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公開番号2025116344
公報種別公開特許公報(A)
公開日2025-08-08
出願番号2024010708
出願日2024-01-29
発明の名称位置特定装置、位置特定システム、位置特定方法および位置特定プログラム
出願人太平洋セメント株式会社
代理人IBC一番町弁理士法人
主分類G01S 5/16 20060101AFI20250801BHJP(測定;試験)
要約【課題】デバイスの位置を特定することが可能な位置特定装置、位置特定システム、位置特定方法および位置特定プログラムを提供する。
【解決手段】位置特定装置は、球状または円柱形状を有するとともに第1参照位置に配置された第1参照体と、球状または円柱形状を有するとともに第2参照位置に配置された第2参照体とを利用する。この位置特定装置は、平面に沿って移動するデバイスに搭載された第1光測距センサから、前記第1光測距センサの周囲の第1測距情報を取得する取得部311と、取得された前記第1測距情報の中から、前記第1参照体からの反射光に対応する第1参照情報と、前記第2参照体からの反射光に対応する第2参照情報とを決定する決定部312と、決定された前記第1参照情報および前記第2参照情報と、前記第1参照位置および前記第2参照位置とに基づいて、前記平面における前記第1光測距センサの位置を特定する特定部313とを含む。
【選択図】図8
特許請求の範囲【請求項１】
球状または円柱形状を有するとともに第１参照位置に配置された第１参照体と、球状または円柱形状を有するとともに第２参照位置に配置された第２参照体とを利用する位置特定装置であって、
平面に沿って移動するデバイスに搭載された第１光測距センサから、前記第１光測距センサの周囲の第１測距情報を取得する取得部と、
取得された前記第１測距情報の中から、前記第１参照体からの反射光に対応する第１参照情報と、前記第２参照体からの反射光に対応する第２参照情報とを決定する決定部と、
決定された前記第１参照情報および前記第２参照情報と、前記第１参照位置および前記第２参照位置とに基づいて、前記平面における前記第１光測距センサの位置を特定する特定部と
を備える位置特定装置。
続きを表示（約 1,200 文字）【請求項２】
前記取得部は、前記デバイスにおける前記第１光測距センサの実装位置に関する情報を含むセンサ情報をさらに取得し、
前記特定部は、前記センサ情報と、特定された前記第１光測距センサの位置とに基づいて、前記平面における前記デバイスの位置をさらに特定する請求項１に記載の位置特定装置。
【請求項３】
前記取得部は、前記デバイスに搭載された第２光測距センサから、前記第２光測距センサの周囲の第２測距情報をさらに取得し、
前記決定部は、取得された前記第２測距情報の中から、前記第１参照体からの反射光に対応する第３参照情報と、前記第２参照体からの反射光に対応する第４参照情報とを決定し、
前記特定部は、決定された前記第３参照情報および前記第４参照情報と、前記第１参照位置および前記第２参照位置とに基づいて、前記平面における前記第２光測距センサの位置を特定する請求項２に記載の位置特定装置。
【請求項４】
前記特定部は、さらに、特定された前記第２光測距センサの位置に基づいて、前記平面における前記デバイスの位置を特定する請求項３に記載の位置特定装置。
【請求項５】
特定された前記第１光測距センサおよび前記第２光測距センサ各々の位置を検証する検証部をさらに有する請求項３に記載の位置特定装置。
【請求項６】
前記センサ情報は、前記デバイスにおける前記第１光測距センサと前記第２光測距センサとの間の実装距離に関する情報を含み、
前記検証部は、特定された前記第１光測距センサおよび前記第２光測距センサ各々の位置に基づいて算出される前記第１光測距センサと前記第２光測距センサとの間の算出距離と、前記実装距離とに基づいて、特定された前記第１光測距センサおよび前記第２光測距センサ各々の位置を検証する請求項５に記載の位置特定装置。
【請求項７】
前記取得部は、前記第１参照体および前記第２参照体各々の形状に関する情報を含む参照体情報をさらに取得し、
前記決定部は、前記参照体情報に基づいて、前記第１参照情報および前記第２参照情報を決定する請求項１に記載の位置特定装置。
【請求項８】
特定された前記デバイスの位置に関する位置情報を出力する出力部をさらに有し、
前記取得部は、前記デバイス近傍の前記平面の状態に関する状態情報をさらに取得し、
前記出力部は、前記位置情報と関連付けて前記状態情報を出力する請求項２に記載の位置特定装置。
【請求項９】
前記状態情報は、前記デバイス近傍の前記平面の不具合の有無に関する情報を含む請求項８に記載の位置特定装置。
【請求項１０】
前記平面は構造物の壁面の一部である請求項１に記載の位置特定装置。
（【請求項１１】以降は省略されています）
発明の詳細な説明【技術分野】
【０００１】
本発明は、位置特定装置、位置特定システム、位置特定方法および位置特定プログラムに関する。
続きを表示（約 1,500 文字）【背景技術】
【０００２】
建造物の管理者は、建造物の壁および床等を定期的に点検する必要がある。これは、壁等を構成するモルタルまたはタイル等が落下すると、事故につながるおそれがあるためである。壁等の点検者は、たとえば、点検用のデバイスを壁等に沿って移動させながら、各位置でのモルタルまたはタイル等の不具合の有無を確認する（たとえば、特許文献１）。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００３】
特開２０２１－１２４２８７８７号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００４】
このような点検作業では、点検が行われている位置、即ち、壁等における点検用のデバイスの位置を特定することが望ましい。デバイスの位置を特定することにより、たとえば、不具合が発見されたタイル等の位置を容易に把握し、事故予防措置や修繕作業に活用することが可能となる。一方、壁等は平坦で一様な外観である場合が多く、近傍の物体や壁等の模様などの特徴を参照してデバイスの位置を特定することが難しいという課題があった。
【０００５】
本発明は、上記問題に鑑みてなされたものである。したがって、本発明の目的は、デバイスの位置を特定することが可能な位置特定装置、位置特定システム、位置特定方法および位置特定プログラムを提供することである。
【課題を解決するための手段】
【０００６】
本発明の上記目的は、下記によって達成される。
【０００７】
（１）球状または円柱形状を有するとともに第１参照位置に配置された第１参照体と、球状または円柱形状を有するとともに第２参照位置に配置された第２参照体とを利用する位置特定装置であって、平面に沿って移動するデバイスに搭載された第１光測距センサから、前記第１光測距センサの周囲の第１測距情報を取得する取得部と、取得された前記第１測距情報の中から、前記第１参照体からの反射光に対応する第１参照情報と、前記第２参照体からの反射光に対応する第２参照情報とを決定する決定部と、決定された前記第１参照情報および前記第２参照情報と、前記第１参照位置および前記第２参照位置とに基づいて、前記平面における前記第１光測距センサの位置を特定する特定部とを備える位置特定装置。
【０００８】
（２）前記取得部は、前記デバイスにおける前記第１光測距センサの実装位置に関する情報を含むセンサ情報をさらに取得し、前記特定部は、前記センサ情報と、特定された前記第１光測距センサの位置とに基づいて、前記平面における前記デバイスの位置をさらに特定する上記（１）に記載の位置特定装置。
【０００９】
（３）前記取得部は、前記デバイスに搭載された第２光測距センサから、前記第２光測距センサの周囲の第２測距情報をさらに取得し前記決定部は、取得された前記第２測距情報の中から、前記第１参照体からの反射光に対応する第３参照情報と、前記第２参照体からの反射光に対応する第４参照情報とを決定し、前記特定部は、決定された前記第３参照情報および前記第４参照情報と、前記第１参照位置および前記第２参照位置とに基づいて、前記平面における前記第２光測距センサの位置を特定する上記（２）に記載の位置特定装置。
【００１０】
（４）前記特定部は、さらに、特定された前記第２光測距センサの位置に基づいて、前記平面における前記デバイスの位置を特定する上記（３）に記載の位置特定装置。
（【００１１】以降は省略されています）

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