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公開番号2025113169
公報種別公開特許公報(A)
公開日2025-08-01
出願番号2024212136
出願日2024-12-05
発明の名称偏光感受型光干渉断層撮影装置
出願人ダイキン工業株式会社
代理人弁理士法人WisePlus
主分類G01N 21/17 20060101AFI20250725BHJP(測定;試験)
要約【課題】試料の偏光特性がよりよく反映された断層画像を取得することが可能な偏光感受型光干渉断層撮影装置を提供する。
【解決手段】試料に照射された測定光の反射光と、参照用の参照光との干渉光から前記試料の偏光特性を表す信号を取得する偏光感受型光干渉断層撮影装置であって、
前記参照光の光路上に対向配置された2つの参照光用コリメータを備え、
前記参照光用コリメータにより前記参照光の光路長を調整する偏光感受型光干渉断層撮影装置。
【選択図】図1
特許請求の範囲【請求項１】
試料に照射された測定光の反射光と、参照用の参照光との干渉光から前記試料の偏光特性を表す信号を取得する偏光感受型光干渉断層撮影装置であって、
前記参照光の光路上に対向配置された２つの参照光用コリメータを備え、
前記参照光用コリメータにより前記参照光の光路長を調整する偏光感受型光干渉断層撮影装置。
続きを表示（約 1,100 文字）【請求項２】
前記試料に照射する測定光の光路上に、前記測定光の偏光状態を調整する偏光制御素子を備える請求項１記載の偏光感受型光干渉断層撮影装置。
【請求項３】
光源からの光を、前記試料に照射する測定光と前記参照光とに分割するカプラ（１）を備え、前記測定光と前記参照光との強度比が６０：４０～９５：５である請求項１又は２記載の偏光感受型光干渉断層撮影装置。
【請求項４】
前記干渉光を垂直偏光成分と水平偏光成分とに分割する偏光ビームスプリッタ、前記垂直偏光成分を検出する垂直偏光感受型検出器、及び、前記水平偏光成分を検出する水平偏光感受型検出器を備える請求項１又は２記載の偏光感受型光干渉断層撮影装置。
【請求項５】
光源からの光として、９５０～１４００ｎｍの範囲に中心波長を有する光を用いる請求項１又は２記載の偏光感受型光干渉断層撮影装置。
【請求項６】
波長掃引光源を備え、前記波長掃引光源からの光の波長掃引幅が１００～２００ｎｍであり、繰り返し走査周波数が３０～１２０ｋＨｚである請求項１又は２記載の偏光感受型光干渉断層撮影装置。
【請求項７】
使用者が対物レンズを備える部分を携帯しながら断層撮影を行うことが可能なように構成されている請求項１又は２記載の偏光感受型光干渉断層撮影装置。
【請求項８】
試料の偏光軸に合わせて前記干渉光の垂直偏光成分及び水平偏光成分を取得することが可能なように構成されている請求項１又は２記載の偏光感受型光干渉断層撮影装置。
【請求項９】
焦点距離が可変である焦点可変レンズを備える請求項１又は２記載の偏光感受型光干渉断層撮影装置。
【請求項１０】
前記偏光感受型光干渉断層撮影装置は、前記参照光の光路上に、前記参照光用コリメータを有する光路長調整モジュールと、
前記測定光の反射光と前記参照光とを合波するカプラ（２）と、
前記測定光を平行光に変換する測定光用コリメータと、
前記試料に照射される測定光を走査する走査ミラーとを備え、
前記カプラ（１）と前記参照光用コリメータとの間の光路上に偏光制御素子を備えておらず、
前記２つの参照光用コリメータは、略一直線上に位置するように対向配置され、
前記参照光用コリメータは、角度及び／又は位置が可変であり、
前記光路長調整モジュールは、前記参照光用コリメータをそれぞれ保持する保持部材を備え、
前記保持部材は、前記参照光用コリメータの角度及び／又は位置の調整が可能なものである請求項３記載の偏光感受型光干渉断層撮影装置。
（【請求項１１】以降は省略されています）
発明の詳細な説明【技術分野】
【０００１】
本開示は、偏光感受型光干渉断層撮影装置に関する。
続きを表示（約 1,000 文字）【背景技術】
【０００２】
光干渉断層撮影法（ＯｐｔｉｃａｌＣｏｈｅｒｅｎｃｅＴｏｍｏｇｒａｐｈｙ：ＯＣＴ）は、主に、医療分野において眼球等の生体器官の断層撮影に用いられている。
【０００３】
特許文献１には、測定光側ファイバー、参照光側ファイバー、検出器側ファイバーの各々に偏光制御器が配置された偏光ＯＣＴ装置が記載されている。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００４】
特開２０１５－１３０９７４号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００５】
本開示は、試料の偏光特性がよりよく反映された断層画像を取得することが可能な偏光感受型光干渉断層撮影装置を提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【０００６】
本開示（１）は、試料に照射された測定光の反射光と、参照用の参照光との干渉光から前記試料の偏光特性を表す信号を取得する偏光感受型光干渉断層撮影装置であって、
前記参照光の光路上に対向配置された２つの参照光用コリメータを備え、
前記参照光用コリメータにより前記参照光の光路長を調整する偏光感受型光干渉断層撮影装置である。
【０００７】
本開示（２）は、前記試料に照射する測定光の光路上に、前記測定光の偏光状態を調整する偏光制御素子を備える本開示（１）記載の偏光感受型光干渉断層撮影装置である。
【０００８】
本開示（３）は、光源からの光を、前記試料に照射する測定光と前記参照光とに分割するカプラ（１）を備え、前記測定光と前記参照光との強度比が６０：４０～９５：５である本開示（１）又は（２）記載の偏光感受型光干渉断層撮影装置である。
【０００９】
本開示（４）は、前記干渉光を垂直偏光成分と水平偏光成分とに分割する偏光ビームスプリッタ、前記垂直偏光成分を検出する垂直偏光感受型検出器、及び、前記水平偏光成分を検出する水平偏光感受型検出器を備える本開示（１）～（３）のいずれかとの任意の組合せの偏光感受型光干渉断層撮影装置である。
【００１０】
本開示（５）は、光源からの光として、９５０～１４００ｎｍの範囲に中心波長を有する光を用いる本開示（１）～（４）のいずれかとの任意の組合せの偏光感受型光干渉断層撮影装置である。
（【００１１】以降は省略されています）

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