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公開番号2025135455
公報種別公開特許公報(A)
公開日2025-09-18
出願番号2024033316
出願日2024-03-05
発明の名称放射線検出素子及び放射線検出器
出願人三菱ケミカル株式会社
代理人
主分類G01T 1/24 20060101AFI20250910BHJP(測定;試験)
要約【課題】波高スペクトル測定におけるノイズを低減した放射線検出素子及び放射線検出器
を提供することを目的とする。
【解決手段】半導体を含む基板と電極に加えて、特定の被覆層を備える放射線検出素子を
用いることで解決する。
【選択図】図1
特許請求の範囲【請求項１】
放射線検出素子であって、
基板、第一電極及び第二電極を備え、
前記基板は、半導体を含み、
さらに、前記第一電極と前記基板との間、または前記第第二電極と前記基板との間の少
なくとも一方に被覆層を備え、
前記被覆層がイオン性官能基を有する化合物を含有する、放射線検出素子。
続きを表示（約 560 文字）【請求項２】
前記被覆層の厚さが、０．０１ｎｍ以上３ｎｍ以下である、請求項１に記載の放射線検
出素子。
【請求項３】
前記半導体が、下記式（１）で表される組成を有する化合物を含む、請求項１又は２に
記載の放射線検出素子。
ＡＢ
ｖ
Ｘ
ｗ
・・・（１）
（上記式（１）中、Ａ、Ｂ、Ｘは化合物を構成する元素を指し、Ａは一価のカチオンを含
み、Ｂは第４周期から６周期の金属元素から選択される１種以上を含み、Ｃはアニオンを
含み、ｖ及びｗはそれぞれＡのモル比を１．０とした時のＢ及びＣのモル比を示し、ｖ及
びｗはそれぞれ独立に０．５≦ｖ≦１．５、２．５≦ｗ≦３．５を満たす。）
【請求項４】
前記基板の厚さが、０．２～５００ｍｍである、請求項１～３のいずれか一項に記載の
放射線検出素子。
【請求項５】
前記イオン性官能基が、少なくとも一つ４級アンモニウムイオンを有する、請求項１～
４のいずれか一項に記載の放射線検出素子。
【請求項６】
前記イオン性官能基が、少なくとも一つ双性イオンを有する、請求項１～＠のいずれか
に記載の放射線検出素子。

発明の詳細な説明【技術分野】
【０００１】
本発明は、特定の化合物を含む放射線検出素子に関する。
続きを表示（約 1,800 文字）【背景技術】
【０００２】
近年、医療における画像診断では高精細化が要求されており、一例として、Ｘ線を直接
電荷に変換して、パルス信号を算出するフォトンカウンティングＣＴが注目されている。
フォトンカウンティングＣＴの大きな特徴として、入射した放射線のエネルギー情報を
得やすく、複数のエネルギー帯にてデータを分離するエネルギー弁別式のＣＴにおいて優
位であることが挙げられ、情報量の多い画像診断の実現が期待される。
エネルギー弁別式のＣＴにおけるエネルギー分解能は、波高スペクトルを取得した際の
、光電吸収ピークの半値幅から決定されるため、優れたエネルギー分解能を得るためには
、明瞭なピークを取得することが重要である。
しかし、例えば放射線検出素子が欠陥を含む場合、この欠陥が原因となってリーク電流
が発生し、ピークが不明瞭となるという課題がある。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００３】
特表２０１８－５０３０６０
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００４】
本発明は、リーク電流を低減した放射線検出素子を提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【０００５】
本発明者らは、上述の課題を解決するために鋭意検討を行った。この結果、半導体基板
と電極との間に特定の被覆層を備える放射線検出素子を用いることで上述の課題を解決で
きることを見出し、本発明を完成させるに至った。
【０００６】
すなわち、本発明は以下を要旨とする。
【０００７】
［１］放射線検出素子であって、基板、第一電極及び第二電極を備え、前記基板は、半
導体を含み、さらに、前記第一電極と前記基板との間、または前記第第二電極と前記基板
との間の少なくとも一方に被覆層を備え、前記被覆層がイオン性官能基を有する化合物を
含有する、放射線検出素子。
［２］前記被覆層の厚さが、０．０１ｎｍ以上３ｎｍ以下である、［１］に記載の放射
線検出素子。
［３］前記半導体が、下記式（１）で表される組成を有する化合物を含む、［１］又は
［２］に記載の放射線検出素子。
ＡＢ
ｖ
Ｘ
ｗ
・・・（１）
（上記式（１）中、Ａ、Ｂ、Ｘは化合物を構成する元素を指し、Ａは一価のカチオンを含
み、Ｂは第４周期から６周期の金属元素から選択される１種以上を含み、Ｃはアニオンを
含み、ｖ及びｗはそれぞれＡのモル比を１．０とした時のＢ及びＣのモル比を示し、ｖ及
びｗはそれぞれ独立に０．５≦ｖ≦１．５、２．５≦ｗ≦３．５を満たす。）
［４］前記基板の厚さが、０．２～５００ｍｍである、［１］～［３］のいずれかに記
載の放射線検出素子。
［５］前記イオン性官能基が、少なくとも一つ４級アンモニウムイオンを有する、［１
］～［４］のいずれか項に記載の放射線検出素子。
［６］前記イオン性官能基が、少なくとも一つ双性イオンを有する、［１］～［５］の
いずれかに記載の放射線検出素子。
【発明の効果】
【０００８】
本発明により、リーク電流を低減した放射線検出素子を提供することができる。
【図面の簡単な説明】
【０００９】
放射線検出素子の使用方法の一例を示す概略図である。
比較例１の断面を透過電子顕微鏡で撮影したものである。
実施例１の断面を透過電子顕微鏡で撮影したものに、被覆層の厚みを示す補助的な表記を加えたものである。
実施例２の断面を透過電子顕微鏡で撮影したものに、被覆層の厚みを示す補助的な表記を加えたものである。
実施例における波高スペクトル測定に用いた装置の概略図である。
実施例で用いた波高スペクトル測定系の概念図である。
【発明を実施するための形態】
【００１０】
以下、本発明の実施形態について詳細に説明するが、本発明は該実施形態に限定されな
い。
（【００１１】以降は省略されています）

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