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公開番号2025128126
公報種別公開特許公報(A)
公開日2025-09-02
出願番号2025081155,2024102749
出願日2025-05-14,2010-05-24
発明の名称表示装置
出願人株式会社半導体エネルギー研究所
代理人
主分類H10D 30/01 20250101AFI20250826BHJP()
要約【課題】酸化物半導体膜を用いる薄膜トランジスタ(TFT)のゲート電圧が0Vにできるだけ近い正のしきい値電圧でチャネルが形成される構造を実現し、また、しきい値のバラツキの低減し、電気特性の劣化を防止し、TFTがノーマリーオン側にシフトすることを低減し、望ましくはシフトをなくす半導体装置及びその作製方法を提供する。
【解決手段】薄膜トランジスタの作製工程において、大気に触れることなくゲート絶縁膜102と、酸化物半導体層(IGZO半導体層105)と、チャネル保護膜106との三層を、スパッタ法により連続成膜を行う。酸化物半導体層の成膜は、酸素が流量比で50%以上100%以下含まれる雰囲気中で行う。また、酸化物半導体層のチャネル形成領域の上層及び下層が、窒素含有量が3原子%以上30原子%以下の酸化窒化珪素膜である。
【選択図】図1
特許請求の範囲【請求項1】
絶縁表面を有する基板の上方にゲート電極を形成し、
前記ゲート電極の上方に、窒素を3原子%以上30原子%以下含む第1の酸化窒化珪素膜を形成し、
前記第1の酸化窒化珪素膜の上方に、酸素を50%以上100%以下含む雰囲気中で酸化物半導体層を形成し、
前記酸化物半導体層の上方に、窒素を3原子%以上30原子%以下含む第2の酸化窒化珪素膜を形成し、
前記第2の酸化窒化珪素膜を選択的にエッチングして保護膜を形成し、
前記保護膜をマスクとして前記酸化物半導体層を選択的にエッチングして島状の半導体層を形成し、
前記保護膜を選択的にエッチングして開口を形成し、
前記保護膜の上方に、前記島状の半導体層と電気的に接続する導電層を形成する半導体装置の作製方法。

発明の詳細な説明【技術分野】
【0001】
本発明はチャネル形成領域に酸化物半導体膜を用いた薄膜トランジスタ(以下、TFTと
いう)で構成された回路を有する半導体装置及びその作製方法に関する。例えば、液晶表
示パネルに代表される電気光学装置や有機発光素子を有する発光表示装置を部品として搭
載した電子機器に関する。
続きを表示(約 2,300 文字)【0002】
なお、本明細書中において半導体装置とは、半導体特性を利用することで機能しうる装置
全般を指し、電気光学装置、半導体回路及び電子機器は全て半導体装置である。
【背景技術】
【0003】
金属酸化物は多様に存在しさまざまな用途に用いられている。酸化インジウムはよく知ら
れた材料であり、液晶ディスプレイ等で必要とされる透光性を有する電極材料として用い
られている。
【0004】
金属酸化物の中には半導体特性を示すものがある。半導体特性を示す金属酸化物としては
、例えば、酸化タングステン、酸化錫、酸化インジウム、酸化亜鉛等があり、このような
半導体特性を示す金属酸化物をチャネル形成領域とする薄膜トランジスタが既に知られて
いる(特許文献1乃至4、非特許文献1)。
【0005】
ところで、金属酸化物は一元系酸化物のみでなく多元系酸化物も知られている。例えば、
ホモロガス相を有するInGaO

(ZnO)

(m:自然数)は、In、Ga及びZn
を有する多元系酸化物半導体として知られている(非特許文献2乃至4)。
【0006】
そして、上記のようなIn-Ga-Zn系酸化物で構成される酸化物半導体を薄膜トラン
ジスタのチャネル層として適用可能であることが確認されている(特許文献5、非特許文
献5及び6)。
【先行技術文献】
【特許文献】
【0007】
特開昭60-198861号公報
特開平8-264794号公報
特表平11-505377号公報
特開2000-150900号公報
特開2004-103957号公報
【非特許文献】
【0008】
M. W. Prins, K. O. Grosse-Holz, G. Muller, J. F. M. Cillessen, J. B. Giesbers, R. P. Weening, and R. M. Wolf、「A ferroelectric transparent thin-film transistor」、 Appl. Phys. Lett.、17 June 1996、 Vol.68 p.3650-3652
M. Nakamura, N. Kimizuka, and T. Mohri、「The Phase Relations in the In2O3-Ga2ZnO4-ZnO System at 1350℃」、J. Solid State Chem.、1991、Vol.93, p.298-315
N. Kimizuka, M. Isobe, and M. Nakamura、「Syntheses and Single-Crystal Data of Homologous Compounds, In2O3(ZnO)m(m=3,4, and 5), InGaO3(ZnO)3, and Ga2O3(ZnO)m(m=7,8,9, and 16) in the In2O3-ZnGa2O4-ZnO System」、 J. Solid State Chem.、1995、Vol.116, p.170-178
中村真佐樹、君塚昇、毛利尚彦、磯部光正、「ホモロガス相、InFeO3(ZnO)m(m:自然数)とその同型化合物の合成及び結晶構造」、固体物理、1993年、Vol.28、No.5、p.317-327
K. Nomura, H. Ohta, K. Ueda, T. Kamiya, M. Hirano, and H. Hosono、「Thin-film transistor fabricated in single-crystalline transparent oxide semiconductor」、SCIENCE、2003、Vol.300、p.1269-1272
K. Nomura, H. Ohta, A. Takagi, T. Kamiya, M. Hirano, and H. Hosono、「Room-temperature fabrication of transparent flexible thin-film transistors using amorphous oxide semiconductors」、NATURE、2004、Vol.432 p.488-492
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【0009】
酸化物半導体にチャネル形成領域を設ける薄膜トランジスタは、アモルファスシリコンを
用いた薄膜トランジスタよりも高い電界効果移動度が得られている。
【0010】
このような酸化物半導体を用いてガラス基板、プラスチック基板等に薄膜トランジスタを
形成し、液晶ディスプレイ、エレクトロルミネセンスディスプレイまたは電子ペーパー等
の表示装置への応用が期待されている。
(【0011】以降は省略されています)

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