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公開番号
2025125284
公報種別
公開特許公報(A)
公開日
2025-08-27
出願番号
2024021247
出願日
2024-02-15
発明の名称
測距装置、測距方法、及び、移動体
出願人
キヤノン株式会社
代理人
個人
,
個人
,
個人
,
個人
主分類
G01S
7/484 20060101AFI20250820BHJP(測定;試験)
要約
【課題】フレームレートの低下を抑制しつつ、他の測距装置との干渉を抑制することができる測距装置を提供する。
【解決手段】測距装置は、パルス光を出射する発光部を制御する発光制御部と、発光部から出射され測定対象領域にある対象物による反射光を検出してパルス信号に変換する受光部と、反射光を検出する露光期間を設定する露光期間設定部と、パルス信号の数をカウントしたカウント値と露光期間とが対応付けられた度数分布情報を生成する度数分布生成部と、を備える。発光制御部はパルス光の発光間隔を制御する。複数の発光間隔は、第1発光間隔、及び、第1発光間隔の長さと異なる長さを有する第2発光間隔を含む。第1発光間隔及び第2発光間隔の少なくとも一方は、パルス光が出射されてから、パルス光に起因する反射光が検出され得るまでの測定期間よりも短い。
【選択図】図4
特許請求の範囲
【請求項1】
パルス光を出射する発光部を制御する発光制御部と、
前記発光部から出射され測定対象領域にある対象物による反射光を検出してパルス信号に変換する受光部と、
前記反射光を検出する露光期間を設定する露光期間設定部と、
前記パルス信号の数をカウントしたカウント値と前記露光期間とが対応付けられた度数分布情報を生成する度数分布生成部と、を備え、
前記発光制御部は前記パルス光の発光間隔を制御し、
複数の前記発光間隔は、第1発光間隔、及び、前記第1発光間隔の長さと異なる長さを有する第2発光間隔を含み、
前記第1発光間隔及び前記第2発光間隔の少なくとも一方は、前記パルス光が出射されてから、前記パルス光に起因する前記反射光が検出され得るまでの測定期間よりも短いことを特徴とする測距装置。
続きを表示(約 880 文字)
【請求項2】
前記第1発光間隔と前記第2発光間隔とは連続しており、
前記第1発光間隔における前記露光期間と前記第2発光間隔における前記露光期間とは、1つの前記測定期間内に含まれることを特徴とする請求項1に記載の測距装置。
【請求項3】
前記発光制御部は、前記第1発光間隔と前記第2発光間隔とが交互になるように前記発光間隔を制御することを特徴とする請求項1に記載の測距装置。
【請求項4】
前記第1発光間隔と前記第2発光間隔との差は、前記露光期間の整数倍に相当することを特徴とする請求項1に記載の測距装置。
【請求項5】
前記発光制御部は、前記発光間隔をランダムに変更することを特徴とする請求項1に記載の測距装置。
【請求項6】
前記発光制御部は、前記発光間隔を周期的に変更することを特徴とする請求項1に記載の測距装置。
【請求項7】
前記複数の発光間隔は、前記第2発光間隔に続く第3発光間隔を含み、
前記発光制御部は、前記第2発光間隔と前記第3発光間隔との差が前記第1発光間隔と前記第2発光間隔との差よりも大きくなるように前記発光間隔を制御することを特徴とする請求項1に記載の測距装置。
【請求項8】
前記複数の発光間隔は、前記第2発光間隔に続く第3発光間隔を含み、
前記発光制御部は、前記第2発光間隔と前記第3発光間隔との差が前記第1発光間隔と前記第2発光間隔との差よりも小さくなるように前記発光間隔を制御することを特徴とする請求項1に記載の測距装置。
【請求項9】
前記発光制御部は、前記カウント値のピークの候補が複数存在する場合、前記発光間隔を変更することを特徴とする請求項1に記載の測距装置。
【請求項10】
前記発光制御部は、前記カウント値と予め定められた閾値との比較結果に基づいて前記発光間隔を変更することを特徴とする請求項1に記載の測距装置。
(【請求項11】以降は省略されています)
発明の詳細な説明
【技術分野】
【0001】
本発明は、測距装置、測距方法、及び、移動体に関する。
続きを表示(約 2,400 文字)
【背景技術】
【0002】
従来、光を用いて対象物までの距離を測定する測距方式の一つとして、光飛行時間計測法(TOF(Time of Flight)方式)と呼ばれる測距手法が知られている。TOF方式は、対象物へ向けた発光から対象物により反射された反射光の検出までの時間に基づき対象物までの距離を計測する方法である。同様の測距装置が複数存在する環境下では、自己の測距装置の発光間隔と他の測距装置の発光間隔とが同じ間隔になる場合がある。この場合に、他の測距装置による発光を対象物からの反射光であると誤認識するという装置間の干渉の問題がある。この問題を解決するために、特許文献1に係るレーザレーダ装置は、投光ユニットからパルス光を対象物に測距周期で投光する際に、パルス光の投光タイミングをランダムに設定している。
【先行技術文献】
【特許文献】
【0003】
特開2019-158894号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【0004】
しかしながら、特許文献1に係るレーザレーダ装置は、パルス光の投光タイミングをランダムに設定する際に、最短の投光間隔から投光間隔を広げているため、フレームレートが低下する場合があった。
【0005】
そこで、本発明の目的は、フレームレートの低下を抑制しつつ、他の測距装置との干渉を抑制することができる測距装置、測距方法、及び、移動体を提供することにある。
【課題を解決するための手段】
【0006】
本明細書の一開示によれば、パルス光を出射する発光部を制御する発光制御部と、前記発光部から出射され測定対象領域にある対象物による反射光を検出してパルス信号に変換する受光部と、前記反射光を検出する露光期間を設定する露光期間設定部と、前記パルス信号の数をカウントしたカウント値と前記露光期間とが対応付けられた度数分布情報を生成する度数分布生成部と、を備え、前記発光制御部は前記パルス光の発光間隔を制御し、複数の前記発光間隔は、第1発光間隔、及び、前記第1発光間隔の長さと異なる長さを有する第2発光間隔を含み、前記第1発光間隔及び前記第2発光間隔の少なくとも一方は、前記パルス光が出射されてから、前記パルス光に起因する前記反射光が検出され得るまでの測定期間よりも短い測距装置が提供される。
【0007】
本明細書の一開示によれば、パルス光を出射する発光部を制御する発光制御ステップと、前記発光部から出射され測定対象領域にある対象物による反射光を検出してパルス信号に変換する受光ステップと、前記反射光を検出する露光期間を設定する露光期間設定ステップと、前記パルス信号の数をカウントしたカウント値と前記露光期間とが対応付けられた度数分布情報を生成する度数分布生成ステップと、を備え、前記発光制御ステップでは前記パルス光の発光間隔を制御し、複数の前記発光間隔は、第1発光間隔、及び、前記第1発光間隔の長さと異なる長さを有する第2発光間隔を含み、前記第1発光間隔及び前記第2発光間隔の少なくとも一方は、前記パルス光が出射されてから、前記パルス光に起因する前記反射光が検出され得るまでの測定期間よりも短い測距方法が提供される。
【発明の効果】
【0008】
本発明によれば、フレームレートの低下を抑制しつつ、他の測距装置との干渉を抑制することができる測距装置、測距方法、及び、移動体を実現することができる。
【図面の簡単な説明】
【0009】
第1実施形態に係る測距装置の構成例を示すハードウェアブロック図である。
第1実施形態に係る発光装置、受光装置、及び、信号処理装置の構成例を示す機能ブロック図である。
第1実施形態に係るフレーム期間、サブフレーム期間、及び、マイクロフレーム期間を説明する図である。
第1実施形態に係る第1露光期間及び発光間隔の制御例を示すタイミングチャートである。
第1実施形態に係る第1露光期間とパルス信号のカウント値との関係を表すヒストグラムである。
第1実施形態に係る第2露光期間及び発光間隔の制御例を示すタイミングチャートである。
第1実施形態に係る第2露光期間とパルス信号のカウント値との関係を表すヒストグラムである。
第2実施形態に係る第1露光期間及び発光間隔の制御例を示すタイミングチャートである。
第2実施形態に係る第1露光期間とパルス信号のカウント値との関係を表すヒストグラムである。
第3実施形態の比較例に係る第1露光期間とパルス信号のカウント値との関係を表すヒストグラムである。
第3実施形態に係る第1露光期間及び発光間隔の制御例を示すタイミングチャートである。
第3実施形態に係る第1露光期間とパルス信号のカウント値との関係を表すヒストグラムである。
第4実施形態に係る移動体の構成例を示す図である。
【発明を実施するための形態】
【0010】
[第1実施形態]
第1実施形態に係る測距装置及び測距方法について説明する。本実施形態において説明する測距装置は、LiDAR(Light Detection And Ranging)等の技術を用いた装置である。この測距装置は、発光装置から光を測定対象領域に向けて出射してから、測定対象領域に含まれる対象物で反射された反射光を受光装置で受光するまでの時間差に基づいて、測距装置から対象物までの距離を計測する。また、この測距装置は、いわゆるタイムゲート方式の装置であり、距離に応じて露光期間(ゲート期間)を切り替えていき、対象物からの反射光を受光した露光期間の情報に基づいて対象物までの距離を計測する。
(【0011】以降は省略されています)
この特許をJ-PlatPat(特許庁公式サイト)で参照する
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