商標ウォッチ

TOP｜特許｜意匠｜商標

商標ウォッチ Twitter

公開日2025-03-13
公報種別公開商標公報
出願番号2025022859
出願日2025-03-05
区分第9類(機械器具)
商品役務測定機械器具,電子応用機械器具及びその部品,半導体集積回路及び半導体基板の検査及び試験装置,理化学機械器具,半導体ウエハ検査装置,半導体ウェハーの試験装置,半導体の電気的特性検査装置,半導体集積回路の電気的特性検査装置
出願人株式会社日本マイクロニクス,KABUSHIKI KAISHA NIHON MICRONICS
代理人個人,個人,個人
OCRテキストピピメCelyze
OCRテキスト2
OCRについて

この商標をJ-PlatPatで参照する

関連商標

株式会社日本マイクロニクス

マルホ株式会社

株式会社大林組

株式会社アクティブブレインズ

株式会社ヴィタ

深セン柏梨辰科技有限公司

株式会社WDS

株式会社PILLAR

株式会社PILLAR

マルホ株式会社

マルホ株式会社

マルホ株式会社

マルホ株式会社

フモト・トレーディング株式会社

マルホ株式会社

ワーナーブラザーズエンターテインメントインコーポレイテッド

エイベックス株式会社

理想科学工業株式会社

ベストエックスリミテッド

株式会社WHERE

インフロニア・ホールディングス株式会社

株式会社データホライゾン

株式会社ルーフィ

株式会社大林組

日本工営エナジーソリューションズ株式会社

株式会社ルーフィ

株式会社みずほフィナンシャルグループ

株式会社日本宝くじシステム

株式会社バンダイナムコエンターテインメント

株式会社トラス

深せん市沃斯托克科技有限公司

スタリイテックピイテイワイエルティイディイ

続きを見る