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公開番号2024071057
公報種別公開特許公報(A)
公開日2024-05-24
出願番号2022181788
出願日2022-11-14
発明の名称λ/4板の欠点検査方法
出願人日東電工株式会社
代理人弁理士法人籾井特許事務所
主分類G02B 5/30 20060101AFI20240517BHJP(光学)
要約【課題】λ/4板の欠点を感度よく検出し得る検査方法を提供すること。
【解決手段】本発明のλ/4板の欠点検査方法は、透明ロール上で、第1の偏光子と、第1のλ/4板と、第2のλ/4板と、第2の偏光子とをこの順に配置すること、および、第1の偏光子側の面から光を入射させ、第2の偏光子側の面の外観を観察することを含む。上記第1の偏光子の吸収軸と上記第2の偏光子の吸収軸とを直交させ、上記第1のλ/4板の遅相軸と上記第2のλ/4板の遅相軸とを直交させ、上記第1の偏光子の吸収軸と上記第1のλ/4板の遅相軸とのなす角を、35°～55°とし、かつ、該第2の偏光子の吸収軸と該第2のλ/4板の遅相軸とのなす角を、35°～55°としてもよい。
【選択図】図1

特許請求の範囲【請求項１】
透明ロール上で、第１の偏光子と、第１のλ／４板と、第２のλ／４板と、第２の偏光子とをこの順に配置すること、および、第１の偏光子側の面から光を入射させ、第２の偏光子側の面の外観を観察することを含む、
λ／４板の欠点検査方法。
続きを表示（約 880 文字）【請求項２】
前記第１の偏光子の吸収軸と前記第２の偏光子の吸収軸とを直交させ、前記第１のλ／４板の遅相軸と前記第２のλ／４板の遅相軸とを直交させ、前記第１の偏光子の吸収軸と前記第１のλ／４板の遅相軸とのなす角を、３５°～５５°とし、かつ、該第２の偏光子の吸収軸と該第２のλ／４板の遅相軸とのなす角を、３５°～５５°とする、請求項１に記載のλ／４板の欠点検査方法。
【請求項３】
前記第１の偏光子の吸収軸と前記第２の偏光子の吸収軸とを平行とし、前記第１のλ／４板の遅相軸と前記第２のλ／４板の遅相軸とを平行とし、前記第１の偏光子の吸収軸と前記第１のλ／４板の遅相軸とのなす角を、３５°～５５°とし、かつ、前記第２の偏光子の吸収軸と第２のλ／４板の遅相軸とのなす角を、３５°～５５°とする、請求項１に記載のλ／４板の欠点検査方法。
【請求項４】
前記第１の偏光子と前記第１のλ／４板とが、光学積層体Ａを構成し、
前記透明ロール上の該光学積層体Ａの抱き角が、１８０°以下である、
請求項１に記載のλ／４板の欠点検査方法。
【請求項５】
中空の前記透明ロールの内部に設けられた光源により、前記光を入射させる、請求項１に記載のλ／４板の欠点検査方法。
【請求項６】
前記第１のλ／４板の波長分散特性と、前記第２のλ／４板の波長分散特性とを略同一とすることを含む、請求項１に記載のλ／４板の欠点検査方法。
【請求項７】
前記第１のλ／４板の面内位相差Ｒｅ
１
前記と第２のλ／４板の面内位相差Ｒｅ
２
との差の絶対値が、２０ｎｍ以下である、請求項１に記載のλ／４板の欠点検査方法。
【請求項８】
第１のλ／４板の面内位相差Ｒｅ
１
と前記第２のλ／４板の面内位相差Ｒｅ
２
とが、Ｒｅ
１
＜Ｒｅ
２
とされる、請求項２に記載のλ／４板の欠点検査方法。

発明の詳細な説明【技術分野】
【０００１】
本発明は、λ／４板の欠点検査方法に関する。
続きを表示（約 2,200 文字）【背景技術】
【０００２】
液晶表示装置（ＬＣＤ）、有機エレクトロルミネッセンス表示装置（ＯＬＥＤ）等の画像表示装置において、表示特性の向上、反射防止等を目的として位相差フィルムが多用されている。位相差フィルムの製造工程においては、局所的な外観不良による欠点が発生することがあり、当該欠点を精度よく検査し得る方法が求められている。特に、位相差フィルムが、液晶材料から構成されるλ／４板は、従来方法では検出できないほど軽微な欠点が生じやすく、このような欠点をも精度よく検出し得る検査方法が求められている。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００３】
特開２０１３－１５７６６号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００４】
本発明は、上記課題を解決するためになされたものであり、その目的とするところは、λ／４板の欠点を精度よく検出し得る欠点検査方法を提供することにある。
【課題を解決するための手段】
【０００５】
［１］本発明のλ／４板の欠点検査方法は、透明ロール上で、第１の偏光子と、第１のλ／４板と、第２のλ／４板と、第２の偏光子とをこの順に配置すること、および、第１の偏光子側の面から光を入射させ、第２の偏光子側の面の外観を観察することを含む。
［２］上記［１］のλ／４板の欠点検査方法において、上記第１の偏光子の吸収軸と上記第２の偏光子の吸収軸とを直交させ、上記第１のλ／４板の遅相軸と上記第２のλ／４板の遅相軸とを直交させ、上記第１の偏光子の吸収軸と上記第１のλ／４板の遅相軸とのなす角を、３５°～５５°とし、かつ、該第２の偏光子の吸収軸と該第２のλ／４板の遅相軸とのなす角を、３５°～５５°としてもよい。
［３］上記［１］のλ／４板の欠点検査方法において、上記第１の偏光子の吸収軸と上記第２の偏光子の吸収軸とを平行とし、上記第１のλ／４板の遅相軸と上記第２のλ／４板の遅相軸とを平行とし、上記第１の偏光子の吸収軸と上記第１のλ／４板の遅相軸とのなす角を、３５°～５５°とし、かつ、上記第２の偏光子の吸収軸と第２のλ／４板の遅相軸とのなす角を、３５°～５５°としてもよい。
［４］上記［１］から［３］のいずれかのλ／４板の欠点検査方法において、上記第１の偏光子と上記第１のλ／４板とが、光学積層体Ａを構成し、上記透明ロール上の該光学積層体Ａの抱き角が、１８０°以下であってもよい。
［５］上記［１］から［４］のいずれかのλ／４板の欠点検査方法において、中空の透明ロールの内部に設けられた光源により、前記光を入射させてもよい。
［６］上記［１］から［５］のいずれかのλ／４板の欠点検査方法において、上記第１のλ／４板の波長分散特性と、上記第２のλ／４板の波長分散特性とを略同一としてもよい。
［７］上記［１］から［６］のいずれかのλ／４板の欠点検査方法において、第１のλ／４板の面内位相差Ｒｅ
１
と第２のλ／４板の面内位相差Ｒｅ
２
との差の絶対値が、２０ｎｍ以下であってもよい。
［８］上記［１］から［７］のいずれかのλ／４板の欠点検査方法において、第１のλ／４板の面内位相差Ｒｅ
１
と第２のλ／４板の面内位相差Ｒｅ
２
とが、Ｒｅ
１
＜Ｒｅ
２
とされていてもよい。
【発明の効果】
【０００６】
本発明によれば、λ／４板を含む光学積層体の欠点を精度よく検出し得る欠点検査方法を提供することができる。
【図面の簡単な説明】
【０００７】
本発明の１つの実施形態による検査方法を説明する概略斜視図である。
本発明の１つの実施形態による検査方法を説明する概略斜視図である。
本発明の１つの実施形態による検査方法を説明する概略斜視図である。
【発明を実施するための形態】
【０００８】
Ａ．欠点検査方法
本発明の欠点検査方法は、第１の偏光子と、第１のλ／４板と、第２のλ／４板と、第２の偏光子とをこの順に配置すること、および、第１の偏光子側の面から光を入射させ、第２の偏光子側の面の外観を観察することを含む。本発明の欠点検査方法は、第１のλ／４板を検査対象としてもよく、第２のλ／４板を検査対象としてもよく、第１のλ／４板と第２のλ／４板とを含む積層体を検査対象としてもよい。好ましくは、第１のλ／４板と第１の偏光子とを含む積層体体が検査対象となり、当該第１のλ／４板の欠点が検査される。
【０００９】
代表的には、第１の偏光子および第２の偏光子は、保護フィルムとともに偏光板として適用される。
【００１０】
第１のλ／４板および／または第２のλ／４板は、任意の適切なその他の層および／またはフィルムとともに積層体を構成していてもよい。その他の層およびその他のフィルムとしては、例えば、粘着剤層、接着剤層、基材等が挙げられる。その他の層およびその他のフィルムは、光学的に等方性であることが好ましい。
（【００１１】以降は省略されています）

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