TOP特許意匠商標
特許ウォッチ Twitter
公開番号2024161847
公報種別公開特許公報(A)
公開日2024-11-20
出願番号2023076947
出願日2023-05-08
発明の名称蛍光X線分析用粉末試料の調製装置及び調製用治具
出願人株式会社島津製作所
代理人弁理士法人京都国際特許事務所
主分類G01N 23/2202 20180101AFI20241113BHJP(測定;試験)
要約【課題】簡単に蛍光X線分析用粉末状試料を調製できるようにする。
【解決手段】本発明に係る蛍光X線分析用粉末試料の調製装置100は、上部開口部と、該上部開口部から底部までの部分であって内側の横断面の形状が上下に亘って同じである粉末調整部11とを有し、前記上部開口部の内側の横断面の形状が前記粉末調整部の内側の横断面の形状と同じかそれよりも大きい、筒状の試料容器10と、前記粉末調整部の内側の横断面よりも僅かに小さい形状の下底面211と、該下底面よりも面積の小さい上底面212とを有する錐台様形状の押圧部21と、該押圧部の上底面に設けられた把持部22とを有する押圧部材(調製用治具)20とを備えるものである。
【選択図】図1
特許請求の範囲【請求項1】
上部開口部と、該上部開口部から底部までの部分であって内側の横断面の形状が上下に亘って同じである粉末調整部とを有し、前記上部開口部の横断面の形状が前記粉末調整部の内側の横断面の形状と同じかそれよりも大きい、筒状の試料容器と、
前記粉末調整部の内側の横断面よりも僅かに小さい形状の下底面と、該下底面よりも小さい上底面とを有する錐台様形状の押圧部と、該押圧部の上底面に設けられた把持部とを有する押圧部材と、
を備える、蛍光X線分析用粉末試料の調製装置。
続きを表示(約 470 文字)【請求項2】
前記試料容器の外周に把持用段差が設けられている、請求項1に記載の蛍光X線分析用粉末試料の調製装置。
【請求項3】
前記試料容器の底部がすり鉢状である、請求項1に記載の蛍光X線分析用粉末試料の調製装置。
【請求項4】
上部開口部と、該上部開口部から底部までの部分であって内側の横断面の形状が上下に亘って同じである粉末調整部とを有し、前記上部開口部の内側の横断面の形状が前記粉末調整部の内側の横断面の形状と同じかそれよりも大きい、筒状の試料容器に用いられる蛍光X線分析用粉末試料の調製用治具であって、
前記試料容器の前記粉末調整部の内側の横断面よりも僅かに小さい形状の下底面と、該下底面よりも小さい上底面とを有する錐台様形状の押圧部と、該押圧部の上底面に設けられた把持部とを有する蛍光X線分析用粉末試料の調製用治具。
【請求項5】
請求項4に記載の蛍光X線分析用粉末試料の調製用治具において、
前記押圧部の下底面が平坦面である、蛍光X線分析用粉末試料の調製用治具。

発明の詳細な説明【技術分野】
【0001】
本発明は、蛍光X線分析用粉末試料の調製装置及び調製用治具に関する。
続きを表示(約 1,800 文字)【背景技術】
【0002】
蛍光X線分析装置は、試料にX線を照射し、それによって試料から放出される蛍光X線を測定することにより前記試料に含有される元素の分析を行う装置である。蛍光X線のエネルギーは元素ごとに固有であるため、試料から放出される蛍光X線のエネルギースペクトルから試料の構成元素を同定することができ、エネルギースペクトルの強度から試料中の各元素の濃度を測定することができる。
【0003】
蛍光X線分析装置では、固体、液体、粒状、粉末状等、様々な性状の試料の元素分析が可能であるが、試料の形状、試料台への試料の載せ方、試料容器内の収容状態等によって分析結果が異なる場合がある。特に粉末試料は、試料容器への入れ方によって密度が異なり易く、また、試料容器内において密度が不均一になったり、隙間ができたりする。分析する毎に試料容器内の収容状態が異なると、分析結果の再現性が低下する。また、試料容器内における密度が不均一であったり隙間があったりすると、正しい分析結果を得ることができない。そこで、粉末試料を常に同じ状態で試料容器に収容できるようにした、蛍光X線分析用粉末試料を調製するための装置が提供されている(例えば特許文献1)。
【先行技術文献】
【特許文献】
【0004】
実開平07-041447号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【0005】
特許文献1に記載されている装置は、粉末試料に振動を付与しつつ試料容器内全体に均等に粉末試料を供給する供給機構と、試料容器内を真空引きする真空ポンプを備えている。この装置では、ろ紙の上に配置された筒状の試料容器内に粉末試料を均等に入れた後、試料容器に蓋をし、ろ紙の下側から前記試料容器内を真空ポンプで真空引きする。これによって、試料容器内に均一な密度で隙間なく粉末試料を充填する。
【0006】
しかしながら、上記装置は、粉末試料の供給機構、真空ポンプ、該真空ポンプと試料容器内とを接続する配管、真空引きを行っている間、試料容器が動いたり蓋が開かないようにしたりするための保持機構等を備えた大掛かりな装置であるため、蛍光X線分析用粉末試料を調製する作業はもちろん、その準備作業にも時間や手間がかかってしまう。
【0007】
本発明が解決しようとする課題は、簡単に蛍光X線分析用粉末状試料を調製できるようにすることである。
【課題を解決するための手段】
【0008】
上記課題を解決するために成された本発明に係る、蛍光X線分析用粉末試料の調製装置は、
上部開口部と、該上部開口部から底部までの部分であって内側の横断面の形状が上下に亘って同じである粉末調整部とを有し、前記上部開口部の内側の横断面の形状が前記粉末調整部の内側の横断面の形状と同じかそれよりも大きい、筒状の試料容器と、
前記試料容器の前記粉末調整部の内側の横断面よりも僅かに小さい形状の下底面と、該下底面よりも小さい上底面とを有する錐台様形状の押圧部と、該押圧部の上底面に設けられた把持部とを有する押圧部材と、
を備えるものである。
【0009】
また、上記課題を解決するために成された本発明に係る、蛍光X線分析用粉末試料の調製用治具は、上部開口部と、該上部開口部から底部までの部分であって内側の横断面の形状が上下に亘って同じである粉末調整部とを有し、前記上部開口部の内側の横断面の形状が前記粉末調整部の内側の横断面の形状と同じかそれよりも大きい、筒状の試料容器に用いられるものであって、
前記試料容器の前記粉末調整部の内側の横断面よりも僅かに小さい形状の下底面と、該下底面よりも小さい上底面とを有する錐台様形状の押圧部と、該押圧部の上底面に設けられた把持部とを有するものである。
【発明の効果】
【0010】
本発明に係る蛍光X線分析用粉末試料の調製装置又は調製用治具を用いることにより、簡単な作業で、試料容器内に粉末試料が均一な密度で隙間なく充填された蛍光X線分析用粉末試料を作製することができる。
【図面の簡単な説明】
(【0011】以降は省略されています)

この特許をJ-PlatPatで参照する
Flag Counter

関連特許

株式会社島津製作所
質量分析装置
4日前
株式会社島津製作所
液体クロマトグラフ用検出器
1日前
株式会社島津製作所
X線撮影装置およびX線撮影システム
12日前
国立大学法人大阪大学
オルガノイド組成物
11日前
株式会社島津製作所
データ解析システム及びコンピュータプログラム
4日前
株式会社島津製作所
材料試験機、及び材料試験機の制御装置
4日前
株式会社島津製作所
微生物分析用試料の調製方法、微生物の分析方法、微生物の識別方法および微生物分析用キット
4日前
個人
集束超音波の測定機
25日前
個人
センサ制御回路
25日前
甲神電機株式会社
電流センサ
18日前
株式会社大真空
センサ
29日前
甲神電機株式会社
電流検出器
18日前
株式会社大真空
センサ
13日前
甲神電機株式会社
漏電検出器
18日前
株式会社高橋型精
採尿具
19日前
東レ株式会社
液体展開用シート
5日前
ユニパルス株式会社
ロードセル
12日前
株式会社トプコン
測量装置
18日前
ダイトロン株式会社
外観検査装置
25日前
アズビル株式会社
漏液センサ
29日前
アズビル株式会社
熱式流量計
19日前
株式会社諸岡
自動運転作業機
29日前
学校法人東京電機大学
干渉計
26日前
株式会社国際電気
治具セット
1か月前
株式会社トプコン
植物センサ
1日前
キヤノン電子株式会社
サーボ加速度計
5日前
キヤノン電子株式会社
サーボ加速度計
5日前
株式会社クボタ
作業車両
4日前
キヤノン電子株式会社
サーボ加速度計
5日前
シャープ株式会社
収納装置
19日前
株式会社ミトミ技研
圧力測定装置
25日前
日本特殊陶業株式会社
ガスセンサ
19日前
豊田合成株式会社
表示装置
18日前
TDK株式会社
磁気センサ
25日前
個人
電気計器用結線器
29日前
アズビル株式会社
真空計測システム
29日前
続きを見る