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公開番号2025002091
公報種別公開特許公報(A)
公開日2025-01-09
出願番号2023102017
出願日2023-06-21
発明の名称光ファイバ特性測定装置及び光ファイバ特性測定方法
出願人横河電機株式会社
代理人個人,個人,個人,個人
主分類G01M 11/00 20060101AFI20241226BHJP(測定;試験)
要約【課題】光ファイバ特性の測定時間を短縮できる光ファイバ特性測定装置及び光ファイバ特性測定方法を提供する。
【解決手段】光ファイバ特性測定装置10は、被測定光ファイバ80内で生じたブリルアン散乱光LSのブリルアンゲインスペクトルに含まれる複数のピークを抽出して被測定光ファイバ80の特性を測定する演算部54を備える。
【選択図】図2B
特許請求の範囲【請求項１】
被測定光ファイバ内で生じたブリルアン散乱光のブリルアンゲインスペクトルに含まれる複数のピークを抽出して前記被測定光ファイバの特性を測定する演算部を備える、光ファイバ特性測定装置。
続きを表示（約 720 文字）【請求項２】
前記演算部は、
前記被測定光ファイバの特性を測定する測定区間を前記被測定光ファイバの中の少なくとも１つの位置に設定し、
各位置に設定した前記測定区間におけるブリルアンゲインスペクトルを測定し、
異常ピークを含むものの正常ピークを含まないブリルアンゲインスペクトルを測定した区間の特性が異常であると決定し、
正常ピーク及び異常ピークを両方とも含むブリルアンゲインスペクトルを測定した区間を細分化し、
細分化した各区間でブリルアンゲインスペクトルを測定し、
細分化した各区間が異常であるか決定する、
請求項１に記載の光ファイバ特性測定装置。
【請求項３】
前記被測定光ファイバに入射させる変調光を射出する光源を更に備え、
前記光源は、前記測定区間の長さを決定する前記変調光の振幅と、前記測定区間の位置を決定する前記変調光の変調周波数とを、前記演算部が制御できるように構成される、請求項２に記載の光ファイバ特性測定装置。
【請求項４】
測定したブリルアンゲインスペクトルと、ブリルアンゲインスペクトルを測定した区間を特定する情報とを対応づけて格納する記憶部を更に備え、
前記演算部は、前記記憶部に格納した情報に基づいて前記変調光の振幅及び変調周波数を制御する、請求項３に記載の光ファイバ特性測定装置。
【請求項５】
被測定光ファイバ内で生じたブリルアン散乱光のブリルアンゲインスペクトルに含まれる複数のピークを抽出して前記被測定光ファイバの特性を測定するステップを含む、光ファイバ特性測定方法。

発明の詳細な説明【技術分野】
【０００１】
本開示は、光ファイバ特性測定装置及び光ファイバ特性測定方法に関する。
続きを表示（約 1,800 文字）【背景技術】
【０００２】
従来、光ファイバ内で発生したブリルアン散乱のブリルアン周波数シフト量（ＢＦＳ）を求めることによって光ファイバの特性を測定する方法が知られている（例えば特許文献１参照）。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００３】
特開２０２０－４１８４３号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００４】
ＢＦＳがブリルアンゲインスペクトラム（ＢＧＳ）において検出される１つのピークの周波数として算出される場合、ＢＧＳを測定する空間分解能が光ファイバの異常部より短く設定される必要がある。ここで、空間分解能が短いほど、光ファイバの長さ方向の全体を漏らさずに測定できるようにＢＧＳを検出する対象の区間の数が増える。ＢＧＳを検出する対象の区間の数が増えるほど、光ファイバ特性を測定対象の全体でＢＧＳを検出するためにかかる時間が長くなる。その結果、光ファイバ特性の測定時間が長くなる。
【０００５】
本開示は、上述の点に鑑みてなされたものであり、光ファイバ特性の測定時間を短縮できる光ファイバ特性測定装置及び光ファイバ特性測定方法を提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【０００６】
（１）幾つかの実施形態に係る光ファイバ特性測定装置は、被測定光ファイバ内で生じたブリルアン散乱光のブリルアンゲインスペクトルに含まれる複数のピークを抽出して前記被測定光ファイバの特性を測定する演算部を備える。光ファイバ特性測定装置は、ブリルアンゲインスペクトルに含まれる複数のピークのそれぞれを抽出することによって、測定区間を長く設定しても測定区間の一部に含まれる異常を見逃しにくくなる。測定時間を長く設定できる結果、光ファイバ特性の測定時間が短縮される。
【０００７】
（２）上記（１）に記載の光ファイバ特性測定装置において、前記演算部は、前記被測定光ファイバの特性を測定する測定区間を前記被測定光ファイバの中の少なくとも１つの位置に設定し、各位置に設定した前記測定区間におけるブリルアンゲインスペクトルを測定し、異常ピークを含むものの正常ピークを含まないブリルアンゲインスペクトルを測定した区間の特性が異常であると決定し、正常ピーク及び異常ピークを両方とも含むブリルアンゲインスペクトルを測定した区間を細分化し、細分化した各区間でブリルアンゲインスペクトルを測定し、細分化した各区間が異常であるか決定してよい。異常を含む測定区間を細分化して測定を繰り返すことによって、測定区間を短く設定する範囲が限定される。被測定光ファイバの一部だけで測定区間を短く設定することによって、光ファイバ特性の測定時間が短縮される。
【０００８】
（３）上記（２）に記載の光ファイバ特性測定装置は、前記被測定光ファイバに入射させる変調光を射出する光源を更に備えてよい。前記光源は、前記測定区間の長さを決定する前記変調光の振幅と、前記測定区間の位置を決定する前記変調光の変調周波数とを、前記演算部が制御できるように構成されてよい。変調光の変調周波数及び振幅を制御して測定区間の位置及び長さを決定できることによって、測定位置及び測定の空間分解能が瞬時に切り替えられる。つまり、ランダムアクセス性が実現される。また、変調光の変調周波数及び振幅を制御して測定区間の長さを決定できることによって、測定の空間分解能が瞬時に切り替えられる。その結果、測定区間の細分化が容易に実現される。
【０００９】
（４）上記（３）に記載の光ファイバ特性測定装置は、測定したブリルアンゲインスペクトルと、ブリルアンゲインスペクトルを測定した区間を特定する情報とを対応づけて格納する記憶部を更に備えてよい。前記演算部は、前記記憶部に格納した情報に基づいて前記変調光の振幅及び変調周波数を制御してよい。
【００１０】
（５）幾つかの実施形態に係る光ファイバ特性測定方法は、被測定光ファイバ内で生じたブリルアン散乱光のブリルアンゲインスペクトルに含まれる複数のピークを抽出して前記被測定光ファイバの特性を測定するステップを含む。
【発明の効果】
（【００１１】以降は省略されています）

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