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公開番号
2025113832
公報種別
公開特許公報(A)
公開日
2025-08-04
出願番号
2024008196
出願日
2024-01-23
発明の名称
磁性体およびインダクタ
出願人
株式会社村田製作所
代理人
個人
,
個人
主分類
H01F
17/04 20060101AFI20250728BHJP(基本的電気素子)
要約
【課題】μ値の低下を抑制しつつ、H
sat20
を向上させた磁性体およびインダクタを提供する。
【解決手段】本開示の磁性体1は、第1金属磁性粒子MP1と、第1金属磁性粒子MP1よりもメジアン粒径が大きい第2金属磁性粒子MP2と、樹脂と、を含み、第1金属磁性粒子MP1は、第1絶縁被膜IM1によって被覆され、第2金属磁性粒子MP2は、第2絶縁被膜IM2によって被覆され、第1金属磁性粒子MP1のメジアン粒径をD1、第1絶縁被膜IM1の平均厚みをT1、第2金属磁性粒子MP2のメジアン粒径をD2、第2絶縁被膜IM2の平均厚みをT2としたときに、2.5≦(T1/D1)/(T2/D2)≦3.9、T2≦39.4nmの両方を充足する。
【選択図】図1
特許請求の範囲
【請求項1】
第1金属磁性粒子と、前記第1金属磁性粒子よりもメジアン粒径が大きい第2金属磁性粒子と、樹脂と、を含み、
前記第1金属磁性粒子は、第1絶縁被膜によって被覆され、
前記第2金属磁性粒子は、第2絶縁被膜によって被覆され、
前記第1金属磁性粒子のメジアン粒径をD1、前記第1絶縁被膜の平均厚みをT1、前記第2金属磁性粒子のメジアン粒径をD2、前記第2絶縁被膜の平均厚みをT2としたときに、
2.5≦(T1/D1)/(T2/D2)≦3.9
T2≦39.4nm
の両方を充足する、磁性体。
続きを表示(約 640 文字)
【請求項2】
前記第1金属磁性粒子のメジアン粒径D1は、4μm以下である、請求項1に記載の磁性体。
【請求項3】
前記第2金属磁性粒子のメジアン粒径D2は、10μm以上である、請求項1に記載の磁性体。
【請求項4】
前記第1絶縁被膜の平均厚みT1は、5nm以上である、請求項1に記載の磁性体。
【請求項5】
前記第1金属磁性粒子と前記第2金属磁性粒子との重量配合比率は、
前記第1金属磁性粒子の重量:前記第2金属磁性粒子の重量が、35:65以上20:80以下である、請求項1に記載の磁性体。
【請求項6】
前記樹脂は、前記磁性体全体基準において、2.3重量%以上3.6重量%以下である、請求項1に記載の磁性体。
【請求項7】
前記第1金属磁性粒子は、Feを含有し、前記第2金属磁性粒子は、FeおよびSiを含有する、請求項1に記載の磁性体。
【請求項8】
前記第1金属磁性粒子は、前記第1金属磁性粒子の全体基準で97重量%以上の結晶性のFeを含有する、請求項7に記載の磁性体。
【請求項9】
前記第2金属磁性粒子は、前記第2金属磁性粒子の全体基準で2重量%以上8重量%以下のSiを含有する、請求項7に記載の磁性体。
【請求項10】
前記第1絶縁被膜は、シリカを含有する、請求項1に記載の磁性体。
(【請求項11】以降は省略されています)
発明の詳細な説明
【技術分野】
【0001】
本開示は、磁性体およびインダクタに関する。
続きを表示(約 1,200 文字)
【背景技術】
【0002】
近年、電子機器の高密度実装化と高速処理化に伴い、インダクタにおいても小型化及び高出力化が求められている。インダクタの小型化を図ると、インダクタの磁性材料を含むコアの体積が減少し、インダクタンス(L値)の低下および/または直流重畳特性の悪化を招きやすい。
【0003】
特許文献1には、平均粒径が異なる2つの粒子群を配合させて得た粒度分布を有する金属粉末、この金属粉末を用いて製造されたコア(磁性成形体)およびこのコアを用いて製造されたインダクタが記載されている。
【0004】
特許文献1によれば、大粒径粒子同士の間にできる空隙に小粒径粒子を充填させることで、大粒子と小粒子を合わせた軟磁性粒子の充填率を高くし、高い透磁率と良好な直流重畳特性が得られる、とされている。
【先行技術文献】
【特許文献】
【0005】
特開2018-113436号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【0006】
特許文献1に記載のインダクタにおいて、大粒子は磁束が集中しやすく、H
sat20
を低下させる(直流重畳特性を悪くする)傾向がある。なお、本明細書でいうH
sat20
とは、直流電流が0のときのμ値を算出し、当該μ値から20%低下したときの電流値I
sat20
と、磁性成形体の寸法と、銅線の巻回数と、に基づいて算出される、μ値が20%低下したときの磁場を意図している。
【0007】
H
sat20
を向上させるには、大粒子の比率を減らすことが考えられるが、磁性材料の占有率(充填率)の悪化やμ値の高い大粒子の減少により成形体(磁性体)全体のμ値が低下する問題が生じる。
【0008】
本開示は、かかる課題に鑑みて為されたものである。即ち、本開示の主たる目的は、μ値の低下を抑制しつつ、H
sat20
を向上させた磁性体およびインダクタを提供することである。
【課題を解決するための手段】
【0009】
本開示の磁性体は、
第1金属磁性粒子と、前記第1金属磁性粒子よりもメジアン粒径が大きい第2金属磁性粒子と、樹脂と、を含み、
前記第1金属磁性粒子は、第1被膜によって被覆され、
前記第2金属磁性粒子は、第2被膜によって被覆され、
前記第1金属磁性粒子のメジアン粒径をD1、前記第1被膜の平均厚みをT1、前記第2金属磁性粒子のメジアン粒径をD2、前記第2被膜の平均厚みをT2としたときに、
2.5≦(T1/D1)/(T2/D2)≦3.9
T2≦39.4nm
の両方を充足する。
【0010】
本開示のインダクタは、上述の磁性体を備えている。
【発明の効果】
(【0011】以降は省略されています)
この特許をJ-PlatPat(特許庁公式サイト)で参照する
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