TOP
|
特許
|
意匠
|
商標
特許ウォッチ
Twitter
他の特許を見る
10個以上の画像は省略されています。
公開番号
2024154532
公報種別
公開特許公報(A)
公開日
2024-10-31
出願番号
2023068381
出願日
2023-04-19
発明の名称
分光イメージングセンサ
出願人
株式会社日立製作所
代理人
弁理士法人平木国際特許事務所
主分類
G01J
3/12 20060101AFI20241024BHJP(測定;試験)
要約
【課題】複雑な広帯域スペクトルを有する入射光を精度よく再構成することができる分光イメージングセンサを提供する。
【解決手段】本発明に係る分光イメージングセンサは、複素誘電率の虚部が互いに異なる第1および第2層によって構成された光フィルタユニットを備え、各層を貫通する第1および第2孔の平面形状プロファイルは互いに異なる。
【選択図】図2A
特許請求の範囲
【請求項1】
分光法を用いて入射光を検出する分光イメージングセンサであって、
前記入射光をフィルタリングする光フィルタユニット、
前記光フィルタユニットによってフィルタリングされた前記入射光を検出するイメージセンサ、
を備え、
前記光フィルタユニットは、第1層と第2層とを備え、
前記第1層は、第1虚部を有する第1複素誘電率を有し、
前記第2層は、前記第1虚部とは異なる第2虚部を有する第2複素誘電率を有し、
前記光フィルタユニットはさらに、それぞれ前記光フィルタユニットを貫通する第1孔と第2孔とを備え、
前記第1孔は、第1平面形状プロファイルを有し、
前記第2孔は、前記第1平面形状プロファイルとは異なる第2平面形状プロファイルを有する
ことを特徴とする分光イメージングセンサ。
続きを表示(約 1,800 文字)
【請求項2】
前記第1層は、前記第1虚部が0.01未満の誘電材料で形成されており、
前記第2層は、前記第2虚部が0.01より大きい半導体材料で形成されている
ことを特徴とする請求項1記載の分光イメージングセンサ。
【請求項3】
前記光フィルタユニットはさらに、前記第1層と前記第2層を支持する支持層を備え、
前記第1層は前記第2層上に配置され、
前記第1層または前記第2層のうちいずれか一方は前記支持層と直接接触している
ことを特徴とする請求項1記載の分光イメージングセンサ。
【請求項4】
前記光フィルタユニットは、前記イメージセンサの第1画素に対応する第1フィルタと、前記イメージセンサの第2画素に対応する第2フィルタとを備え、
前記第1フィルタは、前記入射光を第1スペクトル特性で通過させ、
前記第2フィルタは、前記入射光を第2スペクトル特性で通過させ、
前記第1フィルタと前記第2フィルタは、前記第1虚部、前記第2虚部、前記第1平面形状プロファイル、および前記第2平面形状プロファイルによって、前記第1スペクトル特性と前記第2スペクトル特性との間の相関が0.1未満となるように構成されている
ことを特徴とする請求項1記載の分光イメージングセンサ。
【請求項5】
前記第1層は第1厚さを有し、
前記第2層は第2厚さを有し、
前記光フィルタユニットは、前記イメージセンサの第1画素に対応する第1フィルタと、前記イメージセンサの第2画素に対応する第2フィルタとを備え、
前記第1フィルタは、前記入射光を第1スペクトル特性で通過させ、
前記第2フィルタは、前記入射光を第2スペクトル特性で通過させ、
前記第1厚さと前記第2厚さは、前記第1スペクトル特性と前記第2スペクトル特性との間の相関が0.1未満となるように構成されている
ことを特徴とする請求項1記載の分光イメージングセンサ。
【請求項6】
前記第1平面形状プロファイルは、第1開口形状を有し、
前記第2平面形状プロファイルは、前記第1開口形状とは異なる第2開口形状を有する
ことを特徴とする請求項1記載の分光イメージングセンサ。
【請求項7】
前記分光イメージングセンサは、複数の前記第1孔と複数の前記第2孔とを備え、
前記第1平面形状プロファイルは、前記第1孔間の間隔が第1間隔となるように構成されており、
前記第2平面形状プロファイルは、前記第2孔間の間隔が第2間隔となるように構成されており、
前記第2間隔は前記第1間隔とは異なる
ことを特徴とする請求項1記載の分光イメージングセンサ。
【請求項8】
前記分光イメージングセンサはさらに、前記イメージセンサからの出力にしたがって前記入射光のスペクトルプロファイルを再構成するように構成されたプロセッサを備える
ことを特徴とする請求項1記載の分光イメージングセンサ。
【請求項9】
前記光フィルタユニットはさらに第3層を備え、
前記第3層は、
前記第3層の厚さが、前記第1層の厚さまたは前記第2層の厚さのうち少なくともいずれかとは異なる、
前記第3層の複素誘電率の第3虚部が、前記第1虚部または前記第2虚部のうち少なくともいずれかとは異なる、
前記第3層の材料が、前記第1層の材料または前記第2層の材料のうち少なくともいずれかとは異なる、
のうち少なくともいずれかとなるように構成されている
ことを特徴とする請求項1記載の分光イメージングセンサ。
【請求項10】
前記分光イメージングセンサはさらに、
非透明層、
前記光フィルタユニットと前記非透明層との間に配置された薄膜、
を備え、
前記非透明層の一部は、前記薄膜に向かって凹んだ部分を有することにより、前記入射光が前記第1孔と前記第2孔を通過するとともに前記薄膜を透過して前記非透明層の外側に向かうように構成されている
ことを特徴とする請求項1記載の分光イメージングセンサ。
(【請求項11】以降は省略されています)
発明の詳細な説明
【技術分野】
【0001】
本発明は、分光イメージングセンサに関する。
続きを表示(約 1,900 文字)
【背景技術】
【0002】
従来の回折格子を用いた分光計は、良好なスペクトル分解能を提供するために長い光路を必要とする。このような長い光路は、分光計を小型化するに際して制約となり、例えば携帯型分光計を製造する際の妨げとなる。
【0003】
近年、いくつかのオンチップ光学フィルタユニットを使用するとともに圧縮センシング技術を利用して、入射スペクトル信号を再構成することができる、光学フィルタベースの小型分光計が開発されている。しかしながら、そのような小型分光計は、いくつかの要件を満たす必要がある。例えば以下のような要件が考えられる。各光学フィルタユニットのスペクトル特性間の相関が可能な限り低くあるべきである。フィルタにおける入射スペクトル信号の反射および吸収は、より良好な信号対雑音比を保証するために、より少なくあるべきである。光学フィルタ構造の設計は、既存のウエハレベルの大規模製造プロセスと互換性があるべきである。
【0004】
特許文献1は、この分野に関連する先行技術であり、入射スペクトル信号を再構成するために、単層からなる光学フィルタ構造を使用してコンパクトな分光計を実現する。このデバイスは、スペクトルのピーク値がごく少数であるような狭帯域スペクトル信号を感知することができるが、多数のスペクトルピーク値を有する複雑な広帯域スペクトル信号を感知することは困難である。
【先行技術文献】
【特許文献】
【0005】
US2022/0178748A1
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【0006】
現在、光学フィルタベースのコンパクト分光計は、広帯域スペクトルおよび他の複雑なスペクトルを再構成する能力が限られている。さらに、構成材料の光学特性の制約のために、スペクトル範囲に依存して、複雑なスペクトルを再構成するときの光学分解能には制限がある。上述のように、小型分光計が備える光学フィルタは、固有かつ多様な光透過特性を有するべきである。しかし、単層(誘電体または半導体材料)ベースの従来の光学フィルタは、多様なスペクトルを生成することが困難であり、したがって従来の小型分光計は信号再構成能力に限界がある。
【0007】
本発明は、上記のような課題に鑑みなされたものであり、複雑な広帯域スペクトルを有する入射光を精度よく再構成することができる分光イメージングセンサを提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【0008】
本発明に係る分光イメージングセンサは、複素誘電率の虚部が互いに異なる第1および第2層によって構成された光フィルタユニットを備え、各層を貫通する第1および第2孔の平面形状プロファイルは互いに異なる。
【発明の効果】
【0009】
本発明に係る分光イメージングセンサによれば、複雑な広帯域スペクトルを有する入射光を精度よく再構成することができる。本発明のその他の課題、構成、利点などについては、以下の実施形態の説明によって明らかとなる。
【図面の簡単な説明】
【0010】
実施形態1に係る分光イメージングセンサが備える光学フィルタユニット1の構造を示す側面図である。
実施形態1に係る分光イメージングセンサが備える光学フィルタユニット1の構造を示す側面図である。
光学フィルタユニット1を画像センサユニット2に対して取り付ける方法を示す。
光学フィルタユニット1を画像センサユニット2に対して取り付ける方法を示す。
光学フィルタユニット1が提供するスペクトル特性を説明する図である。
バックグラウンド信号がゼロではないマルチバンド信号を再構成した例を示す。
広帯域信号のスペクトルを再構成した例を示す。
光学フィルタユニット1の光学材料層の別構成例を示す。
実施形態2に係る光学フィルタユニット1が備えるナノホール13のパターンアレイの例を示す平面図である。
光学フィルタユニット1と画像センサユニット2のピクセルとの間の関係を示す模式図である。
実施形態3に係る光学フィルタユニット1の構成例を示す側面図である。
実施形態3に係る光学フィルタユニット1の構成例を示す側面図である。
実施形態3に係る光学フィルタユニット1の構成例を示す側面図である。
実施形態4に係る光学フィルタユニット1のアプリケーション例を示す模式図である。
【発明を実施するための形態】
(【0011】以降は省略されています)
この特許をJ-PlatPatで参照する
関連特許
日本精機株式会社
検出装置
3日前
スガ試験機株式会社
環境試験機
26日前
株式会社高橋型精
採尿具
24日前
株式会社小野測器
測定器
4日前
株式会社チノー
気体流量調整機構
1か月前
株式会社チノー
気体流量調整機構
1か月前
株式会社トプコン
測量装置
1か月前
株式会社アトラス
計量容器
1か月前
株式会社トプコン
測量装置
1か月前
日本精機株式会社
補助計器システム
18日前
アルファクス株式会社
積層プローブ
16日前
中国電力株式会社
短絡防止具
16日前
株式会社トプコン
測量システム
1か月前
大成建設株式会社
風力測定装置
3日前
キヤノン電子株式会社
サーボ加速度計
16日前
株式会社関電工
内径測定装置。
24日前
積水樹脂株式会社
建築物用浸水測定装置
1か月前
リンナイ株式会社
電気機器
3日前
株式会社精工技研
光電圧プローブ
3日前
日本特殊陶業株式会社
ガスセンサ
26日前
倉敷紡績株式会社
フィルム測定装置
24日前
上海海事大学
河川水位監視システム
1か月前
トヨタ自動車株式会社
校正システム
1か月前
個人
レーザ距離計の計測用フォルダ
1か月前
Igr技研株式会社
Igr測定装置
3日前
ミツミ電機株式会社
流体センサ
24日前
株式会社XMAT
測定装置および方法
24日前
三菱電機株式会社
絶縁検査装置
1か月前
株式会社共和電業
物理量検出用変換器
3日前
TDK株式会社
磁気検出システム
1か月前
エスペック株式会社
高電圧試験装置
16日前
マシンビジョンライティング株式会社
撮像レンズ
1か月前
株式会社SUBARU
ナビゲーション装置
1か月前
豊田合成株式会社
センサの冷却構造
1か月前
住友金属鉱山株式会社
金属異物の評価方法
16日前
株式会社島津製作所
分析装置
1か月前
続きを見る
他の特許を見る