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公開番号
2024166639
公報種別
公開特許公報(A)
公開日
2024-11-29
出願番号
2023082855
出願日
2023-05-19
発明の名称
半導体受光素子
出願人
住友電気工業株式会社
代理人
個人
,
個人
,
個人
,
個人
,
個人
主分類
H01L
31/10 20060101AFI20241122BHJP(基本的電気素子)
要約
【課題】吸収端波長に近い波長において高い量子効率を有する半導体受光素子を提供する。
【解決手段】半導体受光素子は、インジウムリン基板と、第1導電型の第1III-V族化合物半導体層と、第2導電型の第2III-V族化合物半導体層と、第1III-V族化合物半導体層と第2III-V族化合物半導体層との間に設けられた光吸収層と、を備える。第1III-V族化合物半導体層は、インジウムリン基板と光吸収層との間に設けられる。光吸収層は、タイプIIの超格子構造を有する。超格子構造は、ガリウムインジウムヒ素層およびガリウムヒ素アンチモン層を含む。ガリウムインジウムヒ素層が圧縮歪みを有する。ガリウムヒ素アンチモン層が引っ張り歪みを有する。
【選択図】図3
特許請求の範囲
【請求項1】
インジウムリン基板と、
第1導電型の第1III-V族化合物半導体層と、
第2導電型の第2III-V族化合物半導体層と、
前記第1III-V族化合物半導体層と前記第2III-V族化合物半導体層との間に設けられた光吸収層と、
を備え、
前記第1III-V族化合物半導体層は、前記インジウムリン基板と前記光吸収層との間に設けられ、
前記光吸収層は、タイプIIの超格子構造を有し、
前記超格子構造は、ガリウムインジウムヒ素層およびガリウムヒ素アンチモン層を含み、
前記ガリウムインジウムヒ素層が圧縮歪みを有し、
前記ガリウムヒ素アンチモン層が引っ張り歪みを有する、半導体受光素子。
続きを表示(約 700 文字)
【請求項2】
前記ガリウムインジウムヒ素層のガリウム組成xが0.17以上である、請求項1に記載の半導体受光素子。
【請求項3】
前記ガリウムヒ素アンチモン層のヒ素組成yが0.78以下である、請求項1または請求項2に記載の半導体受光素子。
【請求項4】
前記ガリウムインジウムヒ素層のガリウム組成xが0.46以下である、請求項1または請求項2に記載の半導体受光素子。
【請求項5】
前記ガリウムヒ素アンチモン層のヒ素組成yが0.52以上である、請求項1または請求項2に記載の半導体受光素子。
【請求項6】
前記ガリウムインジウムヒ素層が、n個のガリウムインジウムヒ素単分子層を含み、
前記ガリウムヒ素アンチモン層が、m個のガリウムヒ素アンチモン単分子層を含み、
nおよびmが13以上25以下の整数である、請求項1または請求項2に記載の半導体受光素子。
【請求項7】
前記ガリウムインジウムヒ素層のガリウム組成がxであり、前記ガリウムヒ素アンチモン層のヒ素組成がyであるときに、
y≦1.054x
2
-2.809x+1.594
を満たす、請求項1または請求項2に記載の半導体受光素子。
【請求項8】
前記ガリウムインジウムヒ素層のガリウム組成がxであり、前記ガリウムヒ素アンチモン層のヒ素組成がyであるときに、
y≧0.137x
2
-0.627x+0.775
を満たす、請求項1または請求項2に記載の半導体受光素子。
発明の詳細な説明
【技術分野】
【0001】
本開示は、半導体受光素子に関する。
続きを表示(約 1,800 文字)
【背景技術】
【0002】
非特許文献1は、n型インジウムリン(InP)基板上に、歪み補償されたタイプIIの超格子構造を有するpinフォトダイオードを開示する。超格子構造は、ガリウムインジウムヒ素(GaInAs)層およびガリウムヒ素アンチモン(GaAsSb)層を含む。GaInAs層は引っ張り歪みを有する。GaAsSb層は圧縮歪みを有する。
【0003】
非特許文献2は、n型InP基板上に、歪み補償されたタイプIIの超格子構造を有するpinフォトダイオードを開示する。超格子構造は、GaInAs層およびGaAsSb層を含む。GaInAs層は引っ張り歪みを有する。GaAsSb層は圧縮歪みを有する。
【先行技術文献】
【非特許文献】
【0004】
Baile Chen, et al, "SWIR/MWIRInP-Based p-i-n Photodiodes with InGaAs/GaAsSb Type-II Quantum Wells" IEEEJOURNAL OF QUANTUM ELECTRONICS, VOL. 47, NO. 9, SEPTEMBER 2011
K. Sugimura, et al,"High-performance extended SWIR photodetectors using strain compensatedInGaAs/GaAsSb type-II quantum wells" Proc. SPIE 10926, Quantum Sensing andNano Electronics and Photonics XVI, 109260E (1 February 2019); doi:10.1117/12.2509148
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【0005】
GaInAs層が引っ張り歪みを有し、GaAsSb層が圧縮歪みを有する場合、吸収端波長に近い波長において量子効率が低下することがある。
【0006】
本開示は、吸収端波長に近い波長において高い量子効率を有する半導体受光素子を提供する。
【課題を解決するための手段】
【0007】
本開示の一側面に係る半導体受光素子は、インジウムリン基板と、第1導電型の第1III-V族化合物半導体層と、第2導電型の第2III-V族化合物半導体層と、前記第1III-V族化合物半導体層と前記第2III-V族化合物半導体層との間に設けられた光吸収層と、を備え、前記第1III-V族化合物半導体層は、前記インジウムリン基板と前記光吸収層との間に設けられ、前記光吸収層は、タイプIIの超格子構造を有し、前記超格子構造は、ガリウムインジウムヒ素層およびガリウムヒ素アンチモン層を含み、前記ガリウムインジウムヒ素層が圧縮歪みを有し、前記ガリウムヒ素アンチモン層が引っ張り歪みを有する。
【発明の効果】
【0008】
本開示によれば、吸収端波長に近い波長において高い量子効率を有する半導体受光素子が提供される。
【図面の簡単な説明】
【0009】
図1は、一実施形態に係る半導体受光素子を模式的に示す断面図である。
図2は、図1の半導体受光素子に含まれる光吸収層を模式的に示す断面図である。
図3は、Ga
x
In
1-x
As層のガリウム組成xとGaAs
y
Sb
1-y
層のヒ素組成yとの組み合わせの例を示すグラフである。
図4は、第1実験から第3実験の半導体受光素子の量子効率と波長との関係の例を示すグラフである。
図5は、第1実験の半導体受光素子におけるエネルギーバンド図の一例を示すグラフである。
図6は、第2実験の半導体受光素子におけるエネルギーバンド図の一例を示すグラフである。
図7は、第3実験の半導体受光素子におけるエネルギーバンド図の一例を示すグラフである。
図8は、第4実験の半導体受光素子の量子効率と波長との関係の一例を示すグラフである。
【発明を実施するための形態】
【0010】
[本開示の実施形態の説明]
最初に本開示の実施形態を列記して説明する。
(【0011】以降は省略されています)
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