TOP特許意匠商標
特許ウォッチ Twitter
公開番号2024172798
公報種別公開特許公報(A)
公開日2024-12-12
出願番号2023090769
出願日2023-06-01
発明の名称半導体集積回路
出願人ローム株式会社
代理人弁理士法人 佐野特許事務所
主分類G01R 31/28 20060101AFI20241205BHJP(測定;試験)
要約【課題】故障検出率を高くしつつ、回路規模の増大を抑制することが可能となる半導体集積回路を提供する。
【解決手段】半導体集積回路(101)は、バスコントローラ(1A)を有するCPU(1)と、前記バスコントローラから出力されるデータ出力を保持するように構成されるデータ保持回路(4)と、前記データ保持回路に保持された期待値データと、前記バスコントローラまたは周辺回路(2)から出力される比較対象データと、を比較するように構成される比較回路(5A)と、前記周辺回路から入力される入力データと、前記比較部から出力される比較結果と、のうち1つを選択して前記バスコントローラに入力させるように構成される選択回路(6)と、を備え、前記CPUは、ソフトウェアを実行することで故障検出を行うように構成される。
【選択図】図2
特許請求の範囲【請求項1】
バスコントローラを有するCPUと、
前記バスコントローラから出力されるデータ出力を保持するように構成されるデータ保持回路と、
前記データ保持回路に保持された期待値データと、前記バスコントローラまたは周辺回路から出力される比較対象データと、を比較するように構成される比較回路と、
前記周辺回路から入力される入力データと、前記比較部から出力される比較結果と、のうち1つを選択して前記バスコントローラに入力させるように構成される選択回路と、
を備え、
前記CPUは、ソフトウェアを実行することで故障検出を行うように構成される、半導体集積回路。
続きを表示(約 710 文字)【請求項2】
前記比較回路は、アドレスを示す前記期待値データと、前記バスコントローラから出力されるアドレス出力としての前記比較対象データと、を比較する、請求項1に記載の半導体集積回路。
【請求項3】
前記データ保持回路の個数をNとして、前記データ出力のビット数×N≧前記アドレス出力のビット数であり、Nは2以上の整数である、請求項2に記載の半導体集積回路。
【請求項4】
前記バスコントローラは、読み出し/書き込みを指定する制御出力を出力するように構成され、
前記比較回路は、アドレスおよび前記制御出力を示す前記期待値データと、前記バスコントローラから出力されるアドレス出力および前記制御出力としての前記比較対象データと、を比較する、請求項1に記載の半導体集積回路。
【請求項5】
前記データ保持回路の個数をNとして、前記データ出力のビット数×N≧前記アドレス出力のビット数+前記制御出力のビット数である、請求項4に記載の半導体集積回路。
【請求項6】
前記比較回路は、書き込み対象データとしての前記期待値データと、前記周辺回路から読み出したデータとしての前記比較対象データと、を比較する、請求項1に記載の半導体集積回路。
【請求項7】
前記選択回路は、前記入力データおよび前記比較結果に加え、前記データ保持回路により保持された制御データのうち1つを選択して前記バスコントローラに入力させる、請求項1に記載の半導体集積回路。
【請求項8】
車載用ICである、請求項1から請求項7のいずれか1項に記載の半導体集積回路。

発明の詳細な説明【技術分野】
【0001】
本開示は、半導体集積回路に関する。
続きを表示(約 1,200 文字)【背景技術】
【0002】
従来、半導体集積回路には、故障検出機能を有するものがある(例えば特許文献1)。例えば、車載用の機能安全規格であるISO26262では、半導体集積回路において故障が発生した場合に、一定の時間以内かつ一定の確率以上で故障を検出することが必要とされる。
【先行技術文献】
【特許文献】
【0003】
特開2021-50924号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【0004】
上記のような半導体集積回路においては、故障検出率を高くしつつ、回路規模の増大を抑制することが要望されている。
【0005】
上記状況に鑑み、本開示は、故障検出率を高くしつつ、回路規模の増大を抑制することが可能となる半導体集積回路を提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【0006】
例えば、本開示の一態様に係る半導体集積回路は、
バスコントローラを有するCPUと、
前記バスコントローラから出力されるデータ出力を保持するように構成されるデータ保持回路と、
前記データ保持回路に保持された期待値データと、前記バスコントローラまたは周辺回路から出力される比較対象データと、を比較するように構成される比較回路と、
前記周辺回路から入力される入力データと、前記比較部から出力される比較結果と、のうち1つを選択して前記バスコントローラに入力させるように構成される選択回路と、
を備え、
前記CPUは、ソフトウェアを実行することで故障検出を行うように構成される。
【発明の効果】
【0007】
本開示の例示的な半導体集積回路によれば、故障検出率を高くしつつ、回路規模の増大を抑制することが可能となる。
【図面の簡単な説明】
【0008】
図1は、比較例に係る半導体集積回路の構成を示す図である。
図2は、第1実施形態に係る半導体集積回路の構成を示す図である。
図3は、第2実施形態に係る半導体集積回路の構成を示す図である。
図4は、第3実施形態に係る半導体集積回路の構成を示す図である。
図5は、第4実施形態に係る半導体集積回路の構成を示す図である。
図6は、本開示に係る半導体集積回路を適用するアプリケーションの一構成例を示す図である。
【発明を実施するための形態】
【0009】
以下、本開示の例示的な実施形態について、図面を参照して説明する。
【0010】
<1.比較例>
ここでは、本開示の実施形態について説明する前に、対比するための比較例について説明する。比較例について説明することで、解決すべき課題がより明らかになる。
(【0011】以降は省略されています)

この特許をJ-PlatPatで参照する
Flag Counter

関連特許

個人
光フアィバー距離計測器
1日前
個人
光フアィバー距離計測器
1日前
個人
バッテリ用交流電流供給装置
1日前
株式会社オービット
検査装置
8日前
有限会社フィット
外観検査装置
12日前
富士電機株式会社
回転機
9日前
株式会社SUBARU
車載装置
15日前
株式会社東芝
センサ
8日前
株式会社東芝
試験装置
15日前
アズビル株式会社
真空計測システム
9日前
アズビル株式会社
真空計測システム
9日前
シスメックス株式会社
分析装置
5日前
株式会社タムラ製作所
電流検出器
5日前
個人
ネブライザー
7日前
株式会社アドバンテスト
試験装置
7日前
日鉄テックスエンジ株式会社
情報処理装置
5日前
株式会社国際電気
調整装置
12日前
株式会社デンソー
電流検出器
12日前
愛知製鋼株式会社
測量方法及び測量システム
5日前
株式会社日本マイクロニクス
プローブ
5日前
株式会社エイアンドティー
生体試料分析装置
5日前
キヤノン株式会社
放射線撮影装置及びバッテリ
9日前
株式会社レイズテック
部品寸法データ集計装置
14日前
公立大学法人大阪
測定方法および構造体
12日前
株式会社KRI
麹造り工程の計測装置および計測方法
15日前
アズビル株式会社
温度測定システムおよび方法
5日前
株式会社SCREENホールディングス
観察装置
1日前
株式会社東芝
測距装置
5日前
日東電工株式会社
分析システム、分析方法
5日前
日本信号株式会社
エリア限定通信システム
9日前
セイコーエプソン株式会社
測位装置
15日前
北陽電機株式会社
物体検知装置および物体検知方法
8日前
大日本印刷株式会社
色補正用チャート
9日前
ニプロ株式会社
試料採取容器
7日前
株式会社デンソー
エネルギー予測装置
6日前
地盤計測株式会社
傾斜計プローブ回収キット
9日前
続きを見る