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公開日2025-09-05
公報種別公開商標公報
出願番号2025098691
出願日2025-08-28
区分第9類(機械器具)
商品役務半導体試験装置,半導体ウェハー検査装置,半導体ウェハー検査用機械及び装置,半導体ウェハー検査用機械装置,半導体パッケージ検査用電子応用機械器具及び装置,半導体ウェハーにおける超微細な欠陥の検査・分析・検出用の装置,測定機械器具,電気磁気測定器,電気通信機械器具,コンピュータ,電子応用機械器具
出願人ネクスティン,インコーポレイテッド
代理人弁理士法人一色国際特許事務所
OCRテキストASPER
OCRテキスト2
OCRについて
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