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公開番号2025130515
公報種別公開特許公報(A)
公開日2025-09-08
出願番号2024027736
出願日2024-02-27
発明の名称外観検査方法、及び、外観検査システム
出願人TDK株式会社
代理人個人,個人,個人
主分類G01N 21/95 20060101AFI20250901BHJP(測定;試験)
要約【課題】生産スループットが確保されながら、めっき層の状態の判定精度が向上され得る外観検査方法を提供する。
【解決手段】外観検査方法は、RGB画像データを取得することと、RGB画像データを、HLS色空間のL成分及びS成分の少なくとも一方を示す分布データに変換することと、電子部品の外部端子について、分布データからマハラノビス距離を演算することと、電子部品の外部端子のマハラノビス距離に基づいて、外部端子におけるめっき層の状態を判定することと、を有している。RGB画像データは、電子部品の外部端子を示している。
【選択図】図1

特許請求の範囲【請求項１】
電子部品の外部端子を示すＲＧＢ画像データを取得することと、
前記ＲＧＢ画像データを、ＨＬＳ色空間のＬ成分及びＳ成分の少なくとも一方を示す分布データに変換することと、
前記電子部品の外部端子について、前記分布データからマハラノビス距離を演算することと、
前記電子部品の外部端子に関する前記マハラノビス距離に基づいて、前記外部端子におけるめっき層の状態を判定することと、を有している、外観検査方法。
続きを表示（約 1,200 文字）【請求項２】
めっき層の状態が正常な第１外部端子と、めっき層の状態が異常な第２外部端子とを示す複数のサンプルＲＧＢ画像データを取得することと、
前記複数のサンプルＲＧＢ画像データを、ＨＬＳ色空間のＬ成分を示す第１サンプル分布データと、ＨＬＳ色空間のＳ成分を示す第２サンプル分布データとに変換することと、
前記第１外部端子と前記第２外部端子とのそれぞれについて、前記第１サンプル分布データからマハラノビス距離を演算し、前記第２サンプル分布データからマハラノビス距離とを演算することと、
前記第１サンプル分布データに関するマハラノビス距離と、前記第２サンプル分布データに関するマハラノビス距離とに基づいて、前記Ｌ成分と前記Ｓ成分とのいずれかを選定することと、をさらに有しており、
前記分布データの変換において、前記ＲＧＢ画像データは、前記Ｌ成分と前記Ｓ成分とのうち選定された成分を示す分布データに変換され、
前記分布データに関するマハラノビス距離の演算において、前記選定された成分を示す分布データに関するマハラノビス距離が前記電子部品の外部端子に対して演算され、
前記めっき層の状態の判定において、前記選定された成分を示す分布データに関するマハラノビス距離に基づいて、前記外部端子におけるめっき層の状態が判定される、請求項１に記載の外観検査方法。
【請求項３】
前記めっき層の状態の判定において、前記電子部品の前記マハラノビス距離と閾値との比較結果によって、前記めっき層の状態を判定する、請求項１に記載の外観検査方法。
【請求項４】
めっき層の状態が正常な第１外部端子と、めっき層の状態が異常な第２外部端子とを示す複数のサンプルＲＧＢ画像データを取得することと、
ＨＬＳ色空間のＬ成分及びＳ成分の少なくとも一方を示すサンプル分布データに変換することと、
前記第１外部端子と前記第２外部端子とのそれぞれについて、前記サンプル分布データからマハラノビス距離を演算することと、
前記第１外部端子と前記第２外部端子との各々における前記マハラノビス距離に基づいて、前記閾値を決定することと、さらに有している、請求項３に記載の外観検査方法。
【請求項５】
前記めっき層は、スズを含んでいる、請求項１から４のいずれか一項に記載の外観検査方法。
【請求項６】
電子部品の外部端子を示すＲＧＢ画像データを取得する取得部と、
前記ＲＧＢ画像データを、ＨＬＳ色空間のＬ成分及びＳ成分の少なくとも一方を示す分布データに変換する変換部と、
前記電子部品の外部端子について、前記分布データからマハラノビス距離を演算する演算部と、
前記電子部品の外部端子に関する前記マハラノビス距離に基づいて、前記外部端子におけるめっき層の状態を判定する判定部と、を備えている、外観検査システム。

発明の詳細な説明【技術分野】
【０００１】
本発明は、外観検査方法、及び、外観検査システムに関する。
続きを表示（約 1,900 文字）【背景技術】
【０００２】
外部端子にめっき層が設けられた電子部品が知られている（たとえば、特許文献１）。このような電子部品には、外部端子におけるめっき層の状態の検査が想定される。たとえば、外部端子におけるめっき層の状態を外観検査によって判定することが考えられている。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００３】
特開２０１０－２３０５１４号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００４】
Ｘ線を用いた膜厚測定によって外部端子のめっき層の状態を検査する場合、一つの電子部品に対する検査に多大な時間を要する。このため、この検査では、めっき層の信頼性を確保しながら、生産スループットの確保が困難である。
【０００５】
カメラによる外観の撮像によって、人の目又は機械的にめっき層の状態を検査することも考えられる。しかしながら、外観検査では差別化が困難な場合もある。たとえば、ニッケルめっき層上にスズめっき層が設けられる場合、ＲＧＢ画像によるスズめっき層の状態の判定は困難である。
【０００６】
本発明の一つの態様は、生産スループットが確保されながら、めっき層の状態の判定精度が確保され得る外観検査方法、及び、外観検査システムを提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【０００７】
本発明の一つの態様における外観検査方法は、ＲＧＢ画像データを取得することと、ＲＧＢ画像データを、ＨＬＳ色空間のＬ成分及びＳ成分の少なくとも一方を示す分布データに変換することと、電子部品の外部端子について、分布データからマハラノビス距離を演算することと、電子部品の外部端子のマハラノビス距離に基づいて、外部端子におけるめっき層の状態を判定することと、を有している。ＲＧＢ画像データは、電子部品の外部端子を示している。
【０００８】
この外観検査方法において、ＲＧＢ画像データがＨＬＳ色空間のＬ成分及びＳ成分の少なくとも一方を示す分布データに変換され、分布データに関するマハラノビス距離に基づいてめっき層の状態が判定される。本発明者は鋭意研究の結果、当該外観検査方法であれば、めっき層の状態の判定精度が確保されることを見出した。この外観検査方法によれば、生産スループットが確保されながら、めっき層の状態の判定精度が確保され得る。
【０００９】
上記一つの態様では、複数のサンプルＲＧＢ画像データを取得することと、複数のサンプルＲＧＢ画像データを、第１サンプル分布データと第２サンプル分布データとに変換することと、第１外部端子と第２外部端子について、第１サンプル分布データからマハラノビス距離を演算し、第２サンプル分布データからマハラノビス距離を演算することと、第１サンプル分布データに関するマハラノビス距離と第２サンプル分布データに関するマハラノビス距離とに基づいて、Ｌ成分とＳ成分とのいずれかを選定することと、をさらに有していてもよい。複数のサンプルＲＧＢ画像データは、めっき層の状態が正常な第１外部端子とめっき層の状態が異常な第２外部端子とを示している。第１サンプル分布データは、ＨＬＳ色空間のＬ成分を示している。第２サンプル分布データは、ＨＬＳ色空間のＳ成分を示している。分布データの変換において、ＲＧＢ画像データは、Ｌ成分とＳ成分とのうち選定された成分を示す分布データに変換されてもよい。分布データに関するマハラノビス距離の演算において、選定された成分を示す分布データに関するマハラノビス距離が電子部品の外部端子に対して演算されてもよい。めっき層の状態の判定において、選定された成分に示す分布データに関するマハラノビス距離に基づいて、外部端子におけるめっき層の状態が判定されてもよい。本発明者は、鋭意研究の結果、Ｌ成分とＳ成分とのうち検査精度が確保される成分は、たとえば電子部品の種別に応じて異なることを見出した。上記方法によれば、Ｌ成分とＳ成分とのうち検査精度が高い成分が外観検査に用いられ得る。したがって、演算処理が抑制されながら、めっき層の状態の判定精度が確保され得る。
【００１０】
上記一つの態様では、めっき層の状態の判定において、電子部品のマハラノビス距離と閾値との比較結果によって、めっき層の状態が判定されてもよい。この場合、演算量が低減されながら、めっき層の状態の判定精度が確保され得る。
（【００１１】以降は省略されています）

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