは、前記第１領域に関する第１領域データと、前記第２領域に関する第２領域データと、を含み、
前記処理部は、前記第１動作において、前記第２領域データに含まれる磁界値を前記第１方向において反転した第２領域反転データと、前記第１領域データと、の差データに基づいて前記検査対象を検査する、検査装置。
続きを表示（約 1,200 文字）【請求項２】
前記磁界データは、前記第２方向の成分に関する、請求項１に記載の検査装置。
【請求項３】
前記検査対象は、電池である、請求項１または２に記載の検査装置。
【請求項４】
前記電池は、第１電極と、第２電極と、前記第１電極と前記第２電極との間の電池部と、を含み、
前記第１電極から前記第２電極への方向は、前記２次元の前記磁界データの前記第１方向に沿う、請求項３に記載の検査装置。
【請求項５】
前記２次元の前記磁界データは、前記第１電極と前記第２電極との間に交流電圧を印加したときに前記電池から生じる磁界の分布を含む、請求項４に記載の検査装置。
【請求項６】
前記処理部は、前記検査対象の欠陥の位置が前記第１領域または前記第２領域のいずれかに存在することの推定結果と、前記差データと、に基づいて前記欠陥の前記位置を決定するように構成され、
前記第１領域は、前記第１領域データに対応し、
前記第２領域は、前記第２領域データに対応する、請求項１～５のいずれか１つに記載の検査装置。
【請求項７】
前記処理部は、前記２次元の前記磁界データから、前記推定結果を導出するように構成された、請求項６に記載の検査装置。
【請求項８】
前記検査対象から前記２次元の前記磁界データを取得するよう構成された磁界センサをさらに備えた、請求項１～７のいずれか１つに記載の検査装置。
【請求項９】
検査対象から得られるデータを取得し、
前記データを処理し、
前記データは、第１方向と、前記第１方向と交差する第２方向と、を含む平面に関する２次元の磁界データを含み、
前記平面は、第１領域と、第２領域と、第１位置と、第２位置と、第３位置と、を含み、
前記第１領域から前記第２領域への方向は前記第１方向に沿い、
前記第３位置は、前記第１方向において前記第１位置と前記第２位置との中点であり、
前記第１領域は、前記第１方向において前記第１位置と前記第３位置との間にあり、
前記第２領域は、前記第１方向において前記第３位置と前記第２位置との間にあり、
前記磁界データは、前記第１領域に関する第１領域データと、前記第２領域に関する第２領域データと、を含み、
前記第２領域データに含まれる磁界値を前記第１方向において反転した第２領域反転データと、前記第１領域データと、の差データに基づいて前記検査対象を検査する、検査方法。
【請求項１０】
前記検査対象の欠陥の位置が前記第１領域または前記第２領域のいずれかに存在することの推定結果と、前記差データと、に基づいて前記欠陥の前記位置を決定し、
前記第１領域は、前記第１領域データに対応し、
前記第２領域は、前記第２領域データに対応する、請求項９に記載の検査方法。
（【請求項１１】以降は省略されています）
発明の詳細な説明【技術分野】
【０００１】
本発明の実施形態は、検査装置、検査方法、及び、電池の製造方法に関する。
続きを表示（約 1,900 文字）【背景技術】
【０００２】
例えば、電池などの検査対象から生じる磁界を検出することで、検査対象が検査される。より高い精度の検査が望まれる。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００３】
特開２０２２－１７９１１９号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００４】
実施形態は、高精度の検査が可能な検査装置、検査方法、及び、電池の製造方法を提供する。
【課題を解決するための手段】
【０００５】
実施形態によれば、検査装置は、検査対象から得られるデータを取得するように構成された取得部と、前記取得部が取得した前記データを処理する第１動作を実施するように構成された処理部と、を含む。前記データは、第１方向と、前記第１方向と交差する第２方向と、を含む平面に関する２次元の磁界データを含む。前記平面は、第１領域と、第２領域と、第１位置と、第２位置と、第３位置と、を含む。前記第１領域から前記第２領域への方向は前記第１方向に沿う。前記第３位置は、前記第１方向において前記第１位置と前記第２位置との中点である。前記第１領域は、前記第１方向において前記第１位置と前記第３位置との間にある。前記第２領域は、前記第１方向において前記第３位置と前記第２位置との間にある。前記磁界データは、前記第１領域に関する第１領域データと、前記第２領域に関する第２領域データと、を含む。前記処理部は、前記第１動作において、前記第２領域データに含まれる磁界値を前記第１方向において反転した第２領域反転データと、前記第１領域データと、の差データに基づいて前記検査対象を検査する。
【図面の簡単な説明】
【０００６】
図１は、第１実施形態に係る検査装置を例示する模式図である。
図２は、第１実施形態に係る検査装置の動作を例示するフローチャートである。
図３は、第１実施形態に係る検査装置を例示する模式図である。
図４は、第１実施形態に係る検査装置を例示する模式図である。
図５は、第１実施形態に係る検査装置を例示する模式図である。
図６は、第１実施形態に係る検査装置を例示する模式図である。
図７は、第１実施形態に係る検査装置を例示する模式図である。
図８は、第１実施形態に係る検査装置を例示する模式図である。
図９は、第１実施形態に係る検査装置を例示する模式図である。
図１０は、第３実施形態に係る電池の製造方法を例示するフローチャートである。
【発明を実施するための形態】
【０００７】
以下に、本発明の各実施の形態について図面を参照しつつ説明する。
図面は模式的または概念的なものであり、各部分の厚さと幅との関係、部分間の大きさの比率などは、必ずしも現実のものと同一とは限らない。同じ部分を表す場合であっても、図面により互いの寸法や比率が異なって表される場合もある。
本願明細書と各図において、既出の図に関して前述したものと同様の要素には同一の符号を付して詳細な説明は適宜省略する。
【０００８】
（第１実施形態）
図１は、第１実施形態に係る検査装置を例示する模式図である。
図２は、第１実施形態に係る検査装置の動作を例示するフローチャートである。
図３～図７は、第１実施形態に係る検査装置を例示する模式図である。
図１に示すように、実施形態に係る検査装置１１０は、取得部７１及び処理部７０を含む。取得部７１は、検査対象８０から得られるデータ１０Ａを取得するように構成される。処理部７０は、取得部７１が取得したデータ１０Ａを処理する第１動作を実施するように構成される。取得部７１は、例え、インタフェースである。処理部７０は、例えば、プロセッサ回路（例えば、電気回路）で良い。
【０００９】
図２は、検査装置１１０で実施される検査方法を例示している。図２に示すように、例えば、取得部７１は、データ１０Ａを取得する（ステップＳ１１１）。例えば、処理部７０は、データ１０Ａを処理する（ステップＳ１１２）。例えば、処理部７０は、処理結果を出力する（ステップＳ１１３）。処理結果は、検査結果を含む。
【００１０】
１つの例において、検査対象８０は、電池８０Ｃで良い。電池８０Ｃは、例えば、第１電極８１、第２電極８２、及び、電池部８３を含んで良い。電池部８３は、例えば、第１電極８１と第２電極８２との間に設けられる。
（【００１１】以降は省略されています）

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