特許ウォッチ

公開番号2025009287
公報種別公開特許公報(A)
公開日2025-01-20
出願番号2023112189
出願日2023-07-07
発明の名称計算機、試験項目提示方法、及び試験項目提示プログラム
出願人株式会社日立製作所
代理人弁理士法人湘洋特許事務所
主分類G06F 30/398 20200101AFI20250110BHJP(計算;計数)
要約【課題】複数の製品に対するEMC試験を簡便化する。
【解決手段】1以上のプロセッサと、1以上のメモリリソースと、を有する計算機であって、前記1以上のプロセッサは、第1製品に対するEMC試験をシミュレーションで実行するステップと、第2製品に対する前記EMC試験をシミュレーションで実行するステップと、前記第1製品に対する前記EMC試験のシミュレーション結果と、前記第2製品に対する前記EMC試験のシミュレーション結果とが許容範囲に収まる場合に、前記第1製品と前記第2製品のいずれかを前記EMC試験を行う代表製品として提示するステップと、を実行する計算機。
【選択図】図6
特許請求の範囲【請求項１】
１以上のプロセッサと、１以上のメモリリソースと、を有する計算機であって、
前記１以上のプロセッサは、
第１製品に対するEMC試験をシミュレーションで実行するステップと、
第２製品に対する前記EMC試験をシミュレーションで実行するステップと、
前記第１製品に対する前記EMC試験のシミュレーション結果と、前記第２製品に対する前記EMC試験のシミュレーション結果とが許容範囲に収まる場合に、前記第１製品と前記第２製品のいずれかを前記EMC試験を行う代表製品として提示するステップと、
を実行する計算機。
続きを表示（約 2,000 文字）【請求項２】
請求項１に記載の計算機であって、
前記シミュレーションは、ノイズレベルを算出するシミュレーションであり、
前記許容範囲は、前記第１製品の前記ノイズレベルと前記第２製品の前記ノイズレベルとの差に対する許容範囲である、
計算機。
【請求項３】
請求項２に記載の計算機であって、
前記１以上のプロセッサは、
前記第１製品を構成する複数のコンポーネントをノイズが伝搬する第１伝搬経路を特定するステップと、
前記第２製品を構成する複数のコンポーネントをノイズが伝搬する第２伝搬経路を特定するステップとを実行し、
前記第１製品に対する前記EMC試験を前記シミュレーションで実行するステップにおいて、前記第１伝搬経路に含まれる複数の前記コンポーネントのうちの第１コンポーネントにノイズを印加し、第２コンポーネントにおける前記ノイズレベルを算出し、
前記第２製品に対する前記EMC試験を前記シミュレーションで実行するステップにおいて、前記第２伝搬経路に含まれる複数の前記コンポーネントのうちの第１コンポーネントにノイズを印加して、第２コンポーネントにおける前記ノイズレベルを算出する、
計算機。
【請求項４】
請求項３に記載の計算機であって、
前記第１コンポーネントは、前記EMC試験においてノイズを印加することが定められているコンポーネントである、
計算機。
【請求項５】
請求項３に記載の計算機であって、
前記１以上のプロセッサは、
前記第１伝搬経路を特定するステップにおいて、電磁的に接続される各々の前記コンポーネントを通る伝搬経路を示す伝搬経路情報に基づいて、前記第１製品を構成する前記コンポーネントを接続する経路のうちで、前記伝搬経路に類似した経路を前記第１伝搬経路として特定し、
前記第２伝搬経路を特定するステップにおいて、前記伝搬経路情報に基づいて、前記第２製品を構成する前記コンポーネントを接続する経路のうちで、前記伝搬経路に類似した経路を前記第２伝搬経路として特定する、
計算機。
【請求項６】
請求項５に記載の計算機であって、
前記伝搬経路情報において、不具合が生じるコンポーネントが前記伝搬経路に関連付けられており、
前記第２コンポーネントは、前記不具合が生じるコンポーネントである、
計算機。
【請求項７】
請求項１に記載の計算機であって、
前記第１製品に対する前記EMC試験のシミュレーション結果と、前記第２製品に対する前記EMC試験のシミュレーション結果とが許容範囲に収まらない場合に、前記第１製品と前記第２製品の両方を前記EMC試験を行う製品として提示するステップ、
を更に実行する計算機。
【請求項８】
１以上のプロセッサと、１以上のメモリリソースと、を有する計算機が実行する試験項目提示方法であって、
第１製品に対するEMC試験をシミュレーションで実行するステップと、
第２製品に対する前記EMC試験をシミュレーションで実行するステップと、
前記第１製品に対する前記EMC試験のシミュレーション結果と、前記第２製品に対する前記EMC試験のシミュレーション結果とが許容範囲に収まる場合に、前記第１製品と前記第２製品のいずれかを前記EMC試験を行う代表製品として提示するステップと、
を含む試験項目提示方法。
【請求項９】
請求項８に記載の試験項目提示方法であって、
前記シミュレーションは、ノイズレベルを算出するシミュレーションであり、
前記許容範囲は、前記第１製品の前記ノイズレベルと前記第２製品の前記ノイズレベルとの差に対する許容範囲である、
試験項目提示方法。
【請求項１０】
請求項９に記載の試験項目提示方法であって、
前記第１製品を構成する複数のコンポーネントをノイズが伝搬する第１伝搬経路を特定するステップと、
前記第２製品を構成する複数のコンポーネントをノイズが伝搬する第２伝搬経路を特定するステップとを更に有し、
前記第１製品に対する前記EMC試験を前記シミュレーションで実行するステップにおいて、前記第１伝搬経路に含まれる複数の前記コンポーネントのうちの第１コンポーネントにノイズを印加し、第２コンポーネントにおける前記ノイズレベルを算出し、
前記第２製品に対する前記EMC試験を前記シミュレーションで実行するステップにおいて、前記第２伝搬経路に含まれる複数の前記コンポーネントのうちの第１コンポーネントにノイズを印加して、第２コンポーネントにおける前記ノイズレベルを算出する、
試験項目提示方法。
（【請求項１１】以降は省略されています）
発明の詳細な説明【技術分野】
【０００１】
本発明は、計算機、試験項目提示方法、及び試験項目提示プログラムに関する。
続きを表示（約 1,700 文字）【背景技術】
【０００２】
製品に対する試験として、製品がEMC(Electromagnetic Compatibility)規格を満たしているかを判定するためのEMC試験がある（特許文献１）。EMC規格は、製品から放出された電磁波が他の機器に影響を及ぼすのを規制したり、他の機器から放出された電磁波によって製品の性能低下や誤作動を規制したりするための規格である。エレベータの昇降機や化学分析装置等には仕様が異なる複数の製品が存在する場合がある。この場合、複数の製品ごとにEMC試験を行うことで、各製品がEMC規格を満たしているかを確実に判定できる。
【０００３】
但し、多数の製品の全てに対してEMC試験を行うと、試験コストの上昇や試験時間の長時間化を招いてしまう。これを避けるために、ユーザが複数の製品の中から選択した代表製品に対してEMC試験を行い、それ以外の製品に対してはEMC試験を省くことも考えられる。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００４】
特開２０１３－１８６６８３号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００５】
しかし、ユーザが代表製品を選定する方法では、その選定方法の妥当性や、代表製品以外の製品に対してEMC試験を行わないことの正当性に疑義が残る。
【０００６】
本発明は、このような状況に鑑みてなされたものであり、複数の製品に対するEMC試験を簡便化することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【０００７】
上記課題を解決するため、本発明の一態様に係る計算機は、１以上のプロセッサと、１以上のメモリリソースと、を有する計算機であって、前記１以上のプロセッサは、第１製品に対するEMC試験をシミュレーションで実行するステップと、第２製品に対する前記EMC試験をシミュレーションで実行するステップと、前記第１製品に対する前記EMC試験のシミュレーション結果と、前記第２製品に対する前記EMC試験のシミュレーション結果とが許容範囲に収まる場合に、前記第１製品と前記第２製品のいずれかを前記EMC試験を行う代表製品として提示するステップと、を実行する。
【発明の効果】
【０００８】
本発明によれば、複数の製品に対するEMC試験を簡便化できる。
【０００９】
上記した以外の課題、構成及び効果は、以下の実施形態の説明により明らかにされる。
【図面の簡単な説明】
【００１０】
図１は、本実施形態に係る計算機一例の構成図である。
図２は、本実施形態に係る製品別情報のデータ構造の一例を示す模式図である。
図３は、本実施形態に係る伝搬経路情報のデータ構造の一例を示す模式図である。
図４は、本実施形態に係る実測・解析情報のデータ構造の一例を示す模式図である。
図５は、本実施形態に係る試験情報のデータ構造の一例を示す模式図である。
図６は、本実施形態に係る計算機の機能ブロック図の一例である。
図７は、本実施形態に係る接続モデルの生成方法の一例を示す模式図である。
図８は、本実施形態に係る伝搬経路の一例を示す模式図である。
図９は、本実施形態におけるr個の製品の各々の伝搬経路の一例を示す模式図である。
図１０は、本実施形態におけるノイズレベルの比較結果の一例を示す模式図である。
図１１は、「印加点-p」にノイズを印加するEMC試験項目において、r個の全ての製品に対するシミュレーション結果が許容範囲に収まらないと判定される例を示す模式図である。
図１２は、本実施形態に係る試験仕様作成部が作成した試験仕様の一例の模式図である。
図１３は、本実施形態に係る計算機が行う処理の一例を示すフローチャートである。
【発明を実施するための形態】
（【００１１】以降は省略されています）

関連特許