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公開番号2025086162
公報種別公開特許公報(A)
公開日2025-06-06
出願番号2023200042
出願日2023-11-27
発明の名称AD変換回路
出願人ローム株式会社
代理人弁理士法人 佐野特許事務所
主分類H03M 3/02 20060101AFI20250530BHJP(基本電子回路)
要約【課題】低歪のAD変換回路を提供する。
【解決手段】AD変換回路(101)は、アナログ入力電圧を1bitデジタル出力データに変換するΔΣ変換器(1)と、AD変換のフルスケールを決めるための基準電圧を出力する基準電圧源(2)と、前記アナログ入力電圧が第1電圧値より低いことを前記1bitデジタル出力データから検出する第1検出回路(31)、及び、前記アナログ入力電圧が第2電圧値より高いことを前記1bitデジタル出力データから検出し前記第2電圧値が前記第1電圧値より高い第2検出回路(32)の少なくとも一方を含む検出回路(3)と、前記検出回路の検出結果に基づき、前記基準電圧を補正し、補正後の前記基準電圧を出力する補正回路(4)と、を備える。前記ΔΣ変換器は、前記補正回路の出力に基づきΔΣ変換を行う。
【選択図】図1
特許請求の範囲【請求項1】
アナログ入力電圧を1bitデジタル出力データに変換するように構成されたΔΣ変換器と、
AD変換のフルスケールを決めるための基準電圧を出力するように構成された基準電圧源と、
前記アナログ入力電圧が第1電圧値より低いことを前記1bitデジタル出力データから検出するように構成された第1検出回路、及び、前記アナログ入力電圧が第2電圧値より高いことを前記1bitデジタル出力データから検出し前記第2電圧値が前記第1電圧値より高いように構成された第2検出回路の少なくとも一方を含む検出回路と、
前記検出回路の検出結果に基づき、前記基準電圧を補正し、補正後の前記基準電圧を出力するように構成された補正回路と、
を備え、
前記ΔΣ変換器は、前記補正回路の出力に基づきΔΣ変換を行うように構成されている、AD変換回路。
続きを表示(約 840 文字)【請求項2】
前記検出回路は、少なくとも前記第1検出回路を含み、
前記第1電圧値及び前記補正回路での補正量を不揮発的に記憶するように構成された不揮発メモリを備える、請求項1に記載のAD変換回路。
【請求項3】
前記検出回路は、少なくとも前記第2検出回路を含み、
前記第2電圧値及び前記補正回路での補正量を不揮発的に記憶するように構成された不揮発メモリを備える、請求項1に記載のAD変換回路。
【請求項4】
前記検出回路は、少なくとも前記第1検出回路を含み、
前記第1検出回路は、前記1bitデジタル出力データが任意の回数連続して0である場合に、前記アナログ入力電圧が前記第1電圧値より低いことを検出するように構成されている、請求項1に記載のAD変換回路。
【請求項5】
前記検出回路は、少なくとも前記第2検出回路を含み、
前記第2検出回路は、前記1bitデジタル出力データが任意の回数連続して1である場合に、前記アナログ入力電圧が前記第2電圧値より高いことを検出するように構成されている、請求項1に記載のAD変換回路。
【請求項6】
前記補正回路は、温度センサの出力に応じて補正量を調整するように構成されている、請求項1~5のいずれか一項に記載のAD変換回路。
【請求項7】
前記ΔΣ変換器は電源電圧によって駆動され、
前記補正回路は、前記電源電圧を監視するように構成された第1モニタ回路の出力に応じて補正量を調整するように構成されている、請求項1~5のいずれか一項に記載のAD変換回路。
【請求項8】
前記ΔΣ変換器はクロック信号に基づき動作し、
前記補正回路は、前記クロック信号の周波数を監視するように構成された第2モニタ回路の出力に応じて補正量を調整するように構成されている、請求項1~5のいずれか一項に記載のAD変換回路。

発明の詳細な説明【技術分野】
【0001】
本開示は、AD変換回路に関する。
続きを表示(約 1,300 文字)【背景技術】
【0002】
近年、様々なアプリケーションでAD変換回路が用いられている。
【0003】
なお、上記に関連する従来技術の一例としては、特許文献1を挙げることができる。
【先行技術文献】
【特許文献】
【0004】
特開2012-134696号公報
【0005】
[概要]
ΔΣ型AD変換回路は、高分解能が必要とされる場合に用いられるAD変換回路であって、歪特性についても高精度(低歪)が求められる。
【0006】
しかしながら、分解能が高くなるにつれて、回路のわずかな非線形性が歪特性に影響し、低歪を実現することが困難になる。
【0007】
本開示に係るAD変換回路は、アナログ入力電圧を1bitデジタル出力データに変換するように構成されたΔΣ変換器と、AD変換のフルスケールを決めるための基準電圧を出力するように構成された基準電圧源と、前記アナログ入力電圧が第1電圧値より低いことを前記1bitデジタル出力データから検出するように構成された第1検出回路、及び、前記アナログ入力電圧が第2電圧値より高いことを前記1bitデジタル出力データから検出し前記第2電圧値が前記第1電圧値より高いように構成された第2検出回路の少なくとも一方を含む検出回路と、前記検出回路の検出結果に基づき、前記基準電圧を補正し、補正後の前記基準電圧を出力するように構成された補正回路と、を備える。前記ΔΣ変換器は、前記補正回路の出力に基づきΔΣ変換を行うように構成されている。
【図面の簡単な説明】
【0008】
図1は、第1実施形態に係るAD変換回路の構成を示す図である。
図2は、アナログ入力電圧及び補正後の基準電圧の波形例を示すタイミングチャートである。
図3は、基準電圧を補正しない場合のアナログ入力電圧とデジタル出力データとの関係の一例を示す図である。
図4は、アナログ入力電圧、基準電圧を補正しない場合の1bitデジタル出力データに対応する電圧、及び補正後の基準電圧を平滑化した電圧の波形例を示すタイミングチャートである。
図5は、ΔΣ変換器の一構成例を示す図である。
図6は、検出回路の一構成例を示す図である。
図7は、補正回路の一構成例を示す図である。
図8は、第2実施形態に係るAD変換回路の構成を示す図である。
【0009】
[詳細な説明]
<第1実施形態>
図1は、第1実施形態に係るAD変換回路101(以下、「AD変換回路101」と称す)の構成を示す図である。AD変換回路101は、ΔΣ変換器1と、基準電圧源2と、検出回路3と、補正回路4と、不揮発性メモリ5と、を備える。
【0010】
ΔΣ変換器1は、アナログ入力電圧AINを1bitデジタル出力データDOUTに変換する。ΔΣ変換器1は、補正回路4から出力される基準電圧VREF2に基づきΔΣ変換を行う。
(【0011】以降は省略されています)

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