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公開番号2025100523
公報種別公開特許公報(A)
公開日2025-07-03
出願番号2024226434
出願日2024-12-23
発明の名称積層型キャパシタ
出願人サムソンエレクトロ-メカニックスカンパニーリミテッド.
代理人個人,個人
主分類H01G 4/30 20060101AFI20250626BHJP(基本的電気素子)
要約【課題】本発明の一課題は、有効誘電率(DC、高周波、低電界など)、信頼性(高温/耐湿負荷)および温度(高温)特性を同時に優秀に実現可能な積層型キャパシタを提供することである。
【解決手段】本発明は、誘電体層および内部電極を含むキャパシタボディー;および前記キャパシタボディーの外側に配置される外部電極を含み、前記誘電体層は、複数の誘電体結晶粒を含み、前記誘電体結晶粒は、キューブ(Cube)形態を有し、バリウム(Ba)チタニウム(Ti)酸化物を含有するコアを含む、積層型キャパシタに関するものである。
【選択図】図1
特許請求の範囲【請求項１】
誘電体層および内部電極を含むキャパシタボディー；並びに
前記キャパシタボディーの外側に配置される外部電極を含み、
前記誘電体層は、複数の誘電体結晶粒を含み、
前記誘電体結晶粒は、キューブ（Ｃｕｂｅ）形態を有し、バリウム（Ｂａ）チタニウム（Ｔｉ）酸化物を含有するコアを含む、
積層型キャパシタ。
続きを表示（約 750 文字）【請求項２】
前記誘電体結晶粒の表面は、（００１）面結晶面として優勢に存在する、請求項１に記載の積層型キャパシタ。
【請求項３】
前記誘電体結晶粒は、平均寸法が１６０ｎｍ以下である、請求項１に記載の積層型キャパシタ。
【請求項４】
前記誘電体結晶粒の寸法の標準偏差は、４０ｎｍ以下である、請求項１に記載の積層型キャパシタ。
【請求項５】
前記誘電体結晶粒内のコアは、平均寸法が１２０ｎｍ以下である、請求項１に記載の積層型キャパシタ。
【請求項６】
前記誘電体結晶粒内のコアの寸法の標準偏差は、３０ｎｍ以下である、請求項１に記載の積層型キャパシタ。
【請求項７】
前記誘電体結晶粒内のコアの平均分率が、６０％以上である、請求項１に記載の積層型キャパシタ。
【請求項８】
下記の式１を満足する、請求項１に記載の積層型キャパシタ。
［式１］
Ｄ
ｓ
／Ｄ
ａｖｇ
≧０．７（％／ｎｍ）
前記式１で、Ｄ
ｓ
は、誘電体層の焼結相対密度であり、Ｄ
ａｖｇ
は、誘電体結晶粒の平均寸法である。
【請求項９】
誘電体層の焼結相対密度が９８％である時の誘電体結晶粒の平均寸法が、２００ｎｍ以下である、請求項１に記載の積層型キャパシタ。
【請求項１０】
前記誘電体結晶粒は、前記コア上に位置するシェルをさらに含み、前記シェルは、Ｄｙ、Ｍｇ、Ｍｎ、Ｔｂ、Ｓｍ、Ｓｉ、Ｂａ、Ａｌ、Ｖ、Ｎｂ、Ｓｎまたはこれらの組み合わせを含有する、請求項１に記載の積層型キャパシタ。
（【請求項１１】以降は省略されています）
発明の詳細な説明【技術分野】
【０００１】
本発明は、積層型キャパシタに関するものである。
続きを表示（約 950 文字）【背景技術】
【０００２】
従来の積層型キャパシタ（Ｍｕｌｔｉ－ＬａｙｅｒｅｄＣｅｒａｍｉｃＣａｐａｃｉｔｏｒ；ＭＬＣＣ）は、公称誘電率の高い高容量製品が中心であったため、誘電体材料であるＢａＴｉＯ
３
を焼結した誘電体結晶粒の寸法を大きくして高い誘電率を確保することが要求された。
【０００３】
これに対して、最近、ＭＬＣＣ業界は、最終製品が小型化、高性能化するにつれて、単に高誘電率の確保よりは有効誘電率（ＤＣ、高周波、低電界など）の確保がより重要となり、薄層化した誘電体層内の誘電体結晶粒の寸法と組成を含む微細構造の全般を制御して、有効誘電率（ＤＣ、高周波、低電界など）、信頼性（高温／耐湿負荷）および温度特性を同時に優秀に実現すべき方向への技術開発が必要な実情である。
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００４】
そこで、本発明の一課題は、有効誘電率（ＤＣ、高周波、低電界など）、信頼性（高温／耐湿負荷）および温度（高温）特性を同時に優秀に実現可能な積層型キャパシタを提供することである。
【課題を解決するための手段】
【０００５】
本発明の一実施形態は、誘電体層および内部電極を含むキャパシタボディー；および前記キャパシタボディーの外側に配置される外部電極を含み、前記誘電体層は、複数の誘電体結晶粒を含み、前記誘電体結晶粒は、キューブ（Ｃｕｂｅ）形態を有し、バリウム（Ｂａ）チタニウム（Ｔｉ）酸化物を含有するコアを含む、積層型キャパシタを提供する。
【０００６】
前記誘電体結晶粒のコア表面は、（００１）面結晶面として優勢に存在し得る。
【０００７】
前記誘電体結晶粒は、平均寸法が１６０ｎｍ以下であり得る。
【０００８】
前記誘電体結晶粒の寸法の標準偏差は、４０ｎｍ以下であり得る。
【０００９】
前記誘電体結晶粒内のコアは、平均寸法が１２０ｎｍ以下であり得る。
【００１０】
前記誘電体結晶粒内のコアの寸法の標準偏差は、３０ｎｍ以下であり得る。
（【００１１】以降は省略されています）

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