TOP特許意匠商標
特許ウォッチ Twitter
10個以上の画像は省略されています。
公開番号2024168640
公報種別公開特許公報(A)
公開日2024-12-05
出願番号2023085483
出願日2023-05-24
発明の名称情報処理装置、探査装置およびプログラム
出願人学校法人早稲田大学
代理人SK弁理士法人,個人,個人
主分類G01V 3/02 20060101AFI20241128BHJP(測定;試験)
要約【課題】実際の多様な地下構造に対応可能な比抵抗構造を有する学習データを生成する情報処理装置を提供する。
【解決手段】本発明によれば、複数の層によって構成される地下構造を設定する層設定部、複数の層を1層または連続する2以上の層によって構成される1つまたは複数のグループに区分する区分部、1つまたは複数のグループ毎に比抵抗を乱数により決定し、各グループに含まれる各層に当該グループに対して決定された比抵抗を設定する比抵抗設定部、比抵抗が設定された複数の層のうちの1層の比抵抗と1層に隣接する層の比抵抗とを用いた平滑化処理を各層毎に行い各層に平滑化比抵抗を設定する平滑化部、および、比抵抗または平滑化比抵抗が設定された複数の層に基づき地下構造が規定された学習用比抵抗構造データを生成する学習用比抵抗構造データ生成部、を備える情報処理装置が提供される。
【選択図】図2
特許請求の範囲【請求項1】
情報処理装置であって、
層設定部と、区分部と、比抵抗設定部と、平滑化部と、学習用比抵抗構造データ生成部と、を備え、
前記層設定部は、複数の層によって構成される地下構造を設定し、
前記区分部は、前記複数の層を、1層または連続する2以上の層によって構成される1つまたは複数のグループに区分し、
前記比抵抗設定部は、前記1つまたは複数のグループ毎に比抵抗を乱数により決定し、各グループに含まれる各層に当該グループに対して決定された比抵抗を設定し、
前記平滑化部は、前記比抵抗が設定された複数の層のうちの1層の比抵抗と、前記1層に隣接する層の比抵抗と、を用いた平滑化処理を各層毎に行い、前記各層に平滑化比抵抗を設定し、
前記学習用比抵抗構造データ生成部は、前記比抵抗または前記平滑化比抵抗が設定された前記複数の層に基づき地下構造が規定された学習用比抵抗構造データを生成する、情報処理装置。
続きを表示(約 1,400 文字)【請求項2】
請求項1に記載の情報処理装置であって、
合成部をさらに備え、
前記合成部は、前記比抵抗と、前記比抵抗が設定された層に対応する層の平滑化比抵抗と、の合成処理を各層毎に行い、前記各層に合成比抵抗を設定し、
前記学習用比抵抗構造データ生成部は、前記合成比抵抗が設定された前記複数の層に基づき地下構造が規定された学習用比抵抗構造データを生成する、情報処理装置。
【請求項3】
請求項1または請求項2に記載の情報処理装置であって、
前記複数の層の各層の深度は、二次関数により決定される、情報処理装置。
【請求項4】
請求項3に記載の情報処理装置であって、
学習データ生成部、機械学習部、入力処理部、および出力制御部をさらに備え、
前記学習データ生成部は、前記学習用比抵抗構造データと、前記学習用比抵抗構造データに基づいて算出された人工応答データと、を対応付けて学習データを生成し、
前記機械学習部は、前記学習データを用いて機械学習した機械学習モデルを有し、
前記入力処理部は、前記機械学習モデルに、測定地の地下に対する物理探査測定により取得された測定応答データを入力し、
前記出力制御部は、前記機械学習モデルから出力される、前記測定応答データが取得された前記測定地の地下の推定比抵抗構造データを出力する、情報処理装置。
【請求項5】
請求項4に記載の情報処理装置であって、
前記人工応答データと前記測定応答データは、電圧データまたは磁場データである、情報処理装置。
【請求項6】
請求項4に記載の情報処理装置であって、
前記物理探査測定は、電磁探査測定である、情報処理装置。
【請求項7】
請求項4に記載の情報処理装置であって、
前記機械学習部は、ノイズ付き前記人工応答データを用いて機械学習した前記機械学習モデルを有する、情報処理装置。
【請求項8】
請求項7に記載の情報処理装置であって、
前記ノイズは、経験的に算出されたノイズ、または前記測定応答データの測定時に存在した環境ノイズに基づいて算出されたノイズである、情報処理装置。
【請求項9】
探査装置であって、
請求項1に記載の情報処理装置を備える、探査装置。
【請求項10】
プログラムであって、
コンピュータに、層設定工程と、区分工程と、比抵抗設定工程と、平滑化工程と、学習用比抵抗構造データ生成工程とを実行させ、
前記層設定工程では、複数の層によって構成される地下構造を設定し、
前記区分工程では、前記複数の層を、1層または連続する2以上の層によって構成される1または複数のグループに区分し、
前記比抵抗設定工程では、前記1つまたは複数のグループ毎に比抵抗を乱数により生成し、各グループに含まれる各層に当該グループに対して生成された比抵抗を設定し、
前記平滑化工程では、前記比抵抗が設定された複数の層のうちの1層の比抵抗と、前記1層と隣接する層の比抵抗と、を用いた平滑化処理を各層毎に行い、前記各層に平滑化比抵抗を設定し、
前記学習用比抵抗構造データ生成工程では、前記比抵抗または前記平滑化比抵抗が設定された前記複数の層に基づき地下構造が規定された学習用比抵抗構造データを生成する、
プログラム。

発明の詳細な説明【技術分野】
【0001】
本発明は、情報処理装置、探査装置およびプログラムに関する。
続きを表示(約 3,100 文字)【背景技術】
【0002】
電磁探査の最適化(逆解析)手法として、機械学習を用いた手法が知られている。学習データとなる探査対象の比抵抗構造には、水平多層構造が用いられることが多い。
【0003】
非特許文献1には、学習データとして層数が比較的少ない水平多層構造が用いられる逆解析手法が開示されている。
【先行技術文献】
【非特許文献】
【0004】
Xin Wu、他5名、"A Deep Learning Estimation of the Earth Resistivity Model for the Airborne Transient Electromagnetic Observation",[online],令和4年2月25日、アメリカ地球物理学連合、[令和5年4月12日検索],インターネット<URL:https://doi.org/10.1029/2021JB023185>
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【0005】
しかしながら、このような単純な水平多層構造は、実際の地下構造とは大きく異なるため、解析の過程で局所解に陥るおそれがあった。
【0006】
本発明はこのような事情に鑑みてなされたものであり、実際の多様な地下構造に対応可能な比抵抗構造を有する学習データを生成する情報処理装置を提供するものである。
【課題を解決するための手段】
【0007】
本発明によれば、以下の発明が提供される。
[1]情報処理装置であって、層設定部と、区分部と、比抵抗設定部と、平滑化部と、学習用比抵抗構造データ生成部と、を備え、前記層設定部は、複数の層によって構成される地下構造を設定し、前記区分部は、前記複数の層を、1層または連続する2以上の層によって構成される1つまたは複数のグループに区分し、前記比抵抗設定部は、前記1つまたは複数のグループ毎に比抵抗を乱数により決定し、各グループに含まれる各層に当該グループに対して決定された比抵抗を設定し、前記平滑化部は、前記比抵抗が設定された複数の層のうちの1層の比抵抗と、前記1層に隣接する層の比抵抗と、を用いた平滑化処理を各層毎に行い、前記各層に平滑化比抵抗を設定し、前記学習用比抵抗構造データ生成部は、前記比抵抗または前記平滑化比抵抗が設定された前記複数の層に基づき地下構造が規定された学習用比抵抗構造データを生成する、情報処理装置。
[2][1]に記載の情報処理装置であって、合成部をさらに備え、前記合成部は、前記比抵抗と、前記比抵抗が設定された層に対応する層の平滑化比抵抗と、の合成処理を各層毎に行い、前記各層に合成比抵抗を設定し、前記学習用比抵抗構造データ生成部は、前記合成比抵抗が設定された前記複数の層に基づき地下構造が規定された学習用比抵抗構造データを生成する、情報処理装置。
[3][1]または[2]に記載の情報処理装置であって、前記複数の層の各層の深度は、二次関数により決定される、情報処理装置。
[4][1]~[3]のいずれか1つに記載の情報処理装置であって、学習データ生成部、機械学習部、入力処理部、および出力制御部をさらに備え、前記学習データ生成部は、前記学習用比抵抗構造データと、前記学習用比抵抗構造データに基づいて算出された人工応答データと、を対応付けて学習データを生成し、前記機械学習部は、前記学習データを用いて機械学習した機械学習モデルを有し、前記入力処理部は、前記機械学習モデルに、測定地の地下に対する物理探査測定により取得された測定応答データを入力し、前記出力制御部は、前記機械学習モデルから出力される、前記測定応答データが取得された前記測定地の地下の推定比抵抗構造データを出力する、情報処理装置。
[5][4]に記載の情報処理装置であって、前記人工応答データと前記測定応答データは、電圧データまたは磁場データである、情報処理装置。
[6][4]または[5]に記載の情報処理装置であって、前記物理探査測定は、電磁探査測定である、情報処理装置。
[7][4]~[6]のいずれか1つに記載の情報処理装置であって、前記機械学習部は、ノイズ付き前記人工応答データを用いて機械学習した前記機械学習モデルを有する、情報処理装置。
[8][7]に記載の情報処理装置であって、前記ノイズは、経験的に算出されたノイズ、または前記測定応答データの測定時に存在した環境ノイズに基づいて算出されたノイズである、情報処理装置。
[9]探査装置であって、[1]~[8]のいずれか1つに記載の情報処理装置を備える、探査装置。
[10]プログラムであって、コンピュータに、層設定工程と、区分工程と、比抵抗設定工程と、平滑化工程と、学習用比抵抗構造データ生成工程とを実行させ、前記層設定工程では、複数の層によって構成される地下構造を設定し、前記区分工程では、前記複数の層を、1層または連続する2以上の層によって構成される1または複数のグループに区分し、前記比抵抗設定工程では、前記1つまたは複数のグループ毎に比抵抗を乱数により生成し、各グループに含まれる各層に当該グループに対して生成された比抵抗を設定し、前記平滑化工程では、前記比抵抗が設定された複数の層のうちの1層の比抵抗と、前記1層と隣接する層の比抵抗と、を用いた平滑化処理を各層毎に行い、前記各層に平滑化比抵抗を設定し、前記学習用比抵抗構造データ生成工程では、前記比抵抗または前記平滑化比抵抗が設定された前記複数の層に基づき地下構造が規定された学習用比抵抗構造データを生成する、プログラム。
【0008】
本発明によれば、初期設定の比抵抗と平滑化比抵抗との両者を用いた学習データを生成することで、多様な地下構造に対応可能となっている。
【図面の簡単な説明】
【0009】
本発明の第1実施形態に係る情報処理装置1のハードウェア構成を示すブロック図である。
本発明の第1実施形態に係る情報処理装置1の機能構成を示すブロック図である。
本発明の第1実施形態に係る情報処理装置1の区分部20bが区分する地下構造の区分イメージである。
本発明の第1実施形態に係る情報処理装置1が生成する目的変数として生成される学習用比抵抗構造データの例である。
本発明の第1実施形態に係る情報処理装置1を用いたデータ処理のフロー図である。
本発明の第1実施形態に係る情報処理装置1を用いたデータ処理の学習データ生成工程S2のフロー図である。
本発明の第2実施形態に係る探査装置3のハードウェア構成を示すブロック図である。
本発明のデータ処理で使用された学習用比抵抗構造データの例である。
従来方法のデータ処理で使用された学習用比抵抗構造データの例である。
本発明のデータ処理方法に係る学習曲線および検証誤差を示す。
従来のデータ処理方法に係る学習曲線および検証誤差を示す。
【発明を実施するための形態】
【0010】
以下、本発明の実施形態について説明する。以下に示す実施形態中で示した各種特徴事項は、互いに組み合わせ可能である。また、各特徴について独立して発明が成立する。
(【0011】以降は省略されています)

この特許をJ-PlatPatで参照する
Flag Counter

関連特許

個人
水準器
9日前
株式会社大真空
センサ
2日前
個人
シート形状体温計
5日前
株式会社チノー
液浸プローブ
4日前
日本電波工業株式会社
風速測定装置
2日前
キヤノン電子株式会社
サーボ加速度計
16日前
株式会社東芝
センサ
16日前
トヨタ自動車株式会社
解析装置
2日前
株式会社東芝
センサ
9日前
キヤノン電子株式会社
サーボ加速度計
16日前
大和製衡株式会社
搬送装置
16日前
株式会社島津製作所
液体注入装置
16日前
株式会社豊田自動織機
車両
4日前
個人
コンベックスルール用の計測補助用具
2日前
ミツミ電機株式会社
入力装置
16日前
株式会社ピーエムティー
検査ゲージ
2日前
能美防災株式会社
構造物劣化診断システム
16日前
トヨタ自動車株式会社
電池検査装置
11日前
株式会社ジェイテクト
センサ装置
9日前
住友理工株式会社
センサユニット
10日前
学校法人近畿大学
検査装置及び検査方法
16日前
澁谷工業株式会社
清浄度監視装置
9日前
株式会社レゾナック
異物検出装置
16日前
キヤノン株式会社
検出装置
9日前
株式会社デンソー
レーダ装置
16日前
ホシデン株式会社
センサ装置
4日前
株式会社イシダ
物品移載装置
11日前
株式会社デンソー
レーダ装置
16日前
個人
走査型プローブ顕微鏡システム及びその製造法
3日前
株式会社デンソー
異常検出装置
9日前
株式会社ケット科学研究所
穀類水分計
16日前
TDK株式会社
磁気センサ装置
2日前
TDK株式会社
磁気センサ装置
2日前
株式会社デンソー
負荷駆動装置
11日前
日置電機株式会社
電流センサおよび測定装置
16日前
株式会社日本マイクロニクス
プローブ
16日前
続きを見る