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公開日2025-07-23
公報種別公開商標公報
出願番号2025079473
出願日2025-07-14
区分第9類(機械器具),第37類(建設)
商品役務測定機械器具,半導体試験用プローブ,半導体試験装置,半導体の電気的特性検査装置,半導体集積回路の電気的特性検査装置,半導体ウェハーの試験装置,半導体ウエハ検査装置,測定機械器具の修理又は保守,半導体集積回路の電気的特性検査装置の修理又は保守,半導体の検査及び試験装置の修理又は保守,半導体集積回路及び半導体基板の検査及び試験装置の修理又は保守
出願人株式会社日本マイクロニクス,KABUSHIKI KAISHA NIHON MICRONICS
代理人個人,個人,個人
OCRテキストMJC YOUR Best Partner, MJC Anytime Anywhere
OCRテキスト2MJCYOURBestPartner, MJCAnytimeAnywhere
OCRについて
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