発明の詳細な説明【技術分野】 【0001】 本発明の実施形態は、パラメータ最適化装置、方法及びプログラムに関する。 続きを表示(約 1,500 文字)【背景技術】 【0002】 社会には、様々な機器があり、それら機器は様々な部品から構成されている。これらの機器や部品は、設計され、製造され、活用される。 【0003】 設計段階においては、特性が仕様を満たす機器や部品が設計される場合がある。この際、設計時に調整できるパラメータを様々な値に変更し、シミュレーションや実験、アンケートを実施することで、それらのパラメータ値で設計したときの特性を取得し、その特性が仕様を満たすパラメータ値を求める。ここで、特性は例えば、機器や部品の性能や製造コスト、顧客満足度である。機器や部品の性能は良いほど好ましく、製造コストは低いほど好ましく、顧客満足度は高いほど好ましい。特性の値が大きいほど良い場合は、その特性を最大化するパラメータ値を少ない時間や手間で求めることが要求される。特性の値が小さいほど良い場合は、その特性を最小化するパラメータ値を少ない時間や手間で求めることが要求される。 【0004】 特性が最大又は最小となるパラメータ値を求めることは、パラメータ最適化と呼ばれる。パラメータ値に応じて変化する特性は、目的関数と呼ばれる。シミュレーションや実験、アンケートは、目的関数の値を観測するための手段である。 【0005】 製造段階においても、パラメータ最適化が用いられる場合がある。例えば、製造時の歩留まりを最大化するパラメータ値を求めたり、出荷後の故障率を最小化するパラメータ値を求めたりする場合がある。 【0006】 活用段階においても、パラメータ最適化が用いられる場合がある。例えば、ユーザの手元に届いた機器や部品が、ユーザの利用環境に合った性能を発揮するパラメータ値をユーザによる初期設定時に求める場合がある。 【0007】 パラメータは複数ある場合が多い。調整するパラメータの数をDで表すと、複数のパラメータはD次元ベクトルで表現できる。D次元ベクトルで表現できるパラメータをD次元パラメータと呼び、D次元パラメータが持つ値をD次元パラメータ値と呼ぶことにする。最適なD次元パラメータ値を探索する空間はD次元空間となる。Dが大きいほど、探索空間が広いため、最適化が困難である。 【0008】 D次元空間(D≧2)において、目的関数を最大又は最小にするD次元パラメータ値を探索するパラメータ最適化方式として、非特許文献1の手法が知られている。この手法では、探索空間をD次元空間中の1次元空間に限定し、その1次元探索空間を切り替えながらベイズ最適化を反復することで、パラメータ値を探索する。これにより、D次元パラメータの探索を効率化する。 【先行技術文献】 【特許文献】 【0009】 特開2020-27370号公報 【非特許文献】 【0010】 J. Kirschner, M. Mutny, N. Hiller, R. Ischebeck, and A. Krause,“Adaptive and safe Bayesian optimization in high dimensions via one-dimensional subspaces,” in Proceedings of the 36th International Conference on Machine Learning, vol. 97, pp. 3429-3438, PMLR, 2019. 【発明の概要】 【発明が解決しようとする課題】 (【0011】以降は省略されています) この特許をJ-PlatPatで参照する