TOP特許意匠商標
特許ウォッチ Twitter
10個以上の画像は省略されています。
公開番号2025109507
公報種別公開特許公報(A)
公開日2025-07-25
出願番号2024003440
出願日2024-01-12
発明の名称外観検査装置及び外観検査方法
出願人東芝ユニファイドテクノロジーズ株式会社
代理人弁理士法人鈴榮特許綜合事務所
主分類G01N 21/88 20060101AFI20250717BHJP(測定;試験)
要約【課題】検査対象物の複数の面を検査する場合において、検査時間を短縮できる外観検査装置を提供する。
【解決手段】一実施形態に係る外観検査装置は、第1の撮像装置、3つ以上の第1の照明装置、第2の撮像装置、3つ以上の第2の照明装置、制御部、及び画像処理部を備える。制御部は、第1の照明装置のうちの1つからの光を検査対象物に当てた状態で第1の撮像装置で検査対象物の第1面を撮像する第1撮影処理、及び第2の照明装置のうちの1つからの光を検査対象物に当てた状態で第2の撮像装置で検査対象物の第2面を撮像する第2撮影処理を交互に行うことで、第1の撮像装置から第1の画像セット及び第2の撮像装置から第2の画像セットを得る。画像処理部は、第1の画像セットに基づいて検査対象物の第1面を検査し、第2の画像セットに基づいて検査対象物の第2面を検査する。
【選択図】図1


特許請求の範囲【請求項1】
検査対象物の第1面を撮像する第1の撮像装置と、
複数の第1の照明方向から前記検査対象物の前記第1面に対して照明光を照射する複数の第1の照明装置と、
前記検査対象物の第2面を撮像する第2の撮像装置と、
複数の第2の照明方向から前記検査対象物の前記第2面に対して照明光を照射する複数の第2の照明装置と、
前記複数の第1の照明装置のうちの1つからの照明光を前記検査対象物の前記第1面に当てた状態で前記第1の撮像装置で前記検査対象物の前記第1面を撮像する第1撮影処理、及び前記複数の第2の照明装置のうちの1つからの照明光を前記検査対象物の前記第2面に当てた状態で前記第2の撮像装置で前記検査対象物の前記第2面を撮像する第2撮影処理を交互に行うことで、前記複数の第1の照明方向のそれぞれから照明光を当てた状態で前記第1の撮像装置により得られる複数の画像を含む第1の画像セット及び前記複数の第2の照明方向のそれぞれから照明光を当てた状態で前記第2の撮像装置により得られる複数の画像を含む第2の画像セットを得る制御部と、
前記第1の画像セットに基づいて前記検査対象物の前記第1面を検査し、前記第2の画像セットに基づいて前記検査対象物の前記第2面を検査する画像処理部と、
を備える外観検査装置。
続きを表示(約 1,500 文字)【請求項2】
前記第1撮影処理における前記第1の撮像装置の露光中は、前記複数の第1の照明装置のうちの1つを点灯し、前記複数の第1の照明装置のうちの残り及び前記複数の第2の照明装置を点灯しない、
前記第2撮影処理における前記第2の撮像装置の露光中は、前記複数の第2の照明装置のうちの1つを点灯し、前記複数の第2の照明装置のうちの残り及び前記複数の第1の照明装置を点灯しない、
請求項1に記載の外観検査装置。
【請求項3】
前記複数の第1の照明装置から照射される照明光を検出する第1の光センサと、
前記複数の第2の照明装置から照射される照明光を検出する第2の光センサと、
をさらに備え、
前記制御部は、前記第1の光センサからの出力に基づいて前記第1撮影処理中に前記複数の第1の照明装置のうちの1つが消灯したことを検出したことに応答して、前記第2撮影処理を開始し、前記第2の光センサからの出力に基づいて前記第2撮影処理中に前記複数の第2の照明装置のうちの1つが消灯したことを検出したことに応答して、前記第1撮影処理を開始する、
請求項1に記載の外観検査装置。
【請求項4】
前記複数の第1の照明装置から照射される照明光が前記第2の光センサに到達することを阻止し、前記複数の第2の照明装置から照射される照明光が前記第1の光センサに到達することを阻止する遮光板をさらに備える請求項3に記載の外観検査装置。
【請求項5】
前記複数の第1の照明装置は、3つ以上の第1の照明方向から前記検査対象物の前記第1面に対して照明光を照射する3つ以上の第1の照明装置を含み、
前記複数の第2の照明装置は、3つ以上の第2の照明方向から前記検査対象物の前記第2面に対して照明光を照射する3つ以上の第2の照明装置を含み、
前記制御部は、前記第1撮影処理及び前記第2撮影処理を交互に行うことで、前記3つ以上の第1の照明方向のそれぞれから照明光を当てた状態で前記第1の撮像装置により得られる3枚以上の画像を含む前記第1の画像セット及び前記3つ以上の第2の照明方向のそれぞれから照明光を当てた状態で前記第2の撮像装置により得られる3枚以上の画像を含む前記第2の画像セットを得て、
前記制御部は、照度差ステレオ法で前記第1の画像セットに基づいて前記検査対象物の前記第1面を検査し、前記照度差ステレオ法で前記第2の画像セットに基づいて前記検査対象物の前記第2面を検査する、
請求項1に記載の外観検査装置。
【請求項6】
複数の第1の照明方向から検査対象物の第1面に対して照明光を照射する複数の第1の照明装置のうちの1つからの照明光を前記検査対象物の前記第1面に当てた状態で第1の撮像装置で前記検査対象物の前記第1面を撮像する第1撮影処理、及び複数の第2の照明方向から前記検査対象物の第2面に対して照明光を照射する複数の第2の照明装置のうちの1つからの照明光を前記検査対象物の前記第2面に当てた状態で第2の撮像装置で前記検査対象物の前記第2面を撮像する第2撮影処理を交互に行うことで、前記複数の第1の照明方向のそれぞれから照明光を当てた状態で前記第1の撮像装置により得られる複数の画像を含む第1の画像セット及び前記複数の第2の照明方向のそれぞれから照明光を当てた状態で前記第2の撮像装置により得られる複数の画像を含む第2の画像セットを得ることと、
前記第1の画像セットに基づいて前記検査対象物の前記第1面を検査することと、
前記第2の画像セットに基づいて前記検査対象物の前記第2面を検査することと、
を備える外観検査方法。

発明の詳細な説明【技術分野】
【0001】
本発明の実施形態は、外観検査装置及び外観検査方法に関する。
続きを表示(約 1,700 文字)【背景技術】
【0002】
微妙な凹凸がある欠陥を検出する外観検査を行う際に、照度差ステレオ法が用いられている(例えば特許文献1を参照)。照度差ステレオ法を用いる外観検査では、3以上の方向のそれぞれから照明光を当てて撮像した3以上の画像を合成し、合成画像から面の法線を求めて面の法線の傾きを表す法線画像を生成し、法線画像に基づいて検査対象物の外観検査を行う。
【0003】
また、検査対象物の複数の面に対する検査を一回の検査で行うことがある。この場合、各面に対応してカメラ及び3以上の照明装置を用意し、照明装置を順次に点灯してカメラで撮影する操作をそれぞれの面について順次に行う。
【先行技術文献】
【特許文献】
【0004】
特許第6650986号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【0005】
カメラ及び照明装置にトリガーを与えるタイミングはそれぞれの撮影が完了した後になり、撮影を並列に行うことができないので、トータルの撮影に多くの時間がかかり、よって、検査時間が長くなってしまう。
【0006】
本発明が解決しようとする課題は、検査対象物の複数の面を検査する場合において、検査時間を短縮できる技術を提供することである。
【課題を解決するための手段】
【0007】
一実施形態に係る外観検査装置は、第1の撮像装置、複数の第1の照明装置、第2の撮像装置、複数の第2の照明装置、制御部、及び画像処理部を備える。第1の撮像装置は、検査対象物の第1面を撮像する。複数の第1の照明装置は、複数の第1の照明方向から前記検査対象物の前記第1面に対して照明光を照射する。第2の撮像装置は、前記検査対象物の第2面を撮像する。複数の第2の照明装置は、複数の第2の照明方向から前記検査対象物の前記第2面に対して照明光を照射する。制御部は、前記複数の第1の照明装置のうちの1つからの照明光を前記検査対象物の前記第1面に当てた状態で前記第1の撮像装置で前記検査対象物の前記第1面を撮像する第1撮影処理、及び前記複数の第2の照明装置のうちの1つからの照明光を前記検査対象物の前記第2面に当てた状態で前記第2の撮像装置で前記検査対象物の前記第2面を撮像する第2撮影処理を交互に行うことで、前記複数の第1の照明方向のそれぞれから照明光を当てた状態で前記第1の撮像装置により得られる複数の画像を含む第1の画像セット及び前記複数の第2の照明方向のそれぞれから照明光を当てた状態で前記第2の撮像装置により得られる複数の画像を含む第2の画像セットを得る。画像処理部は、前記第1の画像セットに基づいて前記検査対象物の前記第1面を検査し、前記第2の画像セットに基づいて前記検査対象物の前記第2面を検査する。
【発明の効果】
【0008】
本発明によれば、検査対象物の複数の面を検査する場合において、検査時間を短縮できる技術を提供することができる。
【図面の簡単な説明】
【0009】
実施形態に係る外観検査装置を示す機能ブロック図。
実施形態に係る外観検査装置の一部を示す斜視図。
実施形態に係る撮影シーケンスを示す図。
従来技術に係る撮影シーケンスを示す図。
実施形態に係る検査シーケンスを示す図。
従来技術に係る検査シーケンスを示す図。
実施形態に係る、遮光板を備える外観検査装置を示す図。
図2に示した情報処理部を実現し得るコンピュータを示すブロック図。
他の実施形態に係る外観検査装置の一部を示す斜視図。
さらなる実施形態に係る外観検査装置の一部及び撮影シーケンスを示す図。
さらなる実施形態に係る検査シーケンスを示す図。
従来技術に係る撮影シーケンスを示す図。
従来技術に係る検査シーケンスを示す図。
【発明を実施するための形態】
【0010】
以下、図面を参照しながら実施形態を説明する。
(【0011】以降は省略されています)

この特許をJ-PlatPatで参照する

関連特許

ユニパルス株式会社
力変換器
10日前
三菱電機株式会社
計測器
4日前
横浜ゴム株式会社
音響窓
12日前
日置電機株式会社
測定装置
11日前
IPU株式会社
距離検出装置
10日前
株式会社FRPカジ
FRP装置
今日
株式会社東芝
センサ
13日前
大和製衡株式会社
組合せ計量装置
今日
富士レビオ株式会社
嵌合システム
3日前
本多電子株式会社
超音波ソナー装置
5日前
富士電機株式会社
半導体パッケージ
6日前
アズビル株式会社
火炎状態判定装置
11日前
トヨタ自動車株式会社
表面傷の検査方法
12日前
トヨタ自動車株式会社
データの補正方法
5日前
已久工業股ふん有限公司
空気圧縮機構造
13日前
東ソー株式会社
クロマトグラムの形状判定方法
6日前
大豊建設株式会社
直線精度測定装置
今日
大豊建設株式会社
鉛直精度測定装置
今日
アクト電子株式会社
レーザドップラ速度計
今日
愛知時計電機株式会社
超音波流量計
10日前
本田技研工業株式会社
外界認識装置
今日
ミネベアミツミ株式会社
ひずみゲージ
11日前
株式会社アイシン
運転支援装置
6日前
株式会社アイシン
運転支援装置
5日前
DICプラスチック株式会社
検体採取具
11日前
株式会社アイシン
運転支援装置
5日前
株式会社イシダ
組合せ計量装置
11日前
日本特殊陶業株式会社
センサ素子及びガスセンサ
12日前
湖州久鼎電子有限公司
磁界センサ及びその測定方法
6日前
株式会社エアレックス
アイソレーター秤量システム
4日前
花王株式会社
酵素センサー
10日前
株式会社JVCケンウッド
車載装置およびプログラム
12日前
富士通株式会社
転倒検出方法及び装置
4日前
フィガロ技研株式会社
NDIRフレオンセンサ
6日前
TDK株式会社
評価方法、及び評価装置
5日前
花王株式会社
人肌又は模擬肌の触感に関する評価方法
4日前
続きを見る