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公開番号2025110685
公報種別公開特許公報(A)
公開日2025-07-29
出願番号2024004659
出願日2024-01-16
発明の名称半導体装置および機器
出願人キヤノン株式会社
代理人弁理士法人大塚国際特許事務所
主分類H10D 89/00 20250101AFI20250722BHJP()
要約【課題】個々のクロックラインのためのパワードメインを設けつつチップ面積の増大を抑制するために有利な技術を提供する。
【解決手段】半導体装置は、第1領域、第2領域および第3領域を有し、前記第3領域は、第1方向に延在し、かつ、前記第1方向に直交する第2方向において前記第1領域と前記第2領域との間に配置され、前記第3領域に、第1クロックを伝送する第1クロックラインおよび第2クロックを伝送する第2クロックラインが配置される。前記第3領域には、前記第1クロックラインのための複数の第1パワードメインと、前記第2クロックラインのための複数の第2パワードメインとが配置され、前記複数の第1パワードメインの各々には、前記第1クロックをバッファリングする第1バッファが配置され、前記複数の第2パワードメインの各々には、前記第2クロックをバッファリングする第2バッファが配置される。
【選択図】図1
特許請求の範囲【請求項1】
第1領域、第2領域および第3領域を有し、前記第3領域は、第1方向に延在し、かつ、前記第1方向に直交する第2方向において前記第1領域と前記第2領域との間に配置され、前記第3領域に、第1クロックを伝送する第1クロックラインおよび第2クロックを伝送する第2クロックラインが配置された半導体装置であって、
前記第3領域には、前記第1クロックラインのための複数の第1パワードメインと、前記第2クロックラインのための複数の第2パワードメインとが配置され、
前記複数の第1パワードメインの各々には、前記第1クロックをバッファリングする第1バッファが配置され、
前記複数の第2パワードメインの各々には、前記第2クロックをバッファリングする第2バッファが配置されている、
ことを特徴とする半導体装置。
続きを表示(約 1,200 文字)【請求項2】
前記第1方向において、前記複数の第1パワードメインおよび前記複数の第2パワードメインが交互に配置されている、
ことを特徴とする請求項1に記載の半導体装置。
【請求項3】
前記複数の第1パワードメインの少なくとも1つに配置された第1バッファは、前記第1領域に配置された回路および前記第2領域に配置された回路の少なくとも一方に前記第1クロックを供給する、
ことを特徴とする請求項1に記載の半導体装置。
【請求項4】
前記第3領域において、前記複数の第1パワードメインに第1パワーを供給する第1パワーラインが前記第1方向に沿って延在する、
ことを特徴とする請求項1に記載の半導体装置。
【請求項5】
前記第1領域に配置された回路および前記第2領域に配置された回路の少なくとも一方に対して、前記第1パワーラインから前記第1パワーが供給されるとともに前記複数の第1パワードメインの少なくとも1つに配置された第1バッファから前記第1クロックが供給される、
ことを特徴とする請求項4に記載の半導体装置。
【請求項6】
前記複数の第2パワードメインの少なくとも1つに配置された第2バッファは、前記第1領域に配置された回路および前記第2領域に配置された回路の少なくとも一方に前記第2クロックを供給する、
ことを特徴とする請求項3に記載の半導体装置。
【請求項7】
前記第3領域において、前記複数の第2パワードメインに第2パワーを供給する第2パワーラインが前記第1方向に沿って延在する、
ことを特徴とする請求項5に記載の半導体装置。
【請求項8】
前記第1領域に配置された回路および前記第2領域に配置された回路の少なくとも一方に対して、前記第2パワーラインから前記第2パワーが供給されるとともに前記複数の第2パワードメインの少なくとも1つに配置された第2バッファから前記第2クロックが供給される、
ことを特徴とする請求項7に記載の半導体装置。
【請求項9】
前記第1パワーラインは、前記複数の第1パワードメインの少なくとも1つおよび前記複数の第2パワードメインの少なくとも1つを通るように配置され、
前記第2パワーラインは、前記複数の第1パワードメインの少なくとも1つおよび前記複数の第2パワードメインの少なくとも1つを通るように配置されている、
ことを特徴とする請求項8に記載の半導体装置。
【請求項10】
前記第3領域には、前記第1領域に配置された回路および前記第2領域に配置された回路の少なくとも一方に第3パワーを供給する第3パワーラインが配置されている
ことを特徴とする請求項9に記載の半導体装置。
(【請求項11】以降は省略されています)

発明の詳細な説明【技術分野】
【0001】
本発明は、半導体装置および機器に関する。
続きを表示(約 2,100 文字)【背景技術】
【0002】
半導体装置において、信号処理回路が発生するノイズが電源配線を通して他の場所に配置されたクロックラインに伝達され、これによりクロックの品質が低下しうる。そこで、信号処理回路の電源とクロックラインとを分離するように複数のパワードメイン(電源領域)が配置されうる。本願との関連性は低いが、特許文献1には、複数のパワードメインと複数のハードマクロセルが配置されたレイアウトパターンが記載されている。
【先行技術文献】
【特許文献】
【0003】
特開2021-203632号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【0004】
クロックラインの全体を1つのパワードメイン内に配置すると、多くの面積リソースを必要とするので、他の回路のための領域を圧迫しうる。特に、複数のクロックラインのそれぞれを個別のパワードメイン内に配置する場合には、クロックラインの個数に応じた面積リソースが必要となり、チップ面積が増大しうる。
【0005】
本発明は、個々のクロックラインのためのパワードメインを設けつつチップ面積の増大を抑制するために有利な技術を提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【0006】
本発明の1つの側面は、半導体装置に係り、前記半導体装置は、第1領域、第2領域および第3領域を有し、前記第3領域は、第1方向に延在し、かつ、前記第1方向に直交する第2方向において前記第1領域と前記第2領域との間に配置され、前記第3領域に、第1クロックを伝送する第1クロックラインおよび第2クロックを伝送する第2クロックラインが配置される。前記第3領域には、前記第1クロックラインのための複数の第1パワードメインと、前記第2クロックラインのための複数の第2パワードメインとが配置され、前記複数の第1パワードメインの各々には、前記第1クロックをバッファリングする第1バッファが配置され、前記複数の第2パワードメインの各々には、前記第2クロックをバッファリングする第2バッファが配置される。
【発明の効果】
【0007】
本発明によれば、個々のクロックラインのためのパワードメインを設けつつチップ面積の増大を抑制するために有利な技術が提供される。
【図面の簡単な説明】
【0008】
一実施形態の半導体装置の概略構成を示す図。
図1の半導体装置の複数のクロックラインおよび複数の電源ラインを具体化した例を示す図。
図2の一部を拡大した図。
図2の一部を拡大した図。
図2の一部を拡大した図。
パワードメインの構成例を示す断面図。
パワードメインの構成例を示す断面図。
第1パワードメインおよび第2パワードメインの好ましい配置例を説明するための図。
第1パワードメインおよび第2パワードメインの好ましい配置例を説明するための図。
第1パワードメインおよび第2パワードメインの好ましい配置例を説明するための図。
一実施形態の機器の構成を示す図。
【発明を実施するための形態】
【0009】
以下、添付図面を参照して実施形態を詳しく説明する。なお、以下の実施形態は特許請求の範囲に係る発明を限定するものではない。実施形態には複数の特徴が記載されているが、これらの複数の特徴の全てが発明に必須のものとは限らず、また、複数の特徴は任意に組み合わせられてもよい。さらに、添付図面においては、同一若しくは同様の構成に同一の参照番号を付し、重複した説明は省略する。
【0010】
以下、一実施形態の半導体装置100について説明する。図1は、半導体装置100の概略構成を示す図である。図2は、半導体装置100の複数のクロックラインおよび複数の電源ラインを具体化した例を示す図である。図3、図4、図5は、それぞれ図2の一部を拡大した図である。半導体装置100は、電源ノイズ対策のために、個別にパワードメイン(電源領域)が提供された複数のクロックラインとして、第1クロックラインおよび第2クロックラインを有する。半導体装置100は、一例としては、入射光を光電変換した信号を生成する光電変換装置である。光電変換装置の一例として、画像を生成する撮像装置がある。光電変換装置の他の例としては、例えば、測距装置(焦点検出やTOF(Time Of Flight)を用いた距離測定等の装置)、測光装置(入射光量の測定等の装置)などがある。また、半導体装置100は、メモリであってもよい。メモリの例としては、Dynamic Random Access Memory(DRAM)、Static Random Access Memory(SRAM)、フラッシュメモリなどがある。
(【0011】以降は省略されています)

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