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公開番号
2024154710
公報種別
公開特許公報(A)
公開日
2024-10-31
出願番号
2023068688
出願日
2023-04-19
発明の名称
熱分解窒化ホウ素含有基板、および半導体デバイスの絶縁基板
出願人
信越化学工業株式会社
代理人
個人
主分類
C04B
35/5835 20060101AFI20241024BHJP(セメント;コンクリート;人造石;セラミックス;耐火物)
要約
【課題】絶縁層の薄膜化および絶縁性に優れたパワーモジュール用熱分解窒化ホウ素含有基板を提供する。
【解決手段】熱分解窒化ホウ素含有基板は、半導体デバイスの放熱材料として使用される絶縁基板であって、主成分が熱分解窒化ホウ素であることを特徴とする。熱分解窒化ホウ素含有基板の内部には、熱分解炭素層が1層以上、10層以下の範囲で含まれることが好ましい。また、熱分解炭素層は炭素を主成分としたものであって、ボロンを重量比率0.1%以上45%以下の範囲の濃度で含むことが好ましい。熱分解炭素層の各層の厚みは0.1μm以上、100μm以下であることが好ましい。
【選択図】図1
特許請求の範囲
【請求項1】
半導体デバイスの放熱材料として使用される絶縁基板であって、主成分が熱分解窒化ホウ素であることを特徴とする熱分解窒化ホウ素含有基板。
続きを表示(約 630 文字)
【請求項2】
前記熱分解窒化ホウ素含有基板の内部に、熱分解炭素層を1層以上、10層以下の範囲で含むこと特徴とする請求項1に記載の熱分解窒化ホウ素含有基板。
【請求項3】
前記熱分解炭素層は炭素を主成分としたものであって、ボロンを重量比率0.1%以上45%以下の範囲の濃度で含むこと特徴とする請求項2に記載の熱分解窒化ホウ素含有基板。
【請求項4】
前記熱分解炭素層の各層の厚みが0.1μm以上、100μm以下であること特徴とする請求項3に記載の熱分解窒化ホウ素含有基板。
【請求項5】
前記熱分解窒化ホウ素含有基板の厚みが0.01mm以上、4mm以下であること特徴とする請求項1から4の何れか1項に記載の熱分解窒化ホウ素含有基板。
【請求項6】
前記熱分解窒化ホウ素含有基板の表面の算術平均粗さRaが10μm以下であることを特徴とする請求項1から4の何れか1項に記載の熱分解窒化ホウ素含有基板。
【請求項7】
前記半導体デバイスが、SiC、GaN、またはGa
2
O
3
のパワーデバイスであることを特徴とする請求項1から4の何れか1項に記載の熱分解窒化ホウ素含有基板。
【請求項8】
請求項1からら4の何れか1項に記載の前記熱分解窒化ホウ素含有基板が絶縁性の樹脂に埋め込まれた構造であることを特徴とする半導体デバイスの絶縁基板。
発明の詳細な説明
【技術分野】
【0001】
本発明は、半導体デバイスの放熱材料として使用される熱分解窒化ホウ素含有基板に関する。
続きを表示(約 1,600 文字)
【背景技術】
【0002】
パワー半導体素子のスイッチングによる電力変換装置は、変換効率が高いため、民生用、車載用、鉄道用、変電設備等に幅広く利用されている。その中でも、SiC、GaN、またはGa
2
O
3
から作製されるパワー半導体素子は通電により発熱するため、高い放熱性が求められる。通常、放熱には、フィンを有する金属製の放熱構造を用い、電位の安定化や、感電防止を目的としてグラウンド(GND)に接地する。このため、パワー半導体素子と放熱構造との間に配置される絶縁材は、優れた熱伝導性が必要とされる。一般的な絶縁層としては、例えば、AlN、Al
2
O
3
、Si
3
N
4
、SiC等からなるセラミックス基板や、樹脂製の材料が用いられている。
【0003】
しかしながら、近年電気自動車の普及に伴い、車両搭載用のパワーモジュールは800V以上の高電圧での使用も増えている。変換する電圧が高い場合、絶縁性を向上するため絶縁材を厚く構成する必要が生じ、放熱性が悪化してしまう。
【0004】
放熱性を向上させる手法としては、例えば特許文献1に示されるような、絶縁層中に中間導体を設けて、電圧分担させる方法や、特許文献2に示されるような高熱伝導率のSi
3
N
4
粒子から構成される絶縁基板を使用する手法が知られている。
【0005】
絶縁基板として用いられ得る他の物質としては、六方晶窒化ホウ素(h-BN)が挙げられる。六方晶窒化ホウ素は、グラファイトのような積層構造になっており、放熱性(熱伝導性)と絶縁性(導電性)に異方性がある。このため、六方晶窒化ホウ素を絶縁基板に使用する際は、特許文献3に示されるように、粒子状の焼結体を樹脂等により凝固させて異方性を抑制している。
【先行技術文献】
【特許文献】
【0006】
特許第6200871号
特許第5773330号
国際公開第2022/149553号
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【0007】
以上で説明したように、パワー半導体素子の放熱材料として様々な絶縁基板が提案されているが、近年は高電圧の使用用途が増えてきており、より高い絶縁性と放熱性を有する絶縁基板が求められている。
【0008】
このような状況に鑑み、本発明が解決しようとする技術的課題、すなわち、本発明の目的は、絶縁層の薄膜化および絶縁性に優れたパワーモジュール用熱分解窒化ホウ素含有基板を提供することである。
【課題を解決するための手段】
【0009】
上記の目的を達成するために、本発明者らが鋭意研究を重ねた結果、本発明は、以下の手段を提案している。すなわち、熱CVD反応により、六方晶窒化ホウ素を積層させた熱分解窒化ホウ素(PBN)を含有する基板を作製する。熱分解窒化ホウ素含有基板は、基板の高さ方向(c方向)の絶縁性が、平面方向(ab方向)と比較して高いが、熱伝導率は低いという異方性を有している。そこで本発明では、基板の高さ方向(c方向)の絶縁性が高いという異方性を生かしつつ、基板自体を薄く加工することで基板の高さ方向(c方向)の熱伝導率が低いという欠点を改善した。さらに、PBNの層の間に熱分解炭素層(PG)の層を導入することで、さらなる絶縁性の向上が達成された。具体的には下記の特徴を有する。
【0010】
本発明の一実施形態に係る熱分解窒化ホウ素含有基板は、半導体デバイスの放熱材料として使用される絶縁基板であって、この絶縁基板の主成分が熱分解窒化ホウ素であることを特徴とする。
(【0011】以降は省略されています)
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