TOP特許意匠商標
特許ウォッチ Twitter
10個以上の画像は省略されています。
公開番号2024106718
公報種別公開特許公報(A)
公開日2024-08-08
出願番号2023011125
出願日2023-01-27
発明の名称粒子計測装置
出願人オムロン株式会社
代理人個人
主分類G01N 15/0227 20240101AFI20240801BHJP(測定;試験)
要約【課題】粒子の大きさおよび材質を判別することができると共に、装置サイズの小さい粒子計測装置を提供する。
【解決手段】検知領域(42)に向けて照射光を発する発光部(25)と、検知領域(42)を通過した通過光を検出する受光部(26)と、受光部(26)による受光量に時間変化が生じた場合に、該時間変化中の受光量の大きさに基づいて、検知領域(42)を自由落下により通過した粒子の大きさを判別するとともに、該時間変化の期間の長さに基づいて、粒子の材質を判別する制御部(27)と、を備えるように構成する。
【選択図】図2
特許請求の範囲【請求項1】
検知領域に向けて照射光を発する発光部と、
前記検知領域を通過した通過光を検出する受光部と、
前記受光部による受光量に時間変化が生じた場合に、該時間変化中の受光量の大きさに基づいて、前記検知領域を自由落下により通過した粒子の大きさを判別するとともに、該時間変化の期間の長さに基づいて、前記粒子の材質を判別する制御部と、を備える粒子計測装置。
続きを表示(約 660 文字)【請求項2】
前記受光部に入射する光の一部を通過させるスリットが設けられたスリット部材をさらに備え、
前記スリット部材は、前記スリットの長手方向が水平方向となるように配置される、請求項1に記載の粒子計測装置。
【請求項3】
前記発光部から出射された光をコリメート光に変換し、前記検知領域に照射するコリメートレンズをさらに備える、請求項1に記載の粒子計測装置。
【請求項4】
前記制御部は、前記受光部からの出力信号に所定値以上の時間変化が生じた場合に、該時間変化内での該出力信号の最小値を検出し、該最小値に基づいて前記粒子の大きさを判別する、請求項1に記載の粒子計測装置。
【請求項5】
前記制御部は、前記受光部からの出力信号に所定値以上の時間変化が生じた場合に、該時間変化内での該出力信号の受光量低下時の所定値におけるパルス幅を検出し、該パルス幅に基づいて前記粒子の材質を判別する、請求項1に記載の粒子計測装置。
【請求項6】
前記制御部は、予め設定された期間における前記粒子の大きさの範囲毎および前記粒子の材質の種別毎の粒子検知数を、通信部に出力するまたは表示部に表示する制御を行う、請求項1に記載の粒子計測装置。
【請求項7】
前記発光部からの光を導光して検知領域に向けて照射する、および、前記受光部に対して前記通過光を導光する、の少なくともいずれか一方を行う光ファイバを備える、請求項1に記載の粒子計測装置。

発明の詳細な説明【技術分野】
【0001】
本発明は、粒子計測装置に関する。
続きを表示(約 1,400 文字)【背景技術】
【0002】
近年、微粒子等を検出する技術に関し、種々提案されている。例えば、下記特許文献1に記載される粒子計数装置では、粒子をフローセルに導き、通過する流路中にレーザ光を照射する。そして、計測部は、粒子によって散乱された拡散光を受光することで粒子を検出する。また、計測部は、拡散光の拡散光量によって粒径を区分し、粒径区分ごとの粒子数をカウントするように構成されている。
【先行技術文献】
【特許文献】
【0003】
特開2009-30988号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【0004】
しかしながら、上述の光拡散方式は、粒子の拡散反射光量でサイズを判定するため、粒子反射率によってはサイズ判別性能が低下する。また、上述の粒子数計数装置では、粒子の材質の判別ができない。更に、粗大粒子は、空中に浮遊しにくく落下するため、検出部は、粒子の落下位置に置く必要がある。また、フローセルに粒子の流路を持つ構成は吸入ポンプなどの吸入機構が必要なため、装置のサイズが大きくなり、粒子の落下位置の空間が狭いと置けないという問題がある。
【0005】
本発明は、一側面では、このような問題点を鑑みてなされたものであり、粒子の大きさおよび材質を判別することができると共に、装置サイズの小さい粒子計測装置を提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【0006】
本発明は、上述した課題を解決するために、以下の構成を採用する。
【0007】
すなわち、本発明の一側面に係る粒子計測装置は、検知領域に向けて照射光を発する発光部と、前記検知領域を通過した通過光を検出する受光部と、前記受光部による受光量に時間変化が生じた場合に、該時間変化中の受光量の大きさに基づいて、前記検知領域を自由落下により通過した粒子の大きさを判別するとともに、該時間変化の期間の長さに基づいて、前記粒子の材質を判別する制御部と、を備える。
【0008】
上記の構成によれば、検知領域を通過した粒子の検出は、該検知領域を通過した通過光の受光量によって行われる。よって、光拡散方式の場合に生じていた、粒子の反射率によって受光量が変化するという問題を解消することができる。
【0009】
また、粒子の反射率の影響を受けないことにより、受光部による受光量の値は、粒子の大きさに応じて変動することになる。さらに、粒子の落下速度は、粒子の比重と大きさに応じて変動するので、受光量の時間変化の期間の長さに基づいて粒子の材質を判別することができる。すなわち、上記の構成によれば、受光量の時間変化に基づいて、粒子の大きさおよび材質を正確に判定することができる。また、自由落下する粒子を検知するので、吸入ポンプなどの装置を不要とすることができる。よって、装置サイズの小さい粒子計測装置を提供することができる。
【0010】
上記一側面に係る粒子計測装置において、前記受光部に入射する光の一部を通過させるスリットが設けられたスリット部材をさらに備え、前記スリット部材は、前記スリットの長手方向が水平方向となるように配置されるようにしてもよい。
(【0011】以降は省略されています)

この特許をJ-PlatPatで参照する
Flag Counter

関連特許

甲神電機株式会社
電流センサ
17日前
株式会社小野測器
測定器
20日前
株式会社小野測器
検出器
20日前
アズビル株式会社
調節計
20日前
アズビル株式会社
差圧計
15日前
アズビル株式会社
差圧計
14日前
株式会社チノー
気体流量調整機構
9日前
大和製衡株式会社
組合せ秤
14日前
株式会社トプコン
測量装置
20日前
株式会社チノー
気体流量調整機構
9日前
株式会社トプコン
測量装置
7日前
株式会社アトラス
計量容器
6日前
株式会社ミツトヨ
変位測定器
14日前
アズビル株式会社
圧力センサ
14日前
日本碍子株式会社
ガスセンサ
20日前
アズビル株式会社
圧力センサ
9日前
株式会社カネカ
検出システム
20日前
アズビル株式会社
圧力センサ
9日前
エイブリック株式会社
電流検出回路。
20日前
株式会社島津製作所
分光光度計
9日前
株式会社ナリス化粧品
肌状態推定方法
20日前
株式会社トプコン
測量システム
今日
日本碍子株式会社
ガスセンサ素子
20日前
東レ株式会社
選択結合性物質固定化担体
14日前
日本碍子株式会社
ガスセンサ素子
20日前
エスペック株式会社
環境形成装置
14日前
日本碍子株式会社
ガスセンサ素子
15日前
上海海事大学
河川水位監視システム
7日前
個人
レーザ距離計の計測用フォルダ
8日前
日本碍子株式会社
センサ素子
15日前
日本碍子株式会社
センサ素子
15日前
トヨタ自動車株式会社
校正システム
今日
株式会社島津製作所
熱分析システム
9日前
マレリ株式会社
推定装置
13日前
セコム株式会社
適応装置
15日前
ローム株式会社
半導体集積回路
13日前
続きを見る