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公開番号2024118346
公報種別公開特許公報(A)
公開日2024-08-30
出願番号2023024711
出願日2023-02-20
発明の名称測定方法、測定装置、及び製造方法
出願人JFEスチール株式会社
代理人個人,個人,個人,個人
主分類G01B 15/00 20060101AFI20240823BHJP(測定;試験)
要約【課題】帯状体の幅方向における端部の位置をより精度良く測定することが可能な測定方法を提供する。
【解決手段】帯状体Sの幅方向D2における端部の位置を測定する測定方法は、帯状体Sの端部に向けて電磁波を照射するステップと、帯状体Sの端部で反射した電磁波を検出するステップと、電磁波を検出するステップにおいて得られた検出信号に対する複数の閾値に基づいて、検出信号に含まれる端部での反射信号を判別するステップと、反射信号が検出された時間に基づいて端部の位置を算出するステップと、を含む。
【選択図】図1
特許請求の範囲【請求項１】
帯状体の幅方向における端部の位置を測定する測定方法であって、
前記帯状体の前記端部に向けて電磁波を照射するステップと、
前記帯状体の前記端部で反射した前記電磁波を検出するステップと、
前記電磁波を検出するステップにおいて得られた検出信号に対する複数の閾値に基づいて、前記検出信号に含まれる前記端部での反射信号を判別するステップと、
前記反射信号が検出された時間に基づいて前記端部の位置を算出するステップと、
を含む、
測定方法。
続きを表示（約 840 文字）【請求項２】
請求項１に記載の測定方法であって、
前記複数の閾値は、検出強度に対する第１閾値と、検出時間に対する第２閾値と、を含む、
測定方法。
【請求項３】
請求項２に記載の測定方法であって、
前記反射信号を判別するステップは、前記検出信号における前記検出強度が前記第１閾値よりも高く、かつ前記検出時間が前記第２閾値よりも長い信号波形のうち最初のものを前記反射信号として判別することを含む、
測定方法。
【請求項４】
帯状体の幅方向における端部の位置を測定する測定装置であって、
前記帯状体の前記端部に向けて電磁波を照射する照射部と、
前記帯状体の前記端部で反射した前記電磁波を検出する検出部と、
前記検出部から出力される検出信号に対する複数の閾値に基づいて、前記検出信号に含まれる前記端部での反射信号を判別し、前記反射信号が検出された時間に基づいて前記端部の位置を算出する制御部と、
を備える、
測定装置。
【請求項５】
請求項４に記載の測定装置であって、
前記複数の閾値は、検出強度に対する第１閾値と、検出時間に対する第２閾値と、を含む、
測定装置。
【請求項６】
請求項５に記載の測定装置であって、
前記制御部は、前記検出信号における前記検出強度が前記第１閾値よりも高く、かつ前記検出時間が前記第２閾値よりも長い信号波形のうち最初のものを前記反射信号として判別する、
測定装置。
【請求項７】
請求項１乃至３に記載の測定方法及び請求項４乃至６に記載の測定装置のいずれかを用いながら前記帯状体を製造する製造方法であって、
測定された前記帯状体の幅方向における前記端部の位置に基づき、プロセスラインにおける前記帯状体の蛇行を制御するステップを含む、
製造方法。

発明の詳細な説明【技術分野】
【０００１】
本開示は、測定方法、測定装置、及び製造方法に関する。例えば、本開示は、プロセスラインにおける鋼板などの帯状体の蛇行を制御するために帯状体のエッジ位置を測定する測定方法及び測定装置に関する。例えば、本開示は、測定方法及び測定装置のいずれかを用いながら帯状体を製造する製造方法に関する。
続きを表示（約 1,500 文字）【背景技術】
【０００２】
従来、生産ライン及び加工ラインなどのプロセスラインにおいて、鋼板などの帯状体の幅方向における端部の位置を測定するための技術が知られている。例えば、特許文献１には、ノイズ及び雰囲気の影響を受けにくく、かつ、設置が容易で、帯状体との機械的な干渉が少ない帯状体の幅方向端部位置測定方法が開示されている。
【０００３】
特許文献１に記載の技術のように、従来のＣＰＣ（Center Position Control）装置におけるマイクロ波方式での鋼板のエッジ位置検出方法が一般的に知られている。当該方法では、鋼板のエッジに向けてマイクロ波が照射され、受信アンテナに戻るマイクロ波のうち反射強度が最も高いもののピーク時間が鋼板のエッジ位置として検出されていた。従来のＣＰＣ装置は、検出されたエッジ位置に基づいて鋼板の中心位置を算出し、算出された中心位置をプロセスラインの中心に合わせるように蛇行制御を実行していた。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００４】
再公表特許ＷＯ２００６／０４８９７９号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００５】
しかしながら、従来のエッジ位置検出方法では、鋼板以外で反射したマイクロ波の強度が最大となった場合、その最大となったピーク時間が鋼板のエッジ位置として誤検出されてしまうという問題があった。
【０００６】
本開示は、上記課題に鑑みてなされたものであり、帯状体の幅方向における端部の位置をより精度良く測定することが可能な測定方法、測定装置、及び製造方法を提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【０００７】
本開示は、
（１）
帯状体の幅方向における端部の位置を測定する測定方法であって、
前記帯状体の前記端部に向けて電磁波を照射するステップと、
前記帯状体の前記端部で反射した前記電磁波を検出するステップと、
前記電磁波を検出するステップにおいて得られた検出信号に対する複数の閾値に基づいて、前記検出信号に含まれる前記端部での反射信号を判別するステップと、
前記反射信号が検出された時間に基づいて前記端部の位置を算出するステップと、
を含む、
測定方法、
である。
【０００８】
（２）
上記（１）に記載の測定方法では、
前記複数の閾値は、検出強度に対する第１閾値と、検出時間に対する第２閾値と、を含んでもよい。
【０００９】
（３）
上記（２）に記載の測定方法では、
前記反射信号を判別するステップは、前記検出信号における前記検出強度が前記第１閾値よりも高く、かつ前記検出時間が前記第２閾値よりも長い前記信号波形のうち最初のものを前記反射信号として判別することを含んでもよい。
【００１０】
本開示は、
（４）
帯状体の幅方向における端部の位置を測定する測定装置であって、
前記帯状体の前記端部に向けて電磁波を照射する照射部と、
前記帯状体の前記端部で反射した前記電磁波を検出する検出部と、
前記検出部から出力される検出信号に対する複数の閾値に基づいて、前記検出信号に含まれる前記端部での反射信号を判別し、前記反射信号が検出された時間に基づいて前記端部の位置を算出する制御部と、
を備える、
測定装置、
である。
（【００１１】以降は省略されています）

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