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公開番号2024086157
公報種別公開特許公報(A)
公開日2024-06-27
出願番号2022201142
出願日2022-12-16
発明の名称センサモジュールシステム
出願人株式会社東芝
代理人弁理士法人スズエ国際特許事務所
主分類G01N 27/414 20060101AFI20240620BHJP(測定;試験)
要約【課題】 測定前にセンサチップ上のプローブ分子の有無を検査可能である、センサモジュールシステムを提供する。
【解決手段】 実施形態に従うセンサモジュールシステムは光照射に電荷応答するプローブ分子を具備する第一のセンサモジュールと、プローブ分子を具備しない第二のセンサモジュールとを備える。第一のセンサモジュールの一方の端部側には第1の流路が接続され、他方の端部側に第2の流路が接続される。第二のセンサモジュールの一方の端部側には第1の流路から分岐する第3の流路が接続され、他方の端部側には第1の流路と合流する第4の流路が接続される。第1の流路と第3の流路との合流部には、第3の流路を開閉可能なバルブが接続される。
【選択図】図1A
特許請求の範囲【請求項1】
光照射に電荷応答するプローブ分子を具備する第一のセンサモジュールと、
前記プローブ分子を具備しない第二のセンサモジュールと
前記第一のセンサモジュールの一方の端部に接続される第1の流路と、
前記第一のセンサモジュールの他方の端部側に接続される第2の流路と、
前記第1の流路から分岐し、かつ、前記第二のセンサモジュールの一方の端部側に接続される第3の流路と、
前記第二のセンサモジュールの他方の端部側に接続され、かつ、前記第1の流路と合流する第4の流路と、
前記第1の流路と前記第3の流路との合流部に配置される、前記第3の流路を開閉可能なバルブと
を備えるセンサモジュールシステム。
続きを表示(約 1,900 文字)【請求項2】
前記第3の流路及び前記第4の流路が、それぞれ分岐流路をさらに備え、かつ、
前記第3の流路の前記分岐流路と前記第4の流路の前記分岐流路に接続される、第三のセンサモジュールをさらに備える、
請求項1に記載のセンサモジュールシステム。
【請求項3】
光照射に電荷応答するプローブ分子を具備する第一のセンサモジュールと、
前記プローブ分子を具備しない第二のセンサモジュールと
前記第一のセンサモジュールの一方の端部に接続される第1の流路と、
前記第一のセンサモジュールの他方の端部側に接続される第2の流路と、
前記第2の流路から分岐し、かつ、前記第二のセンサモジュールの一方の端部側に接続される第3の流路と、
前記第二のセンサモジュールの他方の端部側に接続され、かつ、前記第2の流路と合流する第4の流路と、
前記第2の流路と前記第3の流路との合流部に配置される、前記第3の流路を開閉可能なバルブと
を備えるセンサモジュールシステム。
【請求項4】
前記第3の流路及び前記第4の流路が、それぞれ分岐流路をさらに備え、かつ、
前記第3の流路の前記分岐流路と前記第4の流路の前記分岐流路に接続される、第三のセンサモジュールをさらに備える、
請求項3に記載のセンサモジュールシステム。
【請求項5】
前記第1のセンサモジュールは、第1の感応膜と、前記第1の感応膜の両端に接続された第1のソース電極及び第1のドレイン電極と、を含み、
前記第2のセンサモジュールは、第2の感応膜と、前記第2の感応膜の両端に接続された第2のソース電極及び第2のドレイン電極と、を含み、
前記第1の感応膜及び前記第2の感応膜に光照射する光源をさらに備える、
請求項1~4のいずれか1項に記載のセンサモジュールシステム。
【請求項6】
前記第1の流路の他方の端に接続される第2のバルブと、
前記第2のバルブを介して前記第1の流路の前記他方の端に接続される、第1の分岐流路及び第2の分岐流路と、
前記第1の分岐流路の他方の端に接続される、試料を収容する第1の容器と、
前記第2の分岐流路の他方の端に接続される、洗浄液を収容する第2の容器と、
をさらに備え、
前記洗浄液は緩衝イオン成分を含まない液体である、請求項5に記載のセンサモジュールシステム。
【請求項7】
制御回路と、前記第2のバルブを開閉するバルブコントローラと、
をさらに有し、
前記制御回路は前記バルブコントローラを制御する、請求項6に記載のセンサモジュールシステム。
【請求項8】
前記制御回路は、
前記第2の分岐流路を開けて前記第1の流路と前記第2の容器とを導通させるように、前記バルブコントローラを制御し、
前記第2のセンサモジュールから出力された信号値が、光照射時と光非照射時との間で変動したか否かを判定し、かつ、 前記信号値が変動しないと判定された場合に前記第2の分岐流路を閉じて前記第1の流路と前記第2の容器とを導通させないように前記バルブコントローラを制御する、請求項7に記載のセンサモジュールシステム。
【請求項9】
前記制御回路は、
前記第2の分岐流路を開けて前記第1の流路と前記第2の容器とを導通させるように、前記バルブコントローラを制御し、
前記第2のセンサモジュールから出力した信号値が、光照射時と光非照射時との間で変動したか否かを判定し、
前記第1のセンサモジュールから出力した信号値が、光照射時と光非照射時との間で変動したか否かを判定し、かつ、
前記第2のセンサモジュールの前記信号値が変動しないと判定され、及び、前記第1のセンサモジュールの前記信号値が変動したと判定されたときに、前記第1の分岐流路を開けて前記第1の流路と前記第1の容器とを導通させるように、前記バルブコントローラを制御する、
請求項7に記載のセンサモジュールシステム。
【請求項10】
前記制御回路は、
前記第2のセンサモジュールから出力された前記信号値が、光照射時と光非照射時との間で変動せず、前記第1のセンサモジュールから出力された信号値が、光照射時と光非照射時との間で変動したときに、前記プローブが正常な状態であると判定する、請求項7に記載のセンサモジュールシステム。
(【請求項11】以降は省略されています)

発明の詳細な説明【技術分野】
【0001】
本発明の実施形態は、センサモジュールシステムに関する。
続きを表示(約 2,900 文字)【背景技術】
【0002】
センサチップの測定前に、センサチップ上のプローブ分子の有無を検査するシステムが求められている。
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【0003】
本発明の実施形態は、測定前にセンサチップ上のプローブ分子の有無を検査可能である、センサモジュールシステムを提供する。
【課題を解決するための手段】
【0004】
実施形態に従う、センサモジュールシステムは光照射に電荷応答するプローブ分子を具備する第一のセンサモジュール2と、プローブ分子を具備しない第二のセンサモジュール3とを備える。第一のセンサモジュールの一方の端部側には第1の流路が接続され、他方の端部側に第2の流路が接続される。第二のセンサモジュールの一方の端部側には第1の流路から分岐する第3の流路が接続され、他方の端部側には第1の流路と合流する第4の流路が接続される。第1の流路と第3の流路との合流部には、第3の流路を開閉可能なバルブが接続される。
【図面の簡単な説明】
【0005】
図1Aは、第1実施形態のセンサモジュールシステムの構成を示す概略図である。
図1Bは、第1実施形態のセンサモジュールシステムのさらなる構成を示す概略図である。
図1Cは、第1実施形態のセンサモジュールシステムの別のさらなる構成を示す概略図である。
図2は、第1実施形態のセンサモジュールシステムの構成を説明する図であり、(a)は第一のセンサモジュールの概略断面図を、(b)は第二のセンサモジュールの概略断面図を示す。
図3は、第2実施形態のセンサモジュールシステムの構成を示す概略図である。
図4は、第3実施形態のセンサモジュールシステムの構成を示す概略図である。
図5は、第3実施形態のセンサモジュールシステムの別の構成を示す概略図である。
図6Aは、第4実施形態のセンサモジュールシステムの構成を示す概略図である。
図6Bは、第4実施形態のセンサモジュールシステムの別の構成を示す概略図である。
図7は、第1~第4実施形態のセンサモジュールシステムを用いた、標的物質の分析方法を示すフローチャートである。
図8は、例1の実験結果のうち、第二のセンサモジュールを用いた緩衝イオン残渣検査の結果を示すグラフであり、(a)は、HEPES溶液からなる液膜を備える第二のセンサモジュールの測定結果を示し、(b)は純水からなる液膜を備える第二のセンサモジュールの測定結果を示し、(c)は塩化ナトリウム水溶液からなる液膜を備える第二のセンサモジュールの測定結果を示す。
図9は、例1の実験結果のうち、第二のセンサモジュールを用いた緩衝イオン残渣検査のネガティブコントロール実験の結果を示すグラフであり、(a)は、HEPES溶液からなる液膜を備える第二のセンサモジュールのネガティブコントロール実験の結果を示し、(b)は純水からなる液膜を備える第二のセンサモジュールのネガティブコントロール実験の結果を示す。
図10は、例2の実験結果を示すグラフであり、(a)は、純水からなる液膜を備える第二のセンサモジュールを用いたネガティブコントロール実験の結果を示し、(b)は蛍光色素を結合させたプローブ分子を備える第二のセンサモジュールを用いたプローブ分子検査の測定結果を示す。
【発明を実施するための形態】
【0006】
以下、本発明の種々の実施形態を、図面を参照して説明する。各図は実施形態とその理解を促すための模式図であり、その形状や寸法、比などは実際と異なる箇所があるが、これらは以下の説明と公知の技術を参酌して適宜、設計変更することができる。
【0007】
(第1実施形態)
以下、第1実施形態のセンサモジュールシステムを示す概略図である、図1を用いて説明する。
【0008】
第1実施形態に係るセンサモジュールシステム1は、光照射に電荷応答するプローブ分子を具備する第一のセンサモジュール2と、プローブ分子を具備しない第二のセンサモジュール3とを備える。第一のセンサモジュール2の一方の端部側には第1の流路4が接続され、他方の端部側に第2の流路5が接続されている。第二のセンサモジュール3の一方の端部側には第1の流路4から分岐する第3の流路6が接続され、他方の端部側には第1の流路4と合流する第4の流路7が接続されている。第1の流路4と第3の流路6との合流部にはバルブ8が設けられており、第3の流路6を開閉することができる。第1の流路4と第4の流路7との合流部9には、第4の流路7を開閉可能にするバルブ8が接続されていてもよい。第1の流路4は、その一方の端部が第一のモジュール2に接続され、他方の端部が液体を内部に流入させる液体流入口となっている。
【0009】
第一のセンサモジュール2は、基板10と、基板10上に配設された感応膜11と、感応膜11を被覆するように配置された液膜12とを備えており、感応膜11の表面にはプローブ分子13が固相化されている。例えば第一のセンサモジュール2がFETセンサの一種である場合、感応膜11は液膜12を介してゲート電極14が接触するように配設されており、かつ、一方の端にソース電極15が、他方の端にドレイン電極16がそれぞれ電気的に接続されている(図2の(a)参照)。また、ゲート電極14には電圧(すなわちゲート電圧)を印加する回路が接続される。ソース電極15-ドレイン電極16間にも電圧を印加する回路が形成され、当該回路上を流れるドレイン電流を計測する電流計(図示せず)が配置されている。ソース電極15及びドレイン電極16は、絶縁性の保護膜17に覆われる。
【0010】
第二のセンサモジュール3は、第一のセンサモジュール2と異なり、感応膜表面11aにプローブ分子13が固相化されていない。ただし、それ以外の構成は第一のセンサモジュール2と同様の構成である。具体的には、第二のセンサモジュール3は、基板10と、基板10上に配設された感応膜11と、感応膜11を被覆するように配置された液膜12とを備える(図2の(b)参照)。また、例えば第一のセンサモジュール2がFETセンサの一種である場合、第二のセンサモジュール3も同様の構成である。すなわち、第二のセンサモジュール3の感応膜11は、液膜12を介してゲート電極14が接触するように配設されており、かつ、一方の端にソース電極15が、他方の端にドレイン電極16がそれぞれ電気的に接続されている。ゲート電極14には電圧(すなわちゲート電圧)を印加する回路が接続され、ソース電極15-ドレイン電極16間にも電圧を印加する回路が形成され、当該回路上を流れるドレイン電流を計測する電流計(図示せず)が配置されている。ソース電極15及びドレイン電極16は、絶縁性の保護膜17に覆われている。
(【0011】以降は省略されています)

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