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公開番号2025079077
公報種別公開特許公報(A)
公開日2025-05-21
出願番号2023191506
出願日2023-11-09
発明の名称塗膜厚計測方法
出願人鹿島建設株式会社
代理人個人,個人,個人,個人
主分類G01B 7/06 20060101AFI20250514BHJP(測定;試験)
要約【課題】非金属によって構成された下地に形成された塗膜の厚さを計測できるとともに、下地の美観を損なうことを抑制できる塗膜厚計測方法を提供する。
【解決手段】一実施形態に係る塗膜厚計測方法は、非金属によって構成された下地Bの表面B1に形成される塗膜Mの厚さを計測する。塗膜厚計測方法は、下地Bの表面B1に透明な導電性フィルム2を貼り付ける工程と、下地Bの表面B1、および導電性フィルム2における表面B1とは反対側の面2bに塗膜Mを形成する工程と、導電性フィルム2に渦電流式膜厚計3のプローブ3dを接触させて渦電流式膜厚計3のキャリブレーションを行う工程と、キャリブレーションが行われた渦電流式膜厚計3のプローブ3dを塗膜Mにおける導電性フィルム2とは反対側の面M1に接触させることにより、表面B1に形成された塗膜M塗膜の厚さを計測する工程と、を備える。
【選択図】図7
特許請求の範囲【請求項１】
非金属によって構成された下地の表面に形成される塗膜の厚さを計測する塗膜厚計測方法であって、
前記下地の表面に透明な導電性フィルムを貼り付ける工程と、
前記下地の表面、および前記導電性フィルムにおける前記表面とは反対側の面に前記塗膜を形成する工程と、
前記導電性フィルムに渦電流式膜厚計のプローブを接触させて前記渦電流式膜厚計のキャリブレーションを行う工程と、
前記キャリブレーションが行われた前記渦電流式膜厚計の前記プローブを前記塗膜における前記導電性フィルムとは反対側の面に接触させることにより、前記表面に形成された前記塗膜の厚さを計測する工程と、
を備える、
塗膜厚計測方法。
続きを表示（約 130 文字）【請求項２】
前記導電性フィルムの表面抵抗率が６Ω／ｓｑ未満である、
請求項１に記載の塗膜厚計測方法。
【請求項３】
前記下地が木によって構成されており、前記塗膜が耐火塗料である、
請求項１または請求項２に記載の塗膜厚計測方法。

発明の詳細な説明【技術分野】
【０００１】
本開示は、下地の表面に形成された塗膜の厚さを計測する塗膜厚計測方法に関する。
続きを表示（約 1,800 文字）【背景技術】
【０００２】
特許文献１には、非金属材料の下地面上に塗膜層を形成する塗膜形成工法が記載されている。塗膜形成工法では、コンクリート壁面等の非金属材料の下地面に金属製シートを敷設する。金属製シートは、目の開きが数百μｍ程度から数ｍｍ程度の金属メッシュ、金属箔、または金属箔を複合化した不織布等である。
【０００３】
金属製シートは、下地面となる壁面上にコンクリート用釘で敷設固定される。この金属製シートの上から塗膜層が形成される。よって、下地面が非金属材料であっても、当該塗膜層越しに金属製シートが磁力や磁界等の強さに相応した電気的相関性を発揮する。この電気的相関性を利用して電磁式または渦電流式の膜厚計で当該塗膜層の膜厚を任意の位置で直接計測することが可能になる。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００４】
特開平７－２７９２６７号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００５】
前述した塗膜形成工法では、下地面上にコンクリート用釘で金属製シートを敷設固定し、金属製シートの上に塗膜層を形成することにより、下地面が非金属材料によって構成されていても塗膜層の膜厚を計測できる。ところで、金属製シートとしては、有色のものが用いられる。
【０００６】
塗装膜としては、透明のものが用いられることがある。下地面上に有色の金属製シートを設けて、金属製シートの上に透明な塗膜層を形成する場合、塗膜層を形成した後に金属製シートが見えることとなって下地の美観を損なうという問題が生じうる。例えば、木材によって形成された下地の表面に載せられた金属製シートの上に透明な塗膜層を形成すると、木目の美観を損なうということが生じうる。
【０００７】
本開示は、非金属によって構成された下地に形成された塗膜の厚さを計測できるとともに、下地の美観を損なうことを抑制できる塗膜厚計測方法を提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【０００８】
（１）本開示に係る塗膜厚計測方法は、非金属によって構成された下地の表面に形成される塗膜の厚さを計測する塗膜厚計測方法である。塗膜厚計測方法は、下地の表面に透明な導電性フィルムを貼り付ける工程と、下地の表面、および導電性フィルムにおける表面とは反対側の面に塗膜を形成する工程と、導電性フィルムに渦電流式膜厚計のプローブを接触させて渦電流式膜厚計のキャリブレーションを行う工程と、キャリブレーションが行われた渦電流式膜厚計のプローブを塗膜における導電性フィルムとは反対側の面に接触させることにより、表面に形成された塗膜の厚さを計測する工程と、を備える。
【０００９】
この塗膜厚計測方法では、非金属によって構成された下地の表面に形成された塗膜の厚さを計測する。下地の表面には透明な導電性フィルムが貼り付けられ、当該表面、および導電性フィルムにおける当該表面とは反対側の面に塗膜が形成される。この導電性フィルムに渦電流式膜厚計のプローブが接触することによって渦電流式膜厚計のキャリブレーションが行われる。そして、キャリブレーションが行われた渦電流式膜厚計のプローブが塗膜における導電性フィルムとは反対側の面に接触することにより、下地の表面に形成された塗膜の厚さが計測される。したがって、下地が非金属によって構成されていても渦電流式膜厚計によって塗膜の厚さを計測できる。この塗膜厚計測方法では、下地の表面に透明な導電性フィルムが貼り付けられ、塗膜における導電性フィルムとは反対側の面にプローブが接触した状態で渦電流式膜厚計が塗膜の厚さを計測する。したがって、下地に貼り付けられた導電性フィルムが透明であることにより、下地に透明な塗膜が形成されても導電性フィルムが見えなくなるので、導電性フィルムが下地の美観を損なうことを抑制できる。
【００１０】
（２）上記（１）において、導電性フィルムの表面抵抗率が６Ω／ｓｑ未満であってもよい。この場合、導電性フィルムの表面抵抗率を６Ω／ｓｑ未満とすることにより、渦電流式膜厚計による計測可能な膜厚の範囲を広げることができる。
（【００１１】以降は省略されています）

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